[發明專利]同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法有效
| 申請號: | 201110136829.0 | 申請日: | 2011-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN102798844A | 公開(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發明(設計)人: | 楊震;禹衛東 | 申請(專利權)人: | 中國科學院電子學研究所 |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 100190 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 同一 端口 輸入輸出 延時 信號 隔離 測量方法 | ||
技術領域
本發明涉及雷達內定標器技術領域,是相控陣雷達系統延時方案內定標器分機一個重要技術指標的測量,即同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法。
背景技術
內定標器是雷達系統中的一個重要分機,與天線陣面定標網絡一起實現相控陣雷達系統的內定標功能,是雷達系統內定標過程中的核心單元。內定標器的設計應該具有高隔離度、不會影響雷達系統正常成像。根據校準信號加入到雷達數據流中的時刻,內定標器的具體實現可以分為延時和非延時兩種方法。
在采用延時方案的內定標器中,從相控陣雷達系統天線陣面定標網絡端口輸入的微波信號經過一定時間的延時,主要進入雷達接收機。但延時信號經過傳導或輻射,仍然可能從該輸入端口泄漏輸出,通過天線陣面定標網絡又進入到雷達回波的接收通道,從而影響系統成像結果。為了不影響系統成像,需要對該端口的輸入信號和輸出延時信號之間的隔離度進行限制,這就是相控陣雷達系統延時方案內定標器分機中的一個重要技術指標,即定標饋電網絡端口輸入輸出延時信號隔離度。
通常所說的端口隔離度,指輸入端口的微波信號泄漏到其他端口的功率與原有功率之比。一般是不同端口之間的電隔離程度,用矢量網絡分析儀的S21參數即可測得。而同一端口輸入輸出延時信號隔離度未見具體的測量方法。
發明內容
本發明的目的是公開一種同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法,這個指標是相控陣雷達系統延時方案內定標器分機中的一個重要技術指標,通常端口隔離度測量的是兩個不同端口之間的隔離程度,本方法是對同一端口信號隔離度的測量,簡單、準確。
為達到上述目的,本發明的技術解決方案是:
一種同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法,其利用矢量網絡分析儀(矢網)的時域功能進行測量,流程如圖1所示,具體步驟如下:
步驟s1,根據被測件參數(中心頻率、帶寬、信號功率、掃描時間、掃描點數、中頻帶寬等)設置矢量網絡分析儀;
步驟s2,按照矢量網絡分析儀的校準提示,進行全2端口校準;
步驟s3,被測件輸入端口1和輸出端口2分別與矢網的Port1和Port2連好后,加電正常工作;
步驟s4,利用矢網的時域功能,測量被測件輸入端口1到輸出端口2的信號時延;
步驟s5,利用矢網的時域功能,測量被測件端口1的輸入輸出延時信號隔離度。
所述的測量方法,其所述步驟s4測量被測件端口1到端口2的信號時延,具體步驟如下:
1)選擇S21參數、LOG模式,進入矢網時域測量(Transform);
2)若被測件工作帶寬大于10MHz,則為防止出現卷疊,將矢網測量信號帶寬設為10MHz,掃描點數設為最大;若被測件工作帶寬小于10MHz,則只需將掃描點數設為最大;
3)根據被測件的估計延時時間,設置時域測量區間,設置marker找到最大值對應的時間即為測量結果。
所述的測量方法,其所述步驟s5測量被測件端口1的輸入輸出延時信號隔離度,具體步驟如下:
(1)選擇S11參數、LOG模式,進入矢網時域測量(Transform)模式;
(2)為防止出現卷疊,將測量信號帶寬設為10MHz,掃描點數設為最大;
(3)根據步驟s4的測量結果設置時域測量區間,設置Marker1為步驟s4測得的延時時間,設置Reference?marker為0s,Marker1和Referencemarker之間的差值Δ1顯示的dB值即為被測件端口1的輸入輸出延時信號隔離度。
本發明方法的有益效果是,給出用矢量網絡分析儀時域功能測量同一端口輸入輸出延時信號隔離度的方法,這是相控陣雷達系統延時方案內定標器分機中的一個重要技術指標,該方法已經用于某些型號項目內定標器分機的指標測試。
附圖說明
圖1是本發明的同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法流程圖;
圖2是被測件與矢網連接示意圖;
圖3是被測件端口1到端口2信號時延的測量結果;
圖4是被測件端口1輸入輸出延時信號隔離度的測量結果。
具體實施方式
下面結合附圖和實施例對本發明的同一端口輸入輸出延時信號隔離度的測量方法進一步說明。
如圖1所示,以延時時間40μs、中心頻率3GHz、帶寬100MHz的被測件為例,詳細說明本發明方法的具體測量流程:
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