[發明專利]一種聲發射檢測設備探頭的通用固定裝置無效
| 申請號: | 201110100501.3 | 申請日: | 2011-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN102253124A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發明(設計)人: | 張崢;李麗菲 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01N29/22 | 分類號: | G01N29/22;G01D11/16 |
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| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 聲發 檢測 設備 探頭 通用 固定 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及聲發射探測設備探頭的固定裝置,具體而言,涉及一種用于固定該探頭的通用固定裝置。
背景技術
材料中局域源快速釋放能量產生瞬態彈性波的現象稱為聲發射(Acoustic?Emission,簡稱AE)。聲發射是一種常見的物理現象,各種材料聲發射信號的頻率范圍很寬,從幾Hz的次聲頻、20Hz~20KHz的聲頻到數MHz的超聲頻;聲發射信號幅度的變化范圍也很大,從10m的微觀位錯運動到1m量級的地震波。如果聲發射釋放的應變能足夠大,就可產生人耳聽得見的聲音。大多數材料變形和斷裂時有聲發射發生,但許多材料的聲發射信號強度很弱,人耳不能直接聽見,需要藉助靈敏的電子儀器才能檢測出來。用儀器探測、記錄、分析聲發射信號和利用聲發射信號推斷聲發射源的技術稱為聲發射技術,人們將聲發射設備形象地稱為材料的聽診器。
在利用聲發射探頭進行檢測的過程中,由于實際工況的復雜性,很多情況下聲發射探頭常常需要花費相當的時間和精力才能有效地固定,且不同高度、不同直徑的探頭往往需要配備多種的對應固定裝置,這就使得現場檢驗人員不得不攜帶多種固定裝置從而帶來很多不便。例如,現有的一些探頭固定裝置多采用磁性固定,僅能方便地應用于檢測鐵磁性材料的待測物;現有的探頭固定裝置往往只適用于一種直徑的探頭,對于不同直徑的探頭要么無法固定,要么無法實現穩固的固定;現有的探頭固定裝置往往只適用于固定一種具體高度的探頭,無法對高度差別較大的多個探頭都實現穩固的固定;由于現場檢驗中往往涉及多個探頭,不同探頭與對應的固定裝置之間有時會出現松動,當發生松動使探頭與待測物之間的耦合力過小時,往往從外觀上無法確定松動的發生。因此,有必要提供一種在多種工況下都能實現快速、可靠地固定的探頭通用固定裝置。
發明內容
本發明的目的在于提供一種用于固定聲發射探頭的通用固定裝置,可以對不同高度和直徑的聲發射探頭都能實現快速、可靠地固定,且只需配一種探頭壓帽減少了需要攜帶的探頭固定裝置的數量而使得攜帶方便。
本發明是這樣實現的:
一種聲發射檢測設備探頭的通用固定裝置,其包括主體、高度調節推桿,推桿壓帽連接件以及可更換式探頭壓帽,其特征在于,
所述主體,其從主視圖方向看為左右對稱的“幾”字型結構,該“幾”字型結構的頂部為所述主體的蓋部,所述主體的蓋部上設置有具有內螺紋的孔,該“幾”字型結構的側部為所述主體的框體,該“幾”字型結構的底部為所述主體的底部,所述主體的底部用于固定在待測物表面上,所述推桿壓帽連接件以及所述可更換式探頭壓帽位于該“幾”字型結構的腔體內;
所述可更換式探頭壓帽,具有位于其側部的外螺紋和位于其底部的的凹進的探頭壓接面,該探頭壓接面的直徑與探頭的直徑相配合,并且該探頭壓接面上設置有用于檢測所述探頭壓接面對于所述探頭的壓力的壓敏傳感器;
高度調節推桿,其包括具有與所述蓋部上的孔的內螺紋相配合的外螺紋的推桿主體,其還包括位于所述高度調節推桿的底部的推桿底端,其中所述推桿底端的直徑大于所述推桿主體的直徑;所述高度調節推桿通過調節穿過所述蓋部上的孔進入到所述主體的所述“幾”字型結構的所述高度調節推桿(2)的長度來控制所述探頭壓接面(41)與待測物表面的距離以配合不同高度的所述探頭;
推桿壓帽連接件,設置在所述高度調節推桿與所述可更換式探頭壓帽之間并用于將兩者連接起來,其包括上筒體連接件和下連接件,且上筒體連接件為非貫通的筒體,其頂端具有開口,所述推桿底端伸入在所述上筒體連接件內部的筒體內,所述開口的直徑小于所述上筒體連接件內部的筒體的直徑和所述推桿底端的直徑以防止所述推桿底端從所述上筒體連接件的筒體中脫出,在所述推桿底端與所述上筒體連接件內部的筒體的底部之間設置有彈簧,所述高度調節推桿施加的力通過彈簧穩定地傳導到可更換式探頭壓帽并最終傳導到探頭上,所述下連接件具有內螺紋以與所述可更換式探頭壓帽的外螺紋相旋接使所述可更換式探頭壓帽能夠固定到所述推桿壓帽連接件上;
并且,其中,能夠根據探頭的直徑更換所述探頭壓接面的直徑不同的可更換式探頭壓帽。
其中,進一步包括壓力顯示單元,用于將所述壓敏傳感器檢測到的壓力信號顯示出來供檢驗人員實時了解所述探頭的固定情況。
其中,所述探頭壓接面與待測物表面的可調距離范圍為8mm-40mm,以適合8mm-40mm高度范圍內的探頭。
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