[發(fā)明專利]標(biāo)準(zhǔn)單元時序數(shù)據(jù)測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110154869.8 | 申請日: | 2011-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN102254062A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙德益;裴茹霞;張洵穎;吳龍勝;唐威;汪西虎;岳紅菊;宋森 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航天科技集團(tuán)公司第九研究院第七七一研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 陸萬壽 |
| 地址: | 710054 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 標(biāo)準(zhǔn) 單元 時序 數(shù)據(jù) 測試 方法 | ||
1.標(biāo)準(zhǔn)單元時序數(shù)據(jù)測試方法,其特征在于:外接時鐘信號CLK_IN與外接時鐘選擇信號OSC_sel分別接入時鐘自產(chǎn)生模塊,時鐘自產(chǎn)生模塊的輸出CLK_out連接測試邏輯電路的時鐘端LOGIC_clk,可測試性結(jié)構(gòu)設(shè)計模塊產(chǎn)生的測試激勵TEST_in與測試邏輯電路連接,測試邏輯電路根據(jù)測試激勵TEST_in產(chǎn)生的結(jié)果數(shù)據(jù)TEST_out輸出至可測性結(jié)構(gòu)設(shè)計模塊,以確定測試邏輯電路工作的正確性。
2.如權(quán)利要求1所述標(biāo)準(zhǔn)單元時序數(shù)據(jù)測試方法,其特征在于:所述時鐘自產(chǎn)生模塊,包括用于時鐘產(chǎn)生的環(huán)振陣列OSC_ARRAY和用于多路時鐘選則的時鐘選則電路MUX;其中,環(huán)振陣列OSC_ARRAY的x路輸出OSC_out[1:x]分別接入MUX的x個輸入端IN_[2:x+1],y路OSC_sel信號分別連接MUX的y個選擇端sel[1:y],CLK_IN連接MUX的輸入端IN_1;
OSC_ARRAY模塊結(jié)構(gòu)由x個環(huán)振邏輯OSC_TYPE組成,輸出x個時鐘信號OSC_out[1:x];其中,OSC_TYPE實現(xiàn)基于振蕩電路產(chǎn)生時鐘信號,其結(jié)構(gòu)由n個反相器INV,按照串行連接,組成一個環(huán)振電路,其中,n表示環(huán)振的級數(shù);通過改變護(hù)環(huán)振的級數(shù)n,可構(gòu)成不同的輸出時鐘信號OSC_out;其中OSC_TYPE?a、OSC_TYPE?b以及OSC_TYPEd分別表示不同級數(shù)的環(huán)振邏輯;
MUX模塊結(jié)構(gòu)實現(xiàn)時鐘信號的選擇,其中,外接時鐘CLK_IN連接MUX的輸入端IN_1,OSC_ARRAY的x個輸出OSC_out[1:x]分別連接MUX的x個輸入端IN_[2:x+1],y外接選擇信號OSC_sel[1:y],分別連接MUX的y的選擇端sel[1:y];由OSC_sel[1:y],選擇x個輸入信號IN_[1:x]中的某一個輸出致MUX_out,由此實現(xiàn)為測試邏輯模塊提供一個可調(diào)頻率的時鐘。
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