[發明專利]一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法及設備有效
| 申請號: | 201110125905.8 | 申請日: | 2011-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN102145894A | 公開(公告)日: | 2011-08-10 |
| 發明(設計)人: | 譚毅;戰麗姝;姜大川;顧正;鄒瑞洵 | 申請(專利權)人: | 大連隆田科技有限公司 |
| 主分類號: | C01B33/037 | 分類號: | C01B33/037 |
| 代理公司: | 大連星海專利事務所 21208 | 代理人: | 于忠晶 |
| 地址: | 116025 遼寧省大連*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子束 熔煉 提純 多晶 方法 設備 | ||
1.一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:先熔化造渣劑及除磷:在熔煉坩堝中加熱熔化造渣劑形成造渣劑熔液,并保持其液態,同時通過加料裝置向水冷銅坩堝中連續加入高磷、高硼和高金屬的多晶硅料,硅料在電子束轟擊下熔化成硅熔液,并熔煉去除雜質磷;再除硼除金屬:除磷后的低磷硅熔液導流進入到造渣劑熔液之中,在熔入的過程中,硅熔液中的雜質硼與造渣劑反應,去除雜質硼,最后待熔煉坩堝中的熔液裝滿時,停止加入多晶硅料,并將熔煉坩堝中的熔液加熱保持液態熔煉3-10分鐘,最后通過拉錠機構向下拉錠,熔液開始定向凝固,金屬雜質和廢渣不斷向硅錠頂部聚集,完全凝固并降至室溫后,取出硅錠,切去硅錠頂部廢渣及金屬含量較高的硅塊,即可得到磷、硼和金屬雜質含量較低的多晶硅錠。
2.根據權利要求1所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:所述熔化造渣劑及除磷前進行備料預處理:備料:將造渣劑平鋪于熔煉坩堝(14)底部,造渣劑的加入量為熔煉坩堝(14)體積的1/6-1/4位置為宜,關閉爐門(8)。
3.根據權利要求1所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:預處理:將真空室(7)抽到高真空0.002Pa以下;向水冷支撐桿(19)、水冷銅坩堝(20)及水冷拉錠桿(17)中通入冷卻水,使其溫度維持在30-45℃;給電子槍(1)預熱,設置高壓為30-32kV,高壓穩定5-10分鐘后,關閉高壓,設置電子槍(1)束流為100-200mA進行預熱,預熱10-15分鐘后,關閉電子槍(1)束流。
4.根據權利要求1所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:所述熔化造渣劑及除磷:通過石墨加熱將造渣劑熔化形成造渣劑熔液,并維持液態;同時通過加料裝置向水冷銅坩堝中連續加入高磷、高硼和高金屬的多晶硅料,打開電子槍的高壓和束流,穩定后,通過電子槍以200-400mA的束流轟擊水冷銅坩堝中的高磷、高硼和高金屬的多晶硅料,使其熔化形成硅熔液,在電子束熔煉過程中硅熔液中的雜質磷得到去除,得到低磷的硅熔液。
5.根據權利要求1所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:所述除硼除金屬:低磷硅熔液通過水冷銅坩堝上的導流口進入導流裝置,在導流裝置引導下,低磷硅熔液連續、均勻、分散的熔入到造渣劑熔液之中,在熔入的過程中,硅熔液中的雜質硼與造渣劑發生反應,雜質硼得到去除,雜質硼去除后的硅熔液不斷下沉,在熔煉坩堝底部聚集,待熔煉坩堝中的熔液裝滿時,停止加入多晶硅料,5-10分鐘后關閉電子槍,并將熔煉坩堝中的熔液加熱保持液態反應3-10分鐘,最后通過水冷拉錠桿向下拉錠,熔液開始定向凝固生長,金屬雜質和廢渣不斷向硅錠頂部聚集,完全凝固并降至室溫后,打開放氣閥放氣,取出硅錠,切去硅錠頂部廢渣及金屬含量較高的硅塊,即可得到磷、硼和金屬雜質含量較低的多晶硅錠。
6.根據權利要求1所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的方法,其特征是:所述高磷、高硼和高金屬的多晶硅料為碎塊料或粉料。
7.一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的設備,其特征是:設備由爐門(8)及真空爐壁(2)構成真空設備,真空設備的內腔即為真空室(7);真空室(7)底部固定安裝拉錠機構,拉錠機構上安裝熔煉坩鍋,熔煉坩鍋外套裝加熱裝置,真空室(7)底部還安裝有水冷支撐桿(19),水冷銅坩堝(20)安裝于水冷支撐桿(19)之上,加料裝置(23)固定安裝于水冷銅坩堝(20)上方真空爐壁(2)頂部內側,水冷銅坩堝(20)通過導流裝置連通熔煉坩堝(14),電子槍(1)安裝于真空爐壁(2)頂部,放氣閥(3)安裝于真空爐壁(2)之上。
8.根據權利要求7所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的設備,其特征是:所述加熱裝置采用支撐底座(16)上從外向內安裝有保溫碳氈(11)和石墨發熱體(12),支撐底座(16)固定安裝在真空室上,拉錠機構位于支撐底座內;所述拉錠機構采用水冷拉錠桿(17)上安裝石墨塊(15),熔煉坩堝(14)置于石墨塊(15)之上。
9.根據權利要求7所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的設備,其特征是:所述導流裝置采用開有落料孔的分流板(9)置于石墨支撐架(10)之上,導流槽(2)兩端分別搭接于分流板(9)與水冷銅坩堝(20)邊緣處,石墨支撐架(10)安裝于保溫碳氈(11)和石墨發熱體(12)之上。
10.根據權利要求9所述的一種電子束及渣濾熔煉提純多晶硅的設備,其特征是:所述分流板(9)邊緣高,中間低,中間均勻分布落料孔,分流板(9)采用熔點高于硅,高溫強度大,與硅潤濕角大于90°的材料制成。
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