[發明專利]一種電壓保護裝置無效
| 申請號: | 201110111639.3 | 申請日: | 2011-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN102761107A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發明(設計)人: | 肖磊 | 申請(專利權)人: | 肖磊 |
| 主分類號: | H02H7/26 | 分類號: | H02H7/26;H02J13/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電壓 保護裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種保護裝置,具體是一種電壓保護裝置,屬于電子技術領域。
背景技術
隨著社會的發展和進步,計算機行業迅猛大戰,微機技術已經滲透到電力系統的繼電保護的各個研究領域中,目前國內外各種智能化,機電一體化的監控、監視等微機型繼電保護裝置不斷涌現,但是保護功能的可靠性和測量精度并不高,且一般電源供應器開始輸出工作電壓時,工作電壓的電位并不會一開始就到達正常電位,工作電壓必須經過一段延遲時間,才會到達正常電位。而在工作電壓在上升的期間,到達一臨界電位時,電源供應器可以致能一電位確認訊號,以告知外部系統可以開始啟動;但是當工作電壓上升到達臨界電位時,電位確認訊號會開始上拉,并且在經過一上升時間后,電位確認訊號會被致能至一高電位。原則上,在上升時間內,電位確認訊號具有一平滑的上升緣。然而實際上,由于上升時間很長,因此容易受到雜訊的影響,而使得電位確認訊號的上升緣發生抖動。很容易造成外部系統的誤動作,甚至導致外部系統中的元件損壞,造成不必要的經濟損失。
發明內容
針對上述現有技術存在的問題,本發明提供一種電壓保護裝置,兩個處理器構成冗余結構,更好的保證巡檢登陸裝置的正常工作。
為了實現上述目的,本發明采用的技術方案是:一種電壓保護裝置,包括電壓互感器,電壓濾波處理,電流互感器,電流濾波處理,繼電器輸出電路,繼電器光電隔離電路,開關輸入電路,開關輸入光電隔離電路,中央門控制器,中央門控制光電隔離電路,雙串口控制回路,模擬量光電隔離電路,模擬輸出電路,還包括比較電路,電流檢測電路,發音裝置光電隔離電路,發音電路,電壓互感器輸出端與比較電壓輸入端電連接,比較電壓輸出端與電壓濾波處理輸入端電連接,電壓濾波處理輸出端與中央門控制器輸入端電連接,電流互感器輸出端與電流檢測電路輸入端電連接,電流檢測電路輸出端與電流濾波電流輸入端電連接,電流濾波電路輸出端與中央控制器輸出端電連接,繼電器輸出電路輸入端與繼電器光電隔離電路輸出端電連接,繼電器光電隔離電路輸入端與中央控制器輸出端電連接,開關輸入電路輸出端與開關輸入光電隔離電路輸入端電連接,開關輸入光電隔離電路輸出端與中央控制器輸入端電連接,中央控制器輸出端與中央門控制光電隔離電路輸入端電連接,中央門控制光電隔離電路輸出端與雙串口控制回路輸入端電連接,中央控制器輸出端與發音裝置光電隔離電路輸入端電連接,發音裝置光電隔離電路輸出端與發音電路電連接,中央控制器輸出端與模擬量光電隔離電路輸入端電連接,模擬量光電隔離電路輸出端與模擬輸出電路輸入端電連接;比較電路包括高位比較器和低位比較器。
本發明的有益效果是:安裝有比較電路和電流檢測電路,隨時檢測電路中的電流和電壓是否處于正常范圍內,以保護電路中各元件的安全,延長其使用壽命。
附圖說明
圖1是本發明的電原理框圖
具體實施方式
下面將結合附圖對本發明作進一步說明。
如圖1所示,一種電壓保護裝置,包括電壓互感器,電壓濾波處理,電流互感器,電流濾波處理,繼電器輸出電路,繼電器光電隔離電路,開關輸入電路,開關輸入光電隔離電路,中央門控制器,中央門控制光電隔離電路,雙串口控制回路,模擬量光電隔離電路,模擬輸出電路,還包括比較電路,電流檢測電路,發音裝置光電隔離電路,發音電路,電壓互感器輸出端與比較電壓輸入端電連接,比較電壓輸出端與電壓濾波處理輸入端電連接,電壓濾波處理輸出端與中央門控制器輸入端電連接,電流互感器輸出端與電流檢測電路輸入端電連接,電流檢測電路輸出端與電流濾波電流輸入端電連接,電流濾波電路輸出端與中央控制器輸出端電連接,繼電器輸出電路輸入端與繼電器光電隔離電路輸出端電連接,繼電器光電隔離電路輸入端與中央控制器輸出端電連接,開關輸入電路輸出端與開關輸入光電隔離電路輸入端電連接,開關輸入光電隔離電路輸出端與中央控制器輸入端電連接,中央控制器輸出端與中央門控制光電隔離電路輸入端電連接,中央門控制光電隔離電路輸出端與雙串口控制回路輸入端電連接,中央控制器輸出端與發音裝置光電隔離電路輸入端電連接,發音裝置光電隔離電路輸出端與發音電路電連接,中央控制器輸出端與模擬量光電隔離電路輸入端電連接,模擬量光電隔離電路輸出端與模擬輸出電路輸入端電連接;比較電路包括高位比較器和低位比較器。
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