[發(fā)明專利]測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110103698.6
• 申請日: 2011-04-25
• 公開（公告）號: CN102760088A
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王冠;張國鋒;彭正全
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種用于RAID(Redundant?Array?of?Independent?Disk?獨立冗余磁盤陣列)自動測試的測試裝置。

背景技術(shù)

RAID技術(shù)是加州大學伯克利分校1987年提出，最初是為了組合小的廉價磁盤來代替大的昂貴磁盤，同時希望磁盤失效時不會使對數(shù)據(jù)的訪問受損失而開發(fā)出一定水平的數(shù)據(jù)保護技術(shù)。由于該技術(shù)可以充分發(fā)揮出多塊硬盤的優(yōu)勢，可以提升硬盤速度，增大容量，提供容錯功能確保數(shù)據(jù)安全性，易于管理，在任何一塊硬盤出現(xiàn)問題的情況下都可以繼續(xù)工作，因此在服務器上得以廣泛應用。破壞測試是RAID的可靠性測試中最為重要的測試。當前測試的方法通常是通過手動移除RAID其中一顆成員硬盤從而破壞RAID，觀察其指示燈的變化是否正常，然后重新插入另外一顆新的硬盤，觀察RAID系統(tǒng)會開始重建RAID的動作和指示燈是否正常，最后檢查重建RAID是否完成和指示燈狀態(tài)是否正常。該種測試方法操作不便，不符合現(xiàn)今對于高度自動化的需求與發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種RAID自動測試裝置。

一種測試裝置，包括RAID模塊、替換模塊、狀態(tài)識別模塊、切換模塊、控制模塊和顯示模塊。所述RAID模塊包括若干RAID成員。所述替換模塊包括至少一塊硬盤，用于替換所述RAID模塊中的RAID成員。所述狀態(tài)識別模塊用于確定所述RAID模塊和替換模塊的當前狀態(tài)，并把狀態(tài)信息送給控制模塊。所述切換模塊用于實現(xiàn)RAID模塊中的RAID成員和替換模塊之間的切換。所述控制模塊控制其它模塊以及判斷測試結(jié)果。顯示模塊顯示整個測試結(jié)果與測試所用時間。

測試裝置中，由于所述狀態(tài)識別模塊能夠自動識別RAID模塊中的RAID成員的狀態(tài)，當有硬盤被移除時，將該狀態(tài)信息傳送給控制模塊，并由控制模塊控制切換模塊自動用替換模塊替代RAID模塊中的RAID成員，從而實現(xiàn)自動移除RAID成員，并自動替換新硬盤進行重建RAID的功能，大大簡化了RAID的可靠性測試。顯示模塊還可將顯示整個測試結(jié)果與測試所用時間實時顯示，使得該測試得可視化程度大幅提高，便于準確的判斷測試失敗的原因。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一實施方式提供的一種測試裝置模塊化示意圖。

圖2是圖1中實施方式提供的一種測試裝置的外觀正面示意圖。

圖3是圖1中實施方式提供的一種測試裝置的外觀背面示意圖。

主要元件符號說明