[發(fā)明專利]基于量子點折射率調(diào)制的全光讀出紅外成像系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110135233.9 | 申請日: | 2011-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN102279054A | 公開(公告)日: | 2011-12-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳剛;雷尼爾·馬丁尼;溫中泉;陳李 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00;G01J5/08 |
| 代理公司: | 重慶華科專利事務(wù)所 50123 | 代理人: | 康海燕 |
| 地址: | 400030 *** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 量子 折射率 調(diào)制 讀出 紅外 成像 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于紅外成像技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種基于量子點折射率調(diào)制的全光讀出紅外成像系統(tǒng),該系統(tǒng)可實現(xiàn)高速、高分辨率紅外成像,并能實現(xiàn)紅外光譜掃描。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,公開的紅外成像系統(tǒng)主要是基于熱輻射計原理和光電探測原理。然而,目前兩者都無法實現(xiàn)高分辨率成像,現(xiàn)有的紅外成像系統(tǒng)最高分辨率為1百萬像素,并且價格昂貴。基于熱輻射計原理紅外成像系統(tǒng),分辨率低于1百萬像素,響應(yīng)速度慢(約為10-3秒);采用光電探測原理的紅外成像系統(tǒng),如基于量子阱和量子點陣列結(jié)構(gòu)[見參考文獻(xiàn)1-4]的光電探測器,兩者均采用電讀出方式(即紅外光照射到量子阱或者量子點上,產(chǎn)生自由載流子,并形成光電流或者光電壓,測量相應(yīng)的電流或者電壓獲取相應(yīng)的紅外光強度信號),雖然具有很快的響應(yīng)速度(可達(dá)到10-9秒以上),但由于設(shè)計和加工工藝上的因素,難以突破1百萬像素的分辨率??傊?,現(xiàn)有技術(shù)無法實現(xiàn)高分辨率紅外成像,更難于同時實現(xiàn)高速、高分辨率紅外成像,也難以實現(xiàn)紅外光譜掃描。這大大限制了紅外成像系統(tǒng)的應(yīng)用和相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域的發(fā)展。
參考文獻(xiàn):
1、Liu,?H.C.,?Quantum?Dot?Infrared?Photodetector.?Opto-electronics?review?11(1),1-5?(2003);
2、Dong?Pan?and?Elias?Toweb,Photovoltaic?Quantum-dot?Infrared?Detectors,?Appl.?Phys.?Lett.76(22),?3301-3303(2000).?;
3、Lucjan?Jacak,?Pawel?Hawrylak,?Arkadiusz?Wójs,?Quantum?Dots,?Springer,?New?York,?1998.;
4、Mitsuru?Sugawara,?Self-Assembled?InGaAs/GaAs?Quantum?Dots,?Semiconductors?and?Semimetals,?Volume?60,?Academic?Press,?San?Diego,?USA,?1999.。
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發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,而提供的一種高速、高分辨率、可實現(xiàn)光譜掃描的基于量子點折射率調(diào)制的全光讀出紅外成像系統(tǒng)。
本發(fā)明通過以下技術(shù)方案來加以實現(xiàn):
基于量子點折射率調(diào)制的全光讀出紅外成像系統(tǒng),它包括有紅外成像光學(xué)元件、調(diào)制光束合束器、量子點折射率調(diào)制器、光學(xué)移相器、激光光源、準(zhǔn)直透鏡或拋物面反射鏡、光學(xué)分束器、反射鏡、干涉光束合束器和近紅外光或可見光相機組成。
所述系統(tǒng)中各部件的光路關(guān)系如下:
所述成像系統(tǒng)分為兩個相對獨立的光路:分別是調(diào)制-讀出光路和參考光路;其中調(diào)制-讀出光路上沿入射光傳播方向的元件依次為:紅外成像光學(xué)元件、調(diào)制光束合束器、量子點折射率調(diào)制器、光學(xué)移相器、干涉光束合束器和近紅外光或可見光相機;參考光路上沿入射光傳播方向的元件依次為:激光光源、準(zhǔn)直透鏡或拋物面反射鏡、光學(xué)分束器和反射鏡。
系統(tǒng)通過紅外成像光學(xué)元件將紅外物體成像于量子點折射率調(diào)制器;由激光光源產(chǎn)生近紅外光或可見光,通過準(zhǔn)直透鏡或拋物面反射鏡準(zhǔn)直后,經(jīng)過光學(xué)分束器分為讀出光和參考光。
所述讀出光經(jīng)過調(diào)制光束合束器與物體在量子點折射率調(diào)制器上的紅外像重合,通過量子點折射率調(diào)制器的量子點三能級系統(tǒng)相位調(diào)制特性,紅外像的紅外光強信號被轉(zhuǎn)換成為讀出光的相位信號;該讀出光進(jìn)一步通過光學(xué)移相器產(chǎn)生一個附加的????????????????????????????????????????????????相位(其中n為任意整數(shù),為圓周率)。
所述參考光通過反射鏡、干涉光束合束器與通過光學(xué)移相器之后的讀出光重合在近紅外光或可見光相機上。
通過近紅外光或可見光相機讀取參考光和讀出光的干涉光強,最終將讀出光攜帶的相位信號還原成為紅外圖像的光強信號,從而利用近紅外光或可見光相機獲取物體的紅外圖像。
所述量子點折射率調(diào)制器是由多層高密度量子點陣列結(jié)構(gòu)構(gòu)成的折射率調(diào)制器。
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