[發明專利]一種含氧化石墨的納米材料及其制備方法和水處理劑及水處理方法
| 申請號: | 201110101910.5 | 申請日: | 2011-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN102744030A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 方英;張濤 | 申請(專利權)人: | 國家納米科學中心 |
| 主分類號: | B01J20/02 | 分類號: | B01J20/02;B01J20/30;C02F1/28 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 陳小蓮;周建秋 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氧化 石墨 納米 材料 及其 制備 方法 水處理 | ||
1.一種含氧化石墨的納米材料,其特征在于,該納米材料含有氧化石墨和硒納米顆粒。
2.根據權利要求1所述的含氧化石墨的納米材料,其中,所述氧化石墨與所述硒納米顆粒的質量比為100∶1到1∶100,優選為20∶1到1∶20。
3.根據權利要求1或2所述的含氧化石墨的納米材料,其中,所述硒納米顆粒附著在所述氧化石墨的表面和/或所述氧化石墨的層狀結構的層間。
4.根據權利要求3所述的含氧化石墨的納米材料,其中,在100W超聲條件下,超聲10min,所述硒納米顆粒的脫落率<1%。
5.根據權利要求1所述的含氧化石墨的納米材料,其中,所述氧化石墨的橫向尺寸為50-50000納米。
6.根據權利要求1所述的含氧化石墨的納米材料,其中,所述硒納米顆粒的粒徑為10-1000納米。
7.一種含氧化石墨的納米材料的制備方法,其特征在于,該方法包括在負價硒化合物氧化為單質硒的條件下和氧化劑存在下,使氧化石墨分散液與負價硒化合物接觸;或者
在正價硒化合物還原為單質硒的條件下和還原劑存在下,使氧化石墨分散液與正價硒化合物相接觸。
8.根據權利要求7所述的含氧化石墨的納米材料的制備方法,其中,所述負價硒化合物中的硒元素:氧化劑的摩爾比為1∶1到1∶20,氧化石墨與所述負價硒化合物中的硒元素質量比為1∶100到100∶1;所述正價硒化合物中的硒元素:還原劑的摩爾比為1∶1到1∶20,氧化石墨與所述正價硒化合物中的硒元素質量比為100∶1到1∶100。
9.根據權利要求7或8所述的含氧化石墨的納米材料的制備方法,其中,所述氧化劑為羥基自由基、單線態氧、過氧化氫的一種或多種,所述負價硒化合物為硒脲、硒代氨基酸、硒蛋白的一種或多種,所述還原劑為抗壞血酸、抗壞血酸鈉、谷胱甘肽、淀粉、肼、二氧化硫、硼氫化鈉的一種或者多種,所述正價硒化合物為二氧化硒、亞硒酸、亞硒酸鈉的一種或多種。
10.根據權利要求9所述的含氧化石墨的納米材料的制備方法,其中,所述還原劑為抗壞血酸,且所述抗壞血酸以濃度范圍為10-1000mmol/L的抗壞血酸溶液使用;所述正價硒化合物為亞硒酸鈉,且所述亞硒酸鈉以濃度范圍為10-1000mmol/L的亞硒酸鈉溶液使用;所述氧化石墨分散液的濃度范圍為0.1-1mg/ml。
11.根據權利要求8所述的含氧化石墨的納米材料的制備方法,其中,所述負價硒化合物氧化為單質硒的條件包括溫度為0至100℃,時間為0.5-5小時;所述正價硒化合物還原為單質硒的條件包括溫度為-20℃至60℃,時間為0.5-5小時。
12.一種含氧化石墨的納米材料的制備方法,其特征在于,該方法包括:將氧化石墨分散液與硒納米顆粒分散液混合,攪拌。
13.根據權利要求12所述的含氧化石墨的納米材料的制備方法,其中,氧化石墨分散液的濃度范圍為0.1-1mg/ml,硒納米顆粒分散液的濃度范圍為0.1-2mg/ml,硒納米顆粒與氧化石墨的質量比為100∶1到1∶100,優選為20∶1到1∶20。
14.由權利要求7-13任意一項所述的方法制備的含氧化石墨的納米材料。
15.一種水處理劑,其特征在于,該水處理劑含有權利要求1-6和14中任意一項的所述的含氧化石墨的納米材料。
16.一種水處理方法,其特征在于,該方法包括使權利要求1-6和14任意一項所述的含氧化石墨的納米材料與水接觸。
17.根據權利要求16所述的水處理方法,其中,所述方法還包括向接觸后的產物中加入絮凝劑,絮凝劑∶含氧化石墨的納米材料的重量比為1∶1到1∶20。
18.根據權利要求17所述的水處理方法,其中,所述絮凝劑為聚合鋁類絮凝劑、聚丙烯酰胺類絮凝劑、聚合鐵類絮凝劑、活性硅酸類絮凝劑中的一種或多種。
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