[發(fā)明專利]半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110131803.7
• 申請日: 2011-05-20
• 公開（公告）號: CN102221570A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 潘敏智
• 申請（專利權(quán)）人: 樂山無線電股份有限公司
• 主分類號: G01N27/04
• 分類號: G01N27/04
• 代理公司: 四川力久律師事務(wù)所 51221
• 代理人: 王蕓;林輝輪

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于半導(dǎo)體，特別是涉及一種半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測方法。

背景技術(shù)

目前的半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測有以下幾種方式：

1、機械方式，推斷芯片與框架焊接位置；

2、對焊接面歐姆接觸良好與否，比較推斷面的硅與合金面積、面積比例而判斷焊接是否良好；

采用以上判斷方式，無法準確判斷產(chǎn)品的焊接是否良好，且該檢測方法費時、費事，不易操作。另外，封裝后產(chǎn)品無法進行檢測，因為塑封體已經(jīng)把產(chǎn)品進行密封，即便開蓋也導(dǎo)致產(chǎn)品的形態(tài)等發(fā)生變異，不能夠確切表面產(chǎn)品的特性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，提供一種檢測簡單、準確有效的半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測方法。

為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：一種半導(dǎo)體焊接品

質(zhì)檢測方法，檢測方法為：?1）、電流給定單元施加需要的電流在待測產(chǎn)品上；?2）、波形監(jiān)控單元實時監(jiān)控待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線，實時發(fā)現(xiàn)曲線

是否發(fā)生變異；?3）、計時單元記錄從施加電流開始到待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線發(fā)生變

異的時間，如果變異時間大于或等于設(shè)定值，則待測產(chǎn)品為合格品，如果變異

時間小于設(shè)定值，則待測產(chǎn)品為不合格品。即計時單元記錄從施加電流開始到

待測產(chǎn)品的正向V?-A特性曲線發(fā)生變異的時間，時間越長表面產(chǎn)品的歐姆接

觸電阻的阻值越小，焊接品質(zhì)越可靠。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明是采用簡單易行的設(shè)備，

對半導(dǎo)體焊接后的歐姆接觸是否良好機械測試、分析和判斷。它具有以下優(yōu)點：

1、能夠有效的監(jiān)測半導(dǎo)體產(chǎn)品的焊接后歐姆接觸狀況，比較產(chǎn)品的焊接品質(zhì)；

2、不受需要檢測產(chǎn)品的當前狀態(tài)限制；

3、采用現(xiàn)有的、簡單的長余暉示波器和計時器即可完成測試。

附圖說明

圖1是實現(xiàn)半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測方法的電路圖；

圖2是正常的半導(dǎo)體正向V-A曲線；

圖3是變異后的半導(dǎo)體正向V-A曲線。

具體實施方式

下面結(jié)合具體實施方式對本發(fā)明的上述發(fā)明內(nèi)容作進一步的詳細描述。

但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于下述實施例。在不脫離本發(fā)明上述技術(shù)思想情況下，根據(jù)本領(lǐng)域普通技術(shù)知識和慣用手段，做出各種替換和變更，均應(yīng)包括在本發(fā)明的范圍內(nèi)。

見圖1所示，半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測電路由電流給定單元、波形監(jiān)控單元、

計時單元、待測產(chǎn)品（半導(dǎo)體）構(gòu)成，其中，電流給定單元和波形監(jiān)控單元并聯(lián)連接后的一端連接在待測產(chǎn)品（半導(dǎo)體）正極上，電流給定單元和波形監(jiān)控單元并聯(lián)連接后的另一端經(jīng)計時單元與待測產(chǎn)品（半導(dǎo)體）負極連接。半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測電路實現(xiàn)半導(dǎo)體焊接品質(zhì)檢測，該檢測方法為：

1）、電流給定單元施加需要的電流在待測產(chǎn)品上。電流給定單元施加產(chǎn)品需要的不同電流，對目前的小功率產(chǎn)品一般施加1.2A的電流在待測產(chǎn)品上；?2）、波形監(jiān)控單元實時監(jiān)控待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線，實時發(fā)現(xiàn)曲線

是否發(fā)生變異；

3）、計時單元記錄從施加電流開始到待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線發(fā)生變

異的時間，如果變異時間大于或等于設(shè)定值，則待測產(chǎn)品為合格品，如果變異

時間小于設(shè)定值，則待測產(chǎn)品為不合格品。即計時單元記錄從施加電流開始到

待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線發(fā)生變異的時間，變異時間越長表面產(chǎn)品的歐姆

接觸電阻的阻值越小，焊接品質(zhì)越可靠。目前的小功率產(chǎn)品設(shè)定值為20秒，

計時單元記錄從施加電流開始到待測產(chǎn)品的正向V-A特性曲線發(fā)生變異的時

間，如果變異時間大于或等于20秒，則待測產(chǎn)品為合格品，如果變異時間小

于20秒，則待測產(chǎn)品為不合格品。從施加電流開始到待測產(chǎn)品的正向V-A特

性曲線發(fā)生變異的時間為20秒時，此時表面產(chǎn)品的歐姆接觸電阻的阻值為

0.0000002歐姆。表面產(chǎn)品的歐姆接觸電阻的阻值為正常的歐姆接觸在

0.0000002歐姆，異常的可能會達到1歐姆左右。

本發(fā)明其工作原理是，半導(dǎo)體產(chǎn)品的V-A特性與溫度有關(guān)，溫度越高，V-A

曲線變化越大，而溫度取決于產(chǎn)品的發(fā)熱，導(dǎo)致該發(fā)熱的能量等于施加的電流的平方×歐姆接觸電阻×施加電流的時間。