[發明專利]一種用于高精度測量相位差的延遲正交數字中頻鑒相方法有效
| 申請號： | 201110143841.4 | 申請日： | 2011-05-31 |
| 公開（公告）號： | CN102200550A | 公開（公告）日： | 2011-09-28 |
| 發明（設計）人： | 張俊強;張海輝;吳鑫煒;郭鴻濱 | 申請（專利權）人： | 中國航空無線電電子研究所 |
| 主分類號： | G01R25/00 | 分類號： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 上海天翔知識產權代理有限公司 31224 | 代理人： | 劉粉寶 |
| 地址： | 200233 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 高精度 測量 相位差 延遲 正交 數字 中頻 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于高精度測量相位差的延遲正交數字中頻鑒相方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：
(1)先對兩路頻率相同的第一路射頻信號和第二路射頻信號分別進行帶通采樣和帶通濾波，再進行數字下變頻，得到相同中頻頻率的第一路數字中頻帶通信號和第二路數字中頻帶通信號；
(2)兩路數字中頻帶通信號做乘法運算，再進行低通濾波，得到兩路信號相位差的余弦分量；同時，第一路數字中頻帶通信號與延遲一個采樣點后的第二路數字中頻帶通信號做乘法運算，再進行低通濾波，得到兩路信號相位差的正弦分量；
(3)將正弦分量和余弦分量相比，消除幅度影響，得到相位差的正切值；
(4)根據相位差的正切值和正弦分量、余弦分量的符號算出相位差。
2.根據權利要求1所述的一種用于高精度測量相位差的延遲正交數字中頻鑒相方法，其特征在于，所述步驟(1)中進行帶通采樣時，所選取的采樣頻率既滿足帶通采樣定理，又滿足：采樣頻率＝4×中頻頻率。
3.根據權利要求1所述的一種用于高精度測量相位差的延遲正交數字中頻鑒相方法，其特征在于，所述步驟(2)中進行低通濾波時，濾除2倍中頻及以上頻率分量。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國航空無線電電子研究所，未經中國航空無線電電子研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110143841.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：IT電網對地安全電阻實時檢測儀
- 下一篇：開關裝置及其制作和使用方法
