[發明專利]一種雙光譜頭盔顯示器有效
| 申請號: | 201110137429.1 | 申請日: | 2011-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN102323520A | 公開(公告)日: | 2012-01-18 |
| 發明(設計)人: | 趙順龍;閻占元;張曉宏 | 申請(專利權)人: | 華北電力大學(保定) |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 071003 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光譜 頭盔 顯示器 | ||
技術領域
本發明涉及頭盔顯示器制造技術領域,更具體地說,涉及一種用于電暈檢測的雙光譜頭盔顯示器。
背景技術
近年來,我國經濟持續高速穩步發展,電力系統規模也不斷擴大,隨著我國西電東送計劃的實施,輸電電壓等級逐步提高,500kV的輸電線路和變電所相繼落戶于全國各地,超高壓輸變電系統廣泛應用,維護其安全、可靠地運行更顯得尤為重要。電暈放電不但會嚴重地影響人身和設備安全,而且還會導致大量的電能損耗,因此及時準確地檢測電暈放電的位置和強弱,以便于對電暈放電位置進行檢修,對保證電力系統的可靠運行、防止電力設備的損壞和減少人身傷害都有重要的意義。
電暈的產生是因為不平滑的導體產生不均勻的電場,在不均勻的電場周圍,曲率半徑小的電極附近,當電壓升高到一定值時,由于空氣游離就會發生放電,形成電暈。因為在電暈的外圍電場很弱,不發生碰撞游離,電暈外圍帶電粒子基本都是電離子,這些離子便形成了電暈放電電流。簡單地說,曲率半徑小的導體電極對空氣放電,便產生了電暈。
電力系統中的電暈放電使電能大量損耗,其產生的電磁脈沖會干擾無線電和高頻通信,使電力設備產生邊緣效應,破壞絕緣子,進而導致導線表面被腐蝕,使導線的使用壽命下降。因此,只有盡早發現電暈放電的位置,才能對故障部件及時維修,降低損失,避免事故。
現有技術中在夜間對輸變電線路巡檢時主要采用紅外望遠鏡、紅外照相機或紫外照相機等,但是,電暈放電的目標小、強度弱,目視觀察比較困難,雖然在晚上太陽輻射微弱的情況下可以采用紫外照相機也能夠探測到電暈活動,但是這種探測過程操作比較困難,效率低,而且費用昂貴;并且,由于紅外設備探測到的是發熱現象,當采用紅外設備探測到電暈現象時,電力線路或設備已經由于電暈而損壞嚴重,采用上述方法很難在夜間及時的檢測到電暈,進而不能及時對進行電力系統進行維護,導致難以避免的損失。
基于以上原因,亟需一種便于在夜間光線較弱的情況下,及時檢測電暈的設備。
發明內容
為解決上述技術問題,本發明提供了一種雙光譜頭盔顯示器,應用于夜間的電暈的檢測,該設備能夠在夜間正常視物的情況下,及時的發現電暈現象,檢測效率高,并且該頭盔顯示器攜帶方便、準確率高、受外界環境的影響小,在對電力系統的維修過程中也可同時配戴,大大避免了電力系統的損失。
為實現上述目的,本發明實施例提供了如下技術方案:
一種雙光譜頭盔顯示器,應用于電暈檢測,包括紫外光路和可見光光路,其中,所述紫外光路包括:
紫外物鏡,用于攝取電暈的光信號;
與所述紫外物鏡相連的紫外像增強器,所述紫外物鏡成像于所述紫外像增強器的探測面上;
位于所述紫外物鏡與所述紫外像增強器之間的紫外濾光片;
第一目鏡,所述第一目鏡的物面與所述紫外像增強器的輸出面相連,人眼通過所述第一目鏡看到所述電暈的虛像,所述電暈的虛像與所述電暈位于同一位置;
所述可見光光路包括:
物鏡,用于攝取外界景物的可見光圖像;
與所述物鏡相連的第二微光像增強器,所述物鏡成像于所述第二微光像增強器的探測面上;
第二目鏡,所述第二目鏡的物面與所述第二微光像增強器的輸出面相連,人眼通過所述第二目鏡看到所述外界景物的虛像,所述外界景物的虛像與所述外界景物位于同一位置。
優選的,所述紫外像增強器包括:
與所述紫外物鏡相連的紫外探測器,所述紫外物鏡成像于所述紫外探測器的探測面上;
第一微光像增強器,所述第一微光像增強器的輸入面與所述紫外探測器的輸出面相連。
優選的,所述紫外物鏡的物距為0.3m-無窮遠,和/或所述第一目鏡的像距為0.3m-無窮遠;所述物鏡的物距為0.3m-無窮遠,和/或所述第二目鏡的像距為0.3m-無窮遠。
優選的,還包括:
位于所述紫外像增強器的輸出面與所述第一目鏡的輸入面之間的第一光纖倒像器;以及
位于所述第二微光像增強器的輸出面與所述第二目鏡的輸入面之間的第二光纖倒像器。
優選的,人眼通過所述第一目鏡看到的所述電暈的虛像具體為與所述電暈等大正立的虛像;和/或所述人眼通過所述第二目鏡看到所述外界景物的虛像具體為與所述外界景物等大正立的虛像。
本發明實施例還公開了一種雙光譜頭盔顯示器,應用于電暈檢測,包括紫外光路和可見光光路,其中,所述紫外光路包括:
紫外物鏡,用于攝取電暈的光信號;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華北電力大學(保定),未經華北電力大學(保定)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110137429.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種蘋果醋液態發酵工藝
- 下一篇:高精密度微型軸承用低噪音潤滑脂的制備方法





