[發(fā)明專利]阻變存儲器單元有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110101033.1 | 申請日: | 2011-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN102750979A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉琦;劉明;龍世兵;呂杭炳;謝常青 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號: | G11C11/56 | 分類號: | G11C11/56 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯長明;王寶筠 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲器 單元 | ||
1.一種阻變存儲器單元,其特征在于,包括:
阻變存儲器和雙態(tài)電阻器,其中,所述阻變存儲器串接所述雙態(tài)電阻器,所述雙態(tài)電阻器為具有雙向非對稱整流特性的選通器件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述阻變存儲器具有單極性阻變特性,所述雙態(tài)電阻器的第一電壓極性下的最大閾值電壓為V1、第二電壓極性下的最大閾值電壓為V3,所述阻變存儲器的設(shè)置電壓為Vset、重置電壓為Vreset,其中,Vset>|V1|,Vreset>|V1|,|V3|>|V1|。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述阻變存儲器具有單極性阻變特性,所述雙態(tài)電阻器的第一電壓極性下的最大閾值電壓為V1、第二電壓極性下的最大閾值電壓為V3,所述阻變存儲器的重置電壓為Vreset,當(dāng)阻變存儲器處于低阻態(tài)時,對阻變存儲器單元加讀電壓為Vread,其中,|V1|<Vread<Vreset,|Vread|<|V3|。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述阻變存儲器具有雙極性阻變特性,所述雙態(tài)電阻器的第一電壓極性下的最大閾值電壓為V1、第二電壓極性下的最大閾值電壓為V3,所述阻變存儲器的設(shè)置電壓為Vset、重置電壓為Vreset,其中,Vset>|V1|。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述阻變存儲器具有雙極性阻變特性,所述雙態(tài)電阻器的第一電壓極性下的最大閾值電壓為V1、第二電壓極性下的最大閾值電壓為V3,所述阻變存儲器的設(shè)置電壓為Vset,當(dāng)阻變存儲器處于低阻態(tài)時,對阻變存儲器單元加讀電壓為Vread,其中,|V1|<Vread<Vset,|Vread|<|V3|。
6.一種阻變存儲器單元,其特征在于,包括:
下電極;
下電極上的n型第一半導(dǎo)體層、n型第一半導(dǎo)體層上的p型第二半導(dǎo)體層以及p型第二半導(dǎo)體層上的n型第三半導(dǎo)體層;
n型第三半導(dǎo)體層上的共用電極;
共用電極上的阻變功能層;
阻變功能層上的上電極;
其中,所述下電極、n型第一半導(dǎo)體層、p型第二半導(dǎo)體層、n型第三半導(dǎo)體層以及中間電極組成雙態(tài)電阻器,所述中間電極、阻變功能層和上電極組成阻態(tài)存儲器,所述雙態(tài)電阻器為具有雙向非對稱整流特性的選通器件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6中所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述n型第一半導(dǎo)體層、p型第二半導(dǎo)體層和n型第三半導(dǎo)體層包括:Si、Ge、GaAs、InP或SiGe。
8.一種阻變存儲器單元,其特征在于,包括:
下電極;
下電極之上的阻變功能層;
阻變功能層上的共用電極;
共用電極上的n型第一半導(dǎo)體層、n型第一半導(dǎo)體層上的p型第二半導(dǎo)體層以及p型第二半導(dǎo)體層上的n型第三半導(dǎo)體層;
n型第三半導(dǎo)體層上的上電極;
其中,所述下電極、n型第一半導(dǎo)體層、p型第二半導(dǎo)體層、n型第三半導(dǎo)體層以及中間電極組成雙態(tài)電阻器,所述中間電極、阻變功能層和上電極組成阻態(tài)存儲器,所述雙態(tài)電阻器為具有雙向非對稱整流特性的選通器件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的阻變存儲器單元,其特征在于,所述n型第一半導(dǎo)體層、p型第二半導(dǎo)體層和n型第三半導(dǎo)體層包括:Si、Ge、GaAs、InP或SiGe。
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