[發(fā)明專利]一種射頻指標測試方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110102663.0
• 申請日: 2011-04-22
• 公開（公告）號: CN102164014A
• 公開（公告）日: 2011-08-24
• 發(fā)明（設計）人: 湯國東;李愛紅;楊建華
• 申請（專利權）人: 新郵通信設備有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 權鮮枝

技術領域

本發(fā)明涉及網(wǎng)絡通信技術，特別是一種射頻指標測試方法及系統(tǒng)。

背景技術

在TDD-LTE系統(tǒng)中，從單板測試到集成測試，需要測試的指標一般有：上行信號的信噪比(SNR，Signal?to?Noise?Ratio)，無雜散動態(tài)范圍(SFDR，Spurious?Free?Dynamic?range)滿量程信號幅度，單音信號功率以及DDC濾波器特性等；下行信號的相鄰頻道泄漏比(ACLR，Adjacent?Channel?LeakageRatio，)，峰值平均功率比(PAPR，Peak?to?Average?Power?Ratio)，駐波比(SWR，Voltage?Standing?Wave?Ratio)，空口輸出功率等；另外為了定位問題需要采集一定時間段內的上行信號和下行信號。

圖1是現(xiàn)有技術中射頻指標測試的系統(tǒng)結構示意圖。如圖1所示，測試上行指標時，需要使用邏輯分析儀等工具采集ADC或者DDC輸出的數(shù)據(jù)，再使用數(shù)據(jù)處理軟件進行分析得到相關指標；測試下行指標時，對數(shù)字信號的數(shù)據(jù)采集使用邏輯分析儀，采集后使用PC軟件進行后處理，其他指標只能使用頻譜分析儀進行測量。

在RRU單元內部，F(xiàn)PGA完成上下行數(shù)據(jù)處理功能，發(fā)射通道完成發(fā)射通路模擬信號處理，接收通道完成接收通路模擬信號處理，濾波器模塊輸出信號到天線單元。測量時一般是在模擬信號輸出端口完成模擬信號測試，或者在FPGA內部采集數(shù)字信號，進行相關后處理。

現(xiàn)有技術中的測試方法在測試接收指標時需要進行多次數(shù)據(jù)采集和分析處理操作，操作儀器和軟件的時間占用了大部分測試時間。尤其在做溫度實驗提取數(shù)據(jù)和生產測試階段，這種方法是非常耗費人力和時間的。

可見在現(xiàn)有技術中，對LTE系統(tǒng)中的射頻指標的測試需要使用的測量儀器多，成本高；而且測量完成后需要對數(shù)據(jù)進行的后處理復雜，耗費大量的人力和時間，效率較低。

發(fā)明內容

本發(fā)明提供了一種射頻指標測試方法，該方法能夠提高測試射頻指標的效率。

為達到上述目的，該方法是這樣實現(xiàn)的：設置射頻指標的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動預定義的該射頻指標對應的測量函數(shù)；根據(jù)所設置的射頻指標的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標的數(shù)據(jù)；通過所述測量函數(shù)將采集到的射頻指標的數(shù)據(jù)進行處理；輸出處理后的射頻指標的數(shù)據(jù)。

本發(fā)明還提供了一種射頻指標測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠提高測試射頻指標的效率。

一種射頻指標測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：FPGA模塊、處理器模塊；其中，

處理器模塊，用于根據(jù)所設置的射頻指標的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，向FPGA模塊發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令；用于接收FPGA模塊所采集到的射頻指標的數(shù)據(jù)，調用預定義的該射頻指標對應的測量函數(shù)進行處理；

FPGA模塊，用于接收處理器模塊發(fā)送的射頻指標的數(shù)據(jù)采集命令，對相應的射頻指標的數(shù)據(jù)進行采集，把采集到的射頻指標的數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器模塊進行處理。

由上述可知，本發(fā)明的技術方案，采集不同的射頻指標的數(shù)據(jù)，通過預定義的與該射頻指標對應的測量函數(shù)進行計算，輸出的計算結果就是所需的射頻指標。本發(fā)明的技術方案測量方便，節(jié)省人力成本，并且能夠提高測試射頻指標的效率和測量精度。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術中射頻指標測試的系統(tǒng)結構示意圖；

圖2是本發(fā)明中一種射頻指標測試方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明中一種射頻指標測試系統(tǒng)的結構示意圖；

圖4是本發(fā)明一個實施例中的測量SNR指標的流程圖。

具體實施方式

本發(fā)明公開了一種射頻指標測試方法及系統(tǒng)，本方明的技術方案能夠提高測試射頻指標的效率和測量精度。為了使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面結合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述。

圖2是本發(fā)明中一種射頻指標測試方法的流程圖。如圖2所示，

步驟201，設置射頻指標的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動預定義的該射頻指標對應的測量函數(shù)；

步驟202，根據(jù)所設置的射頻指標的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標的數(shù)據(jù)；

步驟203，通過所述測量函數(shù)將采集到的射頻指標的數(shù)據(jù)進行處理；

步驟204，輸出處理后的射頻指標的數(shù)據(jù)。

在步驟201中，所要設置的數(shù)據(jù)采集參數(shù)包括：設置所要采集的射頻指標的數(shù)據(jù)類型，如ADC數(shù)據(jù)或DAC數(shù)據(jù)；采集該射頻指標的數(shù)據(jù)的采集時間點，如每隔10ms采集一次數(shù)據(jù)；采集該射頻指標的數(shù)據(jù)的采樣率，如184.32Msps。