[發(fā)明專利]紅外線吸收式氣體分析計有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110093410.1 | 申請日: | 2011-03-31 |
| 公開(公告)號: | CN102401787A | 公開(公告)日: | 2012-04-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田邊亮;肥山道行 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | G01N21/35 | 分類號: | G01N21/35 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 徐申民 |
| 地址: | 日本京都市*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 紅外線 吸收 氣體 分析 | ||
1.一種紅外線吸收式氣體分析計,其具有發(fā)出紅外光的光源、導(dǎo)入樣本氣體的測定氣室、檢測通過了測定氣室的紅外光的強(qiáng)度的檢測部,所述檢測部具有流量傳感器,并封入有二氧化硫,所述流量傳感器的梳型電阻體的材料為鎳,該紅外線吸收式氣體分析計的特征在于,使梳型電阻體的溫度為所述鎳和所述二氧化硫反應(yīng)而不生成硫化鎳的溫度。
2.如權(quán)利要求1所述的紅外線吸收式氣體分析計,其特征在于,設(shè)定施加于所述梳型電阻體的電壓,以使得所述梳型電阻體的溫度為不生成所述硫化鎳的溫度。
3.如權(quán)利要求2所述的紅外線吸收式氣體分析計,其特征在于,連接所述梳型電阻體、電壓源、以及固定電阻而形成橋接電路,選擇電壓源的電壓值以及所述固定電阻的電阻值,以使得所述梳型電阻體的溫度為不生成所述硫化鎳的溫度。
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的紅外線吸收式氣體分析計,其特征在于,不生成所述硫化鎳的溫度為攝氏100度以下。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





