[發明專利]主板測試系統無效
| 申請號: | 201110104933.1 | 申請日: | 2011-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN102759698A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發明(設計)人: | 陳祥彪;吳舒琪;劉玉林 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 主板 測試 系統 | ||
1.一種主板測試系統,包括一交流電源、一測試電源供應器和一待測主板,所述測試電源供應器包括一連接到所述交流電源的整流濾波電路和一電壓輸出電路,所述整流濾波電路將所述交流電源提供的交流電轉變為一方波信號,其特征在于:所述測試電源供應器還包括一降壓電路,所述降壓電路包括一接受所述方波信號的初級線圈和一連接到所述電壓輸出電路的次級線圈,所述主板測試系統還包括一調節電路和一脈寬調制控制電路,所述脈寬調制控制電路連接到所述初級線圈而控制所述初級線圈的通斷,所述調節電路調節所述脈寬調制控制電路輸出的脈沖的占空比而控制所述初級線圈在一個周期內的導通時間。
2.如權利要求1所述的主板測試系統,其特征在于:所述調節電路包括一發光二極管,所述脈寬調制控制電路包括一光電耦合器和一脈沖生成器,所述光電耦合器中的電流大小受控于所述發光二極管的發光強度,所述脈沖生成器產生的脈沖的占空比根據所述光電耦合器中的電流的變化而變化。
3.如權利要求2所述的主板測試系統,其特征在于:所述調節電路包括一個三端可調分流基準源,所述三端可調分流基準源包括一正極、一負極和一控制端,所述三端可調分流基準源的負極連接所述發光二極管的負極,所述三端可調分流基準源的正極接地,調節所述三端可調分流基準源的控制端上的一電壓而可調節所述三端可調分流基準源的正極和負極之間的電流大小。
4.如權利要求3所述的主板測試系統,其特征在于:所述控制端通過一可變電阻連接到所述電壓輸出電路。
5.如權利要求4所述的主板測試系統,其特征在于:所述可變電阻的一滑動端連接到所述電壓輸出電路,所述可變電阻的一固定端連接到所述控制端,所述滑動端滑動而可調節所述控制端上的電壓。
6.如權利要求5所述的主板測試系統,其特征在于:所述控制端還通過一電阻接地。
7.如權利要求3所述的主板測試系統,其特征在于:所述發光二極管的正極通過一電阻連接到所述電壓輸出電路。
8.如權利要求1所述的主板測試系統,其特征在于:所述脈寬調制控制電路包括一開關,所述初級線圈通過所述開關接地,所述開關接收所述脈寬調制控制電路發出的脈沖信號而通斷。
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