[發明專利]一種用于垂直發光二極管的測試分選裝置

無效

• 申請號: 201110091831.0
• 申請日: 2011-04-13
• 公開（公告）號: CN102728562A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 劉穎
• 申請（專利權）人: 同方光電科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于垂直發光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤（102）、測試盤（104）、分選盤（110）和測試系統（108），其特征在于，所述待測試盤（102）、測試盤（104）和分選盤（110）都設為可旋轉、水平移動及上下移動的圓盤，置于測試盤（104）一側的待測試盤（102）上置有芯片（101），分選盤（110）置于測試盤（104）的另一側，測試盤（104）上表面一圈均布多個放置槽（105），各放置槽（105）底部連接真空管，測試盤（104）上方與測試位置的放置槽（105）的對應處置有探頭（107）和探針（106），探頭（107）和探針（106）分別與測試系統（108）相連接，待測試盤（102）和測試盤（104）之間設有能旋轉換位的測試吸嘴（103），分選盤（110）和測試盤（104）之間設有能旋轉換位的分選吸嘴（109）。

2.一種用于垂直發光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤（102）、測試盤（104）、分選盤（110）和測試系統（108），其特征在于，所述待測試盤（102）和分選盤（110）都設為可旋轉、水平移動及上下移動的圓盤，置于測試盤（104）一側的待測試盤（102）上置有芯片（101），分選盤（110）置于測試盤（104）的另一側，測試盤（104）上表面一圈均布多個放置槽（105），各放置槽（105）底部連接真空管，測試盤（104）上方置有能水平移動和上下移動的探頭（107）及探針（106），探頭（107）和探針（106）分別與測試系統（108）相連接，待測試盤（102）和測試盤（104）之間設有能旋轉換位的測試吸嘴（103），分選盤（110）和測試盤（104）之間設有能旋轉換位的分選吸嘴（109）。