[發明專利]反射式雙縫干涉儀無效
| 申請號: | 201110104568.4 | 申請日: | 2011-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN102759793A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發明(設計)人: | 汪仕元;梁冰;夏瑩 | 申請(專利權)人: | 四川大學 |
| 主分類號: | G02B26/00 | 分類號: | G02B26/00;G01J9/02;G01B9/02;G01B11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610064 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反射 式雙縫 干涉儀 | ||
1.一種反射式雙縫干涉儀,主要包括底板、單色光源、燈罩、半透半反射鏡、定鏡、動鏡、無反射膜、定鏡板、動鏡板、導軌、螺桿、螺桿座和讀數顯微鏡,其特征是單色光源、燈罩、半透半反射鏡、導軌、螺桿、螺桿座和讀數顯微鏡都安裝在底板上,定鏡固定在定鏡板上,定鏡板固定在導軌上,動鏡固定在動鏡板上,動鏡板和導軌滑動配合,定鏡和動鏡上貼有無反射膜,每個鏡上留一條反射鏡面,其寬度等于一條狹縫寬度,單色光源置于燈罩中,燈罩上開一條透光狹縫,定鏡和動鏡的正面安裝一塊半透半反射鏡,定鏡面、動鏡面在同一個平面內,與半透半反射鏡面成45度,讀數顯微鏡安裝在定鏡和動鏡到半透半反射鏡的延長線上且距定鏡、動鏡1.2m處。
2.根據權利要求1所述的反射式雙縫干涉儀,其特征是單色光透過燈罩上的透光狹縫與半透半反射鏡成45度入射,經半透半反射鏡反射后照到定鏡和動鏡上,再反射向讀數顯微鏡方向,形成干涉光,可以從讀數顯微鏡中觀察和測出干涉條紋的間距,根據雙縫干涉原理就可計算出入射光波長,定鏡和動鏡相當于雙縫,兩條反光鏡之間的空隙相當于雙縫之間的擋光條,兩條反光鏡反射的光如同透射光一樣,可以產生干涉效應,這就構成了反射式雙縫干涉儀,當動鏡在導軌上運動產生位移時,兩條反光鏡之間空隙的寬度就變化,干涉條紋間距也產生相應變化,測出干涉條紋間距的變化量,就可精確地計算出動鏡的位移量。
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