[發(fā)明專利]自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)和方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110092561.5
• 申請(qǐng)日: 2011-04-13
• 公開（公告）號(hào): CN102737725A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林殷茵;嚴(yán)冰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 復(fù)旦大學(xué)
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 上海元一成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31268
• 代理人: 吳桂琴

1.一種自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，包括由指令存儲(chǔ)器（101）、指令譯碼器（102）和程序計(jì)數(shù)器（103）組成的微處理器，讀寫控制器（104），地址產(chǎn)生器（105）和數(shù)據(jù)產(chǎn)生器（106），以及輸出響應(yīng)分析模塊（108）和故障信息輸出模塊（109），其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括：

故障計(jì)數(shù)與暫存模塊（110），用于記錄在各種工作方案下檢測(cè)到的故障數(shù)量，并予以保存；

工作方案比較與確定模塊（111），用于比較各種工作方案下的測(cè)試結(jié)果并確定最優(yōu)的方案組合作為該顆存儲(chǔ)器芯片的最終工作方案。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，其中：

故障計(jì)數(shù)與暫存模塊（110）包括一個(gè)故障計(jì)數(shù)器和若干個(gè)并入串出的移位寄存器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，其中：所述故障計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)檢測(cè)到的故障數(shù)目，測(cè)試結(jié)束后將該計(jì)數(shù)結(jié)果和相應(yīng)的工作方案編碼并行存入其中一個(gè)移位寄存器。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，其中：

工作方案比較與確定模塊（111）比較在不同的方案組合下的測(cè)試結(jié)果并確定一種最好的方案反饋給存儲(chǔ)器。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，其中：

工作方案比較與確定模塊（111）可以將寄存器中的測(cè)試結(jié)果串行輸出至外部的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，以便測(cè)試者了解測(cè)試的結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)，其中：微處理器通過譯碼執(zhí)行指令存儲(chǔ)器（101）中的指令，控制讀寫控制器（104）、地址產(chǎn)生器（105）和數(shù)據(jù)產(chǎn)生器（106）生成測(cè)試待測(cè)存儲(chǔ)器所需要的控制、地址、數(shù)據(jù)信息。

7.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述一種自動(dòng)優(yōu)化存儲(chǔ)器性能的可編程內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)的內(nèi)建自測(cè)方法，包括以下步驟：

在一種測(cè)試工作方案下對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，故障計(jì)數(shù)與暫存模塊（110）記錄在此過程中檢測(cè)到的故障數(shù)量；

改變測(cè)試工作方案，重復(fù)上述操作；

當(dāng)遍歷所有的方案后，通過工作方案比較與確定模塊（111）比較各種工作方案并確定最優(yōu)的方案作為存儲(chǔ)器的測(cè)試工作方案。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的內(nèi)建自測(cè)方法，其中，

故障計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)檢測(cè)到的故障數(shù)目，測(cè)試結(jié)束后將該計(jì)數(shù)結(jié)果和相應(yīng)的測(cè)試工作方案編碼并行存入一個(gè)移位寄存器。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的內(nèi)建自測(cè)方法，其中：

工作方案比較與確定模塊（111）比較在不同的方案組合下的測(cè)試結(jié)果并確定一種最好的方案反饋給存儲(chǔ)器。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的內(nèi)建自測(cè)方法，其中：

工作方案比較與確定模塊（111）可以將寄存器中的測(cè)試結(jié)果串行輸出至外部的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，以便測(cè)試者了解測(cè)試的結(jié)果。