[發明專利]亞脈沖寬度的2飛秒精度超快時間分辨系統

無效

• 申請號: 201110107560.3
• 申請日: 2011-04-27
• 公開（公告）號: CN102262070A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 王瑞;武睿;田義超;顏世超;單欣巖;郭陽;趙繼民;陸興華
• 申請（專利權）人: 中國科學院物理研究所
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47;G01N21/59
• 代理公司: 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280
• 代理人: 王勇

1.一種超快時間分辨系統，包括：超快激光光源；精密移動平移臺及置于其上的回反射器；精密移動平移臺的控制箱；非線性光學晶體；探測器，

其中從超快激光光源發出的光被分為兩束，一束光作為測量光，另一束光作為輔助光，其中測量光入射到樣品上，透射過樣品或從樣品反射的光入射到非線性光學晶體上，輔助光入射到置于精密移動平移臺上的回反射器，從回反射器出來的光入射到上述非線性光學晶體上，非線性光學晶體產生的光信號被探測器收集并轉換為電信號。

2.根據權利要求1所述的超快時間分辨系統，還包括：斬波器或調制器件；以及鎖相放大器，其中測量光在入射到樣品之前經過斬波器或調制器件，探測器輸出的電信號輸入到鎖相放大器中。

3.根據權利要求2所述的超快時間分辨系統，還包括計算機，計算機分別連接到精密移動平移臺和鎖相放大器，對精密移動平移臺和鎖相放大器的信號進行同時收集，并進行實時處理和顯示。

4.根據權利要求3所述的超快時間分辨系統，其中計算機執行多次循環掃描并做平均處理。

5.根據權利要求1所述的超快時間分辨系統，其中測量光在經過斬波器后、入射到樣品之前還經過半波片和偏振片，輔助光在入射到非線性光學晶體之前還經過半波片和偏振片。

6.根據權利要求1所述的超快時間分辨系統，其中樣品位于平移及旋轉臺組合上。

7.根據權利要求1所述的超快時間分辨系統，還包括多個透鏡，其中測量光被聚焦后入射到樣品上，透射過樣品后再經過透鏡變成平行光，測量光和輔助光被聚焦后入射到非線性光學晶體上。

8.根據權利要求1所述的超快時間分辨系統，其中精密移動平移臺的分辨率高于0.02微米，精度為+/-0.3微米之間，重復度為+/-0.1微米之間。

9.一種權利要求1所述的超快時間分辨系統的控制方法，包括：

1)硬件連接；

2)設置精密移動平移臺的運動參數；

3)使平移臺運動；

4)運動反饋，若反饋為“否”，則返回步驟3)，若反饋為“是”，則進行下一步驟；

5)數據采集和實時顯示；

6)判斷平移臺是否到達終止位置，若判斷結果為“否”，則返回步驟3)使平移臺繼續運動，若判斷結果為“是”，則進行下一步驟；

7)數據平均；

8)判斷是否已完成設定的循環次數，若結果為“否”，則返回步驟3)使平移臺繼續運動，若結果為“是”，則進行下一步；

9)存儲數據。

10.利用權利要求1所述的超快時間分辨系統的測量方法，包括：

1)不放置樣品，進行空掃，得到測量背底曲線；

2)放入樣品進行光程掃描，得到測量曲線；

3)通過比較測量背底曲線和測量曲線得到時間延遲結果。