[發(fā)明專利]集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110123784.3 | 申請(qǐng)日: | 2011-05-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102779557A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝國(guó)敏;張建杰;熊冰;溫芝權(quán) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州雄立科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/44 | 分類號(hào): | G11C29/44 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
| 地址: | 215021 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成 memory 模塊 芯片 數(shù)據(jù) 檢測(cè) 校正 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)維護(hù)領(lǐng)域,特別是涉及一種集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著集成電路制造技術(shù)的不斷進(jìn)步以及芯片應(yīng)用需求的不斷提升,越來(lái)越多的芯片中都集成了memory模塊用來(lái)存貯資料。
在集成有memory模塊的芯片中,為了保證memory模塊中存貯的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,通常會(huì)采用錯(cuò)誤檢查和糾正(Error?Checking?and?Correcting,ECC)電路對(duì)memory模塊中的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。
ECC電路的工作原理大致如下:當(dāng)memory模塊中的某一地址被訪問(wèn)時(shí),ECC電路才會(huì)針對(duì)該地址存貯的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。所以現(xiàn)有技術(shù)中,那些長(zhǎng)時(shí)間不被訪問(wèn)的地址存貯的數(shù)據(jù),將長(zhǎng)期無(wú)法得到檢測(cè)和校正。隨著時(shí)間的累積,出錯(cuò)的數(shù)據(jù)將越來(lái)越多,最終使整個(gè)芯片系統(tǒng)崩潰。如果訪問(wèn)任意地址的數(shù)據(jù)時(shí),都對(duì)所有地址的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正,雖然能夠保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,但是又會(huì)嚴(yán)重降低芯片的處理性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正方法及系統(tǒng),能夠在某一地址被訪問(wèn)時(shí),同時(shí)對(duì)該芯片中未被訪問(wèn)的部分地址中的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下方案:
一種集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正方法,包括:
接收對(duì)劃分有多個(gè)區(qū)域的memory模塊中的某一區(qū)域的某一地址進(jìn)行訪問(wèn)的指令;
在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址;
對(duì)被訪問(wèn)的地址中存貯的數(shù)據(jù)以及在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定的地址中存貯的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。
優(yōu)選的,所述區(qū)域?yàn)椋簩?duì)memory模塊進(jìn)行均等劃分得到的;和/或,按照memory模塊中各部分與干擾源之間的距離進(jìn)行劃分得到的;和/或,按照各部分存貯資料的重要程度進(jìn)行劃分得到的。
優(yōu)選的,還包括:減少為某區(qū)域劃分的地址的數(shù)目,以提高對(duì)該區(qū)域中地址進(jìn)行檢測(cè)校正的頻率。
優(yōu)選的,所述在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址,包括:
通過(guò)在配置信息表中進(jìn)行查詢來(lái)確定需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址;
和/或,根據(jù)芯片被訪問(wèn)的次數(shù)來(lái)確定需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址。
優(yōu)選的,所述通過(guò)在配置信息表中進(jìn)行查詢來(lái)確定需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址,包括:
查詢配置信息表,獲取除被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中與被訪問(wèn)地址相對(duì)應(yīng)的地址;
確定所述與被訪問(wèn)地址相對(duì)應(yīng)的地址為需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址。
優(yōu)選的,所述根據(jù)芯片被訪問(wèn)的次數(shù)來(lái)確定需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址,包括:
確定芯片被訪問(wèn)的次數(shù);
對(duì)于被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域,根據(jù)芯片被訪問(wèn)的次數(shù)除以本區(qū)域的地址總數(shù)所得的余數(shù),確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址。
一種集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正系統(tǒng),包括:
指令接收單元,用于接收對(duì)劃分有多個(gè)區(qū)域的memory模塊中的某一區(qū)域的某一地址進(jìn)行訪問(wèn)的指令;
地址確定單元,用于在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址;
檢測(cè)校正單元,用于對(duì)被訪問(wèn)的地址中存貯的數(shù)據(jù)以及在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定的地址中存貯的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。
優(yōu)選的,所述地址確定單元包括:
配置信息表查詢子單元,用于查詢配置信息表,獲取除被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中與被訪問(wèn)地址相對(duì)應(yīng)的地址;
第一地址確定子單元,用于確定所述與被訪問(wèn)地址相對(duì)應(yīng)的地址為需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址。
優(yōu)選的,所述地址確定單元包括:
訪問(wèn)次數(shù)確定單元,用于確定芯片被訪問(wèn)的次數(shù);
第二地址確定子單元,用于對(duì)于被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域,根據(jù)芯片被訪問(wèn)的次數(shù)除以本區(qū)域的地址總數(shù)所得的余數(shù),確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址。
一種集成memory模塊的芯片,所述芯片劃分有多個(gè)區(qū)域,每個(gè)區(qū)域均設(shè)置有對(duì)應(yīng)的ECC電路,并且包括權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)。
根據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施例,本發(fā)明公開(kāi)了以下技術(shù)效果:通過(guò)將memory模塊劃分為多個(gè)區(qū)域,在訪問(wèn)某一區(qū)域的某一地址時(shí),對(duì)各個(gè)區(qū)域中相關(guān)地址進(jìn)行檢測(cè)校正,能夠?qū)υ撔酒形幢辉L問(wèn)的部分地址中的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正,提高芯片中存貯數(shù)據(jù)的可靠性。
附圖說(shuō)明
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G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
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