[發明專利]一種基于配置詞典的FPGA測試配置分析評價方法

有效

• 申請號: 201110161031.1
• 申請日: 2011-06-15
• 公開（公告）號: CN102830345B
• 公開（公告）日: 2017-03-22
• 發明（設計）人: 楊海鋼;周發標;秋小強;王飛
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 周國城

1.一種基于配置詞典的FPGA測試配置分析評價方法，用于現場可編程門陣列測試配置，其特征在于：包含以下步驟：

1)建立現場可編程門陣列基本可編程單元的配置詞典；

2)根據測試配置測試的資源，建立測試配置的分析模板；

3)建立對應于分析模板的配置詞典；

4)采用模板化的方法并行對測試配置進行分析處理；

5)根據分析處理的結果，對測試配置的完備性進行評價，并分析該組測試配置所有可測和不可測的資源。

2.如權利要求1所述的測試配置分析評價方法，其特征在于：所述現場可編程門陣列中基本可編程單元的配置詞典，由基本可編程單元測試時必須要包含測試配置以及每組配置對應可測的故障構成，用于對基本可編程單元配置碼的完備性進行評價；測試配置的分析方法，包含建立所有基本可編程單元的配置詞典的步驟。

3.如權利要求1所述的測試配置分析評價方法，其特征在于：所述2)步中測試配置分析模板，以現場可編程門陣列的功能單元為基礎，并對應于測試配置測試的資源；現場可編程門陣列中各模塊的功能不同，且相對獨立，測試時大多分開進行，測試時專用的測試配置只針對特定的資源進行測試，根據測試配置測試的資源建立不同的模板，以靈活分析不同資源的測試配置。

4.如權利要求1所述的測試配置分析評價方法，其特征在于：所述3)步中對應于分析模板的配置詞典，以基本可編程單元的配置詞典為基礎，同時考慮模板內基本可編程單元的可測性；模板內的配置詞典用以對模板配置碼的完備性進行評價，并根據完備性評價的結果決定分析模板內可測和不可測的資源。

5.如權利要求1所述的測試配置分析評價方法，其特征在于：所述4)步中模板化的方法，是利用現場可編程門陣列重復陣列結構的特點，通過模板的復用實現對整個測試配置的分析處理；所有模板的分析并行進行，從而減少了所述方法的運行時間。

6.如權利要求1所述的測試配置分析評價方法，其特征在于：所述5)步中評價測試配置的完備性，根據測試配置對FPGA中所有基本可編程單元要測試的配置碼的覆蓋情況，對該組測試配置的完備性進行評價；或根據配置詞典中配置碼對應的故障模型，計算測試配置能達到的故障覆蓋率。