[發明專利]旋轉軸相位差標定系統

有效

• 申請號: 201110151891.7
• 申請日: 2011-06-08
• 公開（公告）號: CN102253243A
• 公開（公告）日: 2011-11-23
• 發明（設計）人: 靳鴻;馬鐵華;張紅艷;張艷兵;裴東興;王燕;沈大偉;劉飛;付永樂
• 申請（專利權）人: 中北大學
• 主分類號: G01P21/02
• 分類號: G01P21/02;G01L25/00
• 代理公司: 北京太兆天元知識產權代理有限責任公司 11108
• 代理人: 傅權;趙水茂

1.一種旋轉軸標定系統，用于標定測量旋轉軸轉速的儀器或裝置，特征在于：該標定系統包括有：一臺電機及其驅動的旋轉軸、固定旋轉軸的支架及支架上安裝的套筒A。

2.根據權利要求1所述的旋轉軸標定系統，特征在于：

a.所述的旋轉軸的前端與電機軸通過聯軸器連接在同軸線上；

b.所述的旋轉軸的中部可轉動地設置或安裝在支架上；

c.所述的支架上安裝的套筒A由安裝在支架上的外筒A與靠隨動套A安裝在旋轉軸上的內筒A組成。

3.根據權利要求1所述的旋轉軸標定系統，特征在于：該標定系統的標定步驟或標定過程是：①.當該標定系統對測量旋轉軸轉速的儀器或裝置進行轉速標定時，旋動電機旋鈕，電機顯示面板上就會顯示一個設定轉速值給安裝在支架上的被標定部分的測量旋轉軸轉速的儀器或裝置；②.啟動電機按設定轉速值旋轉，旋轉軸就會提供一個電機旋轉軸的測量轉速值給安裝在支架上的被標定部分的測量旋轉軸轉速的儀器或裝置；③.重復①.、②.步驟或過程，對安裝在支架上的被標定部分的測量旋轉軸轉速的儀器或裝置提供了多組標定與測量的旋轉軸轉速值數據，按標定規定需要對多組標定與測量的轉速值數據處理，從而對測量旋轉軸轉速的儀器或裝置進行了標定。

4.一種旋轉軸相位差標定系統，用于標定測量旋轉軸相位差的儀器或裝置，特征在于：該標定系統包括有：一臺電機及其驅動的旋轉軸、旋轉軸的支架及支架上安裝的套筒A、旋轉軸后端安裝的定位座、定位座上安裝的套筒B、一分度頭及分度頭爪上安裝的短軸。

5.根據權利要求4所述的旋轉軸相位差標定系統，特征在于：

a.所述的旋轉軸的前端與電機軸通過聯軸器連接在同軸線上；

b.所述的旋轉軸的中部可轉動地設置或安裝在支架上；定位座可轉動地設置或安裝在旋轉軸后端，通過定位座旋轉軸后端與短軸前端同軸線地設置或安裝在一起，短軸前端與定位座固連一起，短軸的尾端與分度頭爪固連一起；

c.所述的支架上安裝的套筒A由安裝在支架上的外筒A與靠隨動套A安裝在旋轉軸上的內筒A組成；

d.所述的定位座上安裝的套筒B由安裝在定位座上的外筒B與靠隨動套B安裝在旋轉軸上的內筒B組成。

6.根據權利要求4所述的旋轉軸相位差標定系統，特征在于：該標定系統的標定步驟或標定過程是：在旋轉軸轉動下標定：①.當該標定系統對測量旋轉軸相位差的儀器或裝置進行相位差標定時，首先安裝好測量旋轉軸相位差的儀器或裝置的套筒A、套筒B兩者間就有一個相位差，此相位差從而提供了一個高精度的相位差信號即標定相位差值給安裝在支架上、套筒A上、套筒B上的被標定部分的測量旋轉軸相位差的儀器或裝置；②.旋動電機旋鈕，電機顯示面板上就會顯示一個設定轉速值，啟動電機按設定轉速值旋轉，記錄下該設定轉速值的旋轉軸上套筒A和套筒B間的相位差測量值給安裝在支架上、套筒A上、套筒B上的被標定部分的測量旋轉軸相位差的儀器或裝置；③.由①.、②.步驟或過程使安裝在支架上、套筒A上、套筒B上的被標定部分的測量旋轉軸相位差的儀器或裝置就會得到一組高精度的標定與測量的相位差數據；④.旋轉分度頭，控制套筒B的外筒旋轉，使套筒B的外筒和內筒相對旋動了一個相位角，使套筒A、套筒B間又有一個新相位差，此相位差從而提供了又一個高精度的相位差信號即標定相位差值給安裝在支架上、套筒A上、套筒B上的被標定部分的測量旋轉軸相位差的儀器或裝置；⑤.在④.步驟或過程下重復④.、②.、③.步驟或過程，使測量旋轉軸相位差的儀器或裝置得到了多組標定與測量的相位差數據，按標定規定需要對多組標定與測量的相位差數據處理，從而對測量旋轉軸相位差的儀器或裝置進行了標定。