[發明專利]基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法

無效

• 申請號: 201110102562.3
• 申請日: 2011-04-22
• 公開（公告）號: CN102262080A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 秦峰;程建敏;鄭仰東;張治國
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

1.基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，它是基于下述硬件系統實現的，所述硬件系統包括一號偏振棱鏡(1)、電光調制器(2)、二號偏振棱鏡(3)、一號透鏡(4)、二號透鏡(6)、光譜儀(7)、探測器(8)、示波器(9)、信號發生器(12)、激光器(14)和高壓電源模塊(15)；其特征是：基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法是：激光器(14)發出的連續激光入射至一號偏振棱鏡(1)，經一號偏振棱鏡(1)提高偏振度后入射至電光調制器(2)的光輸入端，經過高壓電源驅動的電光調制器(2)對偏振方向進行調制后，入射至二號偏振棱鏡(3)，經二號偏振棱鏡(3)偏振消光后入射至一號透鏡(4)，經一號透鏡(4)會聚至待測稀土樣品(5)，并激發待測稀土樣品(5)產生熒光，所述熒光入射至二號透鏡(6)，經二號透鏡(6)會聚至光譜儀(7)的光接收端，經光譜儀(7)分光獲得熒光信號；

信號發生器(12)產生控制信號并輸入至高壓電源模塊(15)，高壓電源模塊(15)根據所述控制信號產生高壓電源，用于驅動電光調制器(2)，信號發生器(12)同時作為示波器(9)獲取波形的觸發信號源；

采用光電探測器(8)探測經光譜儀(7)分光后的熒光信號，并將探測信號輸入示波器(9)建立探測結果的衰減曲線；

對所述探測結果的衰減曲線進行擬合，獲得稀土離子輻射壽命，并將所述稀土離子輻射壽命作為稀土離子輻射性質結果。

2.根據權利要求1所述的基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，其特征在于采用計算機(10)控制光譜儀(7)旋轉。

3.根據權利要求1或2所述的基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，其特征在于采用驅動器(13)驅動激光器(14)發出的連續激光。

4.根據權利要求3所述的基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，其特征在于高壓電源模塊(15)采用高壓直流電源，其電壓調節范圍是-250V～250V。

5.根據權利要求1、2或4所述的基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，其特征在于激光器(14)發出的連續激光為連續釹離子激光。

6.根據權利要求5所述的基于單色連續激光測量固體中稀土離子輻射性質的方法，其特征在于激光器(14)發出的連續激光為波長為532nm的連續激光。