[發(fā)明專利]一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110157551.5 | 申請(qǐng)日: | 2011-06-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102311029A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戴鵬;姜建國;伍小杰;左東升;吳瑋;王貴峰;于月森;朱玉瓊;李鵬;趙文翰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國礦業(yè)大學(xué);徐州寶迪電氣有限公司 |
| 主分類號(hào): | B66B5/10 | 分類號(hào): | B66B5/10 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 唐惠芬 |
| 地址: | 221116 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提升 重載 下放 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)裝置,其特征是:它包括檢測(cè)電路、轉(zhuǎn)矩檢測(cè)處理器和控制處理電路,檢測(cè)電路的輸出端與轉(zhuǎn)矩檢測(cè)處理器的輸入端連接,轉(zhuǎn)矩檢測(cè)處理器的輸出端與控制處理電路的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)裝置,其特征是:所述的檢測(cè)電路包括:主井提升機(jī)、轉(zhuǎn)矩轉(zhuǎn)速傳感器、第一光電隔離電路、第二光電隔離電路,轉(zhuǎn)矩轉(zhuǎn)速傳感器連接在主井提升機(jī)的轉(zhuǎn)子上,轉(zhuǎn)矩轉(zhuǎn)速傳感器分別通過第一光電隔離電路和第二光電隔離電路與轉(zhuǎn)矩檢測(cè)電路連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)裝置,其特征是:所述的轉(zhuǎn)矩檢測(cè)處理器由轉(zhuǎn)矩給定,微分器,第一減法器、第二減法器,標(biāo)幺化環(huán)節(jié)組成;主井提升機(jī)的轉(zhuǎn)矩信號(hào)和轉(zhuǎn)速信號(hào)分別送入第一減法器和微分器,第一減法器的另一輸入量是轉(zhuǎn)矩給定;第一減法器將這兩個(gè)輸入量作減法,檢測(cè)轉(zhuǎn)矩與預(yù)給轉(zhuǎn)矩的差值連接第二減法器,轉(zhuǎn)速信號(hào)通過微分器連接標(biāo)幺化環(huán)節(jié),標(biāo)幺化環(huán)節(jié)輸出也連接到第二減法器,經(jīng)過減法運(yùn)算,最后得到的信號(hào)即時(shí)負(fù)載轉(zhuǎn)矩信號(hào)X1。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)裝置,其特征是:所述的控制處理電路包括比較電路、定時(shí)器電路、RS觸發(fā)器電路、單片機(jī)、電源電路、時(shí)鐘電路、復(fù)位電路和JTAG接口電路;負(fù)載轉(zhuǎn)矩信號(hào)X1連接比較電路的2腳,轉(zhuǎn)矩設(shè)定值連接比較電路的3腳,6腳作為比較器的輸出;比較電路的6腳與定時(shí)器電路的輸入端連接;定時(shí)器電路的輸出連接RS觸發(fā)器電路的輸入,RS觸發(fā)器電路的復(fù)位端連接故障復(fù)位R1,RS觸發(fā)器的輸出端與監(jiān)控器連接。
5.一種主井提升機(jī)重載下放檢測(cè)方法,其特征是將轉(zhuǎn)矩檢測(cè)電路、速度檢測(cè)電路安裝在主井提升機(jī)的轉(zhuǎn)子上,測(cè)出提升機(jī)轉(zhuǎn)子的轉(zhuǎn)矩和轉(zhuǎn)速,經(jīng)過光電隔離電路之后,輸入至轉(zhuǎn)矩檢測(cè)處理器環(huán)節(jié);檢測(cè)處理環(huán)節(jié)包括減法器電路、微分電路、標(biāo)幺化模塊;轉(zhuǎn)矩檢測(cè)值和預(yù)給轉(zhuǎn)矩模塊的值連接減法器的輸入;速度檢測(cè)器檢測(cè)出速度后,輸入到微分模塊得到了加速度;為了較好的與其他模塊兼容,得到的加速度經(jīng)過標(biāo)幺化模塊標(biāo)幺后與第一減法器的輸出連接到第二減法器的輸入端;第二減法器的輸出與設(shè)定的值接入比較器的兩個(gè)輸入端,比較器對(duì)輸入的值比較并輸出至延時(shí)觸發(fā)環(huán)節(jié),延時(shí)觸發(fā)器的輸出連接至單片機(jī)處理單元;單片機(jī)處理器電路中的電源電路為單片機(jī)提供工作電壓,其中EC2為輸出濾波電容;時(shí)鐘電路的12MHz有源晶振兩端分別連接到連接單片機(jī)的XTAL1和XTAL2管腳,晶振兩端還分別連接C1、C2后接地;復(fù)位電路用于上電復(fù)位;JTAG接口電路的1、7、9號(hào)端子分別與單片機(jī)的P1.5、P1.7、P1.6相連,5號(hào)與端子單片機(jī)的RST管腳相連。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國礦業(yè)大學(xué);徐州寶迪電氣有限公司,未經(jīng)中國礦業(yè)大學(xué);徐州寶迪電氣有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110157551.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





