[發明專利]圖像處理系統、圖像處理裝置和圖像處理方法有效
| 申請號: | 201110129212.6 | 申請日: | 2011-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN102467662A | 公開(公告)日: | 2012-05-23 |
| 發明(設計)人: | 木村哲也;伊藤健介 | 申請(專利權)人: | 富士施樂株式會社 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/64 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 陳源;張天舒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 系統 裝置 方法 | ||
1.一種圖像處理系統,包括:
第一圖像處理裝置;以及
第二圖像處理裝置,
其中,所述第一圖像處理裝置包括:
第一圖像獲取模塊,用于獲取物體的圖像,所述物體具有印在其表面上的印記,以及具有形成或層壓在其所述表面上的膜;
第一圖像提取模塊,用于提取由所述第一圖像獲取模塊獲取的所述圖像中的所述印記的部分圖像;
第一濃度提取模塊,用于提取由所述第一圖像提取模塊提取的所述印記的所述部分圖像的濃度;
第一特征轉換模塊,用于將由通過所述第一濃度提取模塊提取的所述一序列濃度形成的濃度序列轉換為所述印記的所述部分圖像的特征;以及
登記模塊,用于將由所述第一特征轉換模塊轉換的所述特征和由所述第一濃度提取模塊提取出的所述濃度登記在存儲模塊中,以使所述特征和所述濃度彼此相關,以及
所述第二圖像處理裝置包括:
第二圖像獲取模塊,用于獲取物體的圖像,所述物體具有印在其表面上的印記,以及具有形成或層壓在其所述表面上的膜;
第二圖像提取模塊,用于提取由所述第二圖像獲取模塊獲取的所述圖像中的所述印記的部分圖像;
第二濃度提取模塊,用于提取由所述第二圖像提取模塊提取的所述印記的所述部分圖像的濃度;
第二特征轉換模塊,用于將由通過所述第二濃度提取模塊提取的所述一序列濃度形成的濃度序列轉換為所述印記的所述部分圖像的特征;以及
核對模塊,用于從所述存儲模塊中提取對應于由所述第二特征轉換模塊轉換的特征的濃度,以及執行所述提取的濃度和由所述第二濃度提取模塊提取的濃度之間的核對。
2.一種圖像處理裝置,包括:
圖像獲取模塊,用于獲取物體的圖像,所述物體具有印在其表面上的印記,以及具有形成或層壓在其所述表面上的膜;
圖像提取模塊,用于提取由所述圖像獲取模塊獲取的所述圖像中的印記的部分圖像;
濃度提取模塊,用于提取由所述圖像提取模塊提取的所述印記的部分圖像的濃度;
特征轉換模塊,用于將由通過所述濃度提取模塊提取的所述一序列濃度形成的濃度序列轉換為所述印記的部分圖像的特征;以及
登記模塊,用于將由所述特征轉換模塊轉換的特征和所述濃度提取模塊提取出的所述濃度登記在存儲模塊中,以使所述特征和所述濃度彼此相關。
3.根據權利要求2所述的圖像處理裝置,還包括:
第二圖像提取模塊,用于提取由所述圖像提取模塊提取的所述印記的所述部分圖像的位置中預定位置處的圖像;以及
第二存儲模塊,用于將由所述第二圖像提取模塊提取的圖像存儲在第二存儲模塊中。
4.根據權利要求2或3所述的圖像處理裝置,其中所述圖像提取模塊提取所述印記的圖像中的圖像作為所述部分圖像,其中,實線的整個長度具有預定值或更高值,以及其彎曲部分具有預定長度或更長的長度。
5.根據權利要求2或3所述的圖像處理裝置,在所述物體具有三維形狀時,所述圖像提取模塊提取位于所述物體的曲面上的所述印記的圖像作為所述部分圖像。
6.一種圖像處理裝置,包括:
圖像獲取模塊,用于獲取物體的圖像,所述物體具有印在其表面上的印記,以及還具有形成或層壓在其所述表面上的膜;
圖像提取模塊,用于提取對應于由所述圖像獲取模塊獲取的圖像中的印記的部分圖像;
濃度提取模塊,用于提取由所述圖像提取模塊提取的所述印記的部分圖像的濃度;
特征轉換模塊,用于將由通過所述濃度提取模塊提取的一序列濃度形成的濃度序列轉換為所述印記的部分圖像的特征;以及
核對模塊,用于從存儲模塊中提取對應于由所述特征轉換模塊轉換的所述特征的濃度,以及執行所提取的濃度和由所述濃度提取模塊提取的濃度之間的核對,其中,作為基準的印記的部分圖像的特征與所述印記的部分圖像的濃度分別以相應的模式登記在所述存儲模塊中。
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