[發明專利]旋轉角度檢測裝置及旋轉角度檢測裝置的制造方法有效
| 申請號: | 201110102564.2 | 申請日: | 2011-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN102252603A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發明(設計)人: | 間瀨真;池田勉 | 申請(專利權)人: | 愛三工業株式會社 |
| 主分類號: | G01B7/30 | 分類號: | G01B7/30;G01D5/14 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 旋轉 角度 檢測 裝置 制造 方法 | ||
1.一種旋轉角度檢測裝置(40),其包括:
模制部(52),其由樹脂制成并且為具有中心軸線的大致圓筒狀;以及
轉換IC(44),其被埋設在模制部(52)中,并且具有:磁場檢測部(45)、運算部(47)和將所述磁場檢測部(45)與所述運算部(47)連接的導線(46),其中,所述導線(46)被彎曲成使得所述磁場檢測部(45)被配置成與所述模制部(52)的中心軸線垂直并且使得所述運算部(47)被配置成與所述模制部(52)的中心軸線平行,
其特征在于,
所述導線(46)之一和所述運算部(47)之間的連接部被定位成比所述導線(46)的徑向外端靠近所述模制部(52)的中心軸線。
2.根據權利要求1所述的旋轉角度檢測裝置(40),其特征在于,
每個所述導線(46)均具有以小于90°的角度彎曲的彎曲部(R1)。
3.根據權利要求1或2所述的旋轉角度檢測裝置(40),其特征在于,
每個所述導線(46)均被彎曲成大致S字形狀。
4.根據權利要求1~3中的任一項所述的旋轉角度檢測裝置(40),其特征在于,
每個所述導線(46)均具有靠近所述磁場檢測部(45)的第一直線端和靠近所述運算部(47)的第二直線端。
5.一種旋轉角度檢測裝置(40)的制造方法,所述旋轉角度檢測裝置(40)包括樹脂制的模制部(52)以及埋設在所述模制部(52)中的轉換IC(44),所述轉換IC(44)具有磁場檢測部(45)、運算部(47)和將所述磁場檢測部(45)與所述運算部(47)連接的導線(46),所述制造方法包括:
將所述導線(46)彎曲成使得所述磁場檢測部(45)被定位成幾乎與所述運算部垂直;
將所述轉換IC(44)安裝到具有帶引導槽(K2M;K3M)的凸部的下模(K2;K3),使得所述磁場檢測部(45)與所述引導槽(K2M;K3M)嵌合;
利用限定密封空間(52K)的上模(K1)覆蓋所述下模(K2;K3),使得所述下模(K2;K3)和所述轉換IC(44)被載置在所述密封空間(52K)中;
利用所述模制部(52)用的樹脂填充所述密封空間(52K)。
6.根據權利要求5所述的旋轉角度檢測裝置(40)的制造方法,其特征在于,
所述磁場檢測部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有從所述磁場檢測部(45)突出的相反端;
所述下模(K2)具有形成在所述引導槽(K2M)下方的定位面(K23);以及
安裝所述轉換IC(44)包括將所述定位板(45c)的相反端與所述引導槽(K2M)嵌合并且使所述磁場檢測部(45)與所述定位面(K23)接觸。
7.根據權利要求5所述的旋轉角度檢測裝置(40)的制造方法,其特征在于,
所述磁場檢測部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有從所述磁場檢測部(45)突出的相反端;
所述下模(K3)具有形成在所述引導槽(K3M)下端的引導面(K33);以及
安裝所述轉換IC(44)包括將所述定位板(45c)的相反端與所述引導槽(K3M)嵌合并且使所述定位板(45c)的端部與所述引導面(K33)接觸。
8.根據權利要求5~7中的任一項所述的旋轉角度檢測裝置(40)的制造方法,其特征在于,所述制造方法還包括:
將所述運算部(47)與端子(48、49、54)相連;
使填充在所述密封空間(52K)中的樹脂硬化,從而形成限定配置下模(K2;K3)的空洞空間(K2K;K3K)的模制部(52),
從所述模制部(52)移除所述下模(K2;K3);以及
將電子零件(C1)配置在所述空洞空間(K2K;K3K)中,然后將所述電子零件(C1)與至少一個所述端子(48、49、54)相連。
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