[發明專利]電荷丟失校正

無效

• 申請號: 201110160505.0
• 申請日: 2011-06-03
• 公開（公告）號: CN102331586A
• 公開（公告）日: 2012-01-25
• 發明（設計）人: K·A·萬格林;李文;杜巖峰;F·H·詹森
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01T1/161
• 分類號: G01T1/161;A61B6/03
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 柯廣華;朱海煜

1.一種用于校正輻射檢測器(12)中的電荷丟失的方法，其包括步驟：

從所述輻射檢測器(12)采集(56)一個或多個陽極信號(64)和陰極信號(66)，其中所述一個或多個陽極信號(64)和陰極信號(66)響應于與所述輻射檢測器(12)的伽瑪射線相互作用(48)而出現；

確定與所述輻射檢測器(12)的伽瑪射線相互作用(48)的相互作用深度(82)；

確定關于所述一個或多個陽極(44)的伽瑪射線相互作用(48)的橫向位置；

將所述一個或多個陽極信號(64)基于所述相互作用深度(82)和橫向位置分類到多個譜中之一中；

基于所述一個或多個陽極信號(64)和所述一個或多個陽極信號(64)的預期值之間的差別確定(96)校正因數(98)。

2.如權利要求1所述的方法，其中確定(96)所述校正因數(98)包括以下其中之一：確定所述一個或多個陽極信號(64)和所述一個或多個陽極信號(64)的預期值之間的偏離、確定譜中平均峰高的比率，或確定用于擬合預期和觀察能譜的倍增因數。

3.如權利要求1所述的方法，其中確定所述相互作用深度(82)包括使用所述陰極信號(66)和陽極信號(64)的比率計算(80)所述相互作用深度(82)。

4.如權利要求1所述的方法，其中確定所述相互作用深度(82)包括使用時序數據(68)計算所述相互作用深度(82)。

5.一種成像系統，其包括：

輻射檢測器(12)，其包括直接轉換材料(40)、設置在所述直接轉換材料(40)的第一表面上的一個或多個陰極電極(42)和設置在所述直接轉換材料(40)的第二表面上的多個陽極電極(44)；

與所述一個或多個陰極電極(42)和所述多個陽極電極(44)通信的數據采集電路(14)；

與所述數據采集電路(14)通信的信號處理電路(16)；以及

配置成控制所述數據采集電路(14)和所述信號處理電路(16)中的一個或二者的操作并且與其通信的操作員工作站(26)；

其中所述數據采集電路(14)、所述信號處理電路(16)或所述操作員工作站(26)中的一個或多個配置成執行代碼，其當執行時進行下列：

處理測量的信號數據集(64、66)；

訪問適合校正由于在所述陽極電極(44)中的兩個或更多之間分流或丟失到分開相應陽極電極(44)的間隙(46)引起的電荷丟失的一個或多個校正因數；以及

應用(308)所述一個或多個校正因數于所述測量的信號數據集以產生校正了電荷丟失的校正信號數據集。

6.如權利要求5所述的成像系統，其中所述直接轉換材料(40)包括碲化鎘鋅或其他適合的半導體。

7.如權利要求5所述的成像系統，其中所述一個或多個校正因數基于所述輻射檢測器(12)內的相應電荷產生事件的相互作用深度(82)和橫向位點來訪問。

8.如權利要求5所述的成像系統，其中訪問所述一個或多個校正因數包括訪問其中存儲校正因數的查找表或其他存儲器位點。

9.如權利要求5所述的成像系統，其中所述一個或多個校正因數從描述基于相互作用深度(82)和橫向取向所預期的電荷丟失的校準曲線(304)導出。

10.如權利要求5所述的成像系統，其中應用(308)所述一個或多個校正因數包括調節所述測量的信號數據中的一些或所有以對應于在沒有電荷丟失的情況下預期由所述陽極電極(44)看到的信號量。