[發(fā)明專利]遠(yuǎn)程可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)及其方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110088891.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-04-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102739463A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-10-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫蘋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 希姆通信息技術(shù)(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04L12/26 | 分類號(hào): | H04L12/26 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 薛琦 |
| 地址: | 200335 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 遠(yuǎn)程 可靠性 壽命 驗(yàn)證 測(cè)試 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及其方法,特別是涉及一種遠(yuǎn)程可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)及其方法。
背景技術(shù)
隨著科學(xué)技術(shù)的日益發(fā)展,同類產(chǎn)品的功能越來(lái)越完善,競(jìng)爭(zhēng)也越來(lái)越激烈,客戶對(duì)產(chǎn)品的可靠性要求也越來(lái)越高。目前,在產(chǎn)品研發(fā)階段,為了解產(chǎn)品的平均無(wú)故障間隔時(shí)間,驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性是否滿足設(shè)計(jì)的要求,必須對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性壽命驗(yàn)證。
產(chǎn)品平均無(wú)故障間隔時(shí)間,目標(biāo)值一般是根據(jù)客戶的要求,或者根據(jù)MIL?STD的標(biāo)準(zhǔn)預(yù)計(jì)得到。例如:有些公司的工業(yè)級(jí)應(yīng)用的產(chǎn)品的平均無(wú)故障間隔時(shí)間為十年。通常是依據(jù)該目標(biāo)值,結(jié)合該公司的可靠性驗(yàn)證測(cè)試規(guī)范,來(lái)制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試方案。包括領(lǐng)取測(cè)試樣品,搭建測(cè)試環(huán)境,然后通過(guò)超級(jí)終端,不斷地使樣品處于工作狀態(tài)。這樣反復(fù)測(cè)試,確認(rèn)其壽命。
圖1為現(xiàn)有的可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試的架構(gòu)圖。然而這種現(xiàn)有的測(cè)試方式,卻存在以下的弊端:
弊端一、每次進(jìn)行用戶模擬時(shí),都需要測(cè)試員到基地的實(shí)驗(yàn)室操作測(cè)試用的電腦。而通常測(cè)試員的辦公地點(diǎn)與可靠性實(shí)驗(yàn)室之間相隔一定的距離,有有還比較遠(yuǎn)(比如分別位于上海的徐匯區(qū)和嘉定區(qū)),如果每次來(lái)回,光路上都需要兩個(gè)小時(shí),這樣試驗(yàn)周期比較久,有的更久甚至需要一個(gè)月,所以特別耗費(fèi)人力資源。
弊端二、測(cè)試完全由測(cè)試員手動(dòng)進(jìn)行,難以保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、一致性與規(guī)范性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試和遠(yuǎn)程控制的缺陷,提供一種可遠(yuǎn)程控制,并能節(jié)省人力資源,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,一致性和規(guī)范性的遠(yuǎn)程可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)及其方法。
本發(fā)明是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題的:一種遠(yuǎn)程可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng),其包括一內(nèi)置若干測(cè)試樣品的環(huán)境試驗(yàn)箱,一用于模擬用戶操作的測(cè)試用電腦,所述環(huán)境試驗(yàn)箱與所述測(cè)試用電腦通過(guò)一USB集線器相連,所述環(huán)境試驗(yàn)箱包括一可操控的控制界面,其特點(diǎn)在于,
所述測(cè)試系統(tǒng)還包括一遠(yuǎn)程控制電腦,用于通過(guò)TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議,直接登錄所述測(cè)試用電腦,對(duì)所述測(cè)試樣品進(jìn)行遠(yuǎn)程模擬用戶操作,并且對(duì)所述環(huán)境試驗(yàn)箱的環(huán)境運(yùn)行條件進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)控;
所述測(cè)試用電腦內(nèi)置一用于監(jiān)控所述環(huán)境試驗(yàn)箱的環(huán)境運(yùn)行條件的環(huán)境運(yùn)行控制模塊,及一用于對(duì)所有所述測(cè)試樣品依次進(jìn)行模擬用戶操作的自動(dòng)測(cè)試模塊;
所述環(huán)境試驗(yàn)箱的控制界面內(nèi)置一與所述測(cè)試用電腦的環(huán)境運(yùn)行控制模塊相應(yīng)的運(yùn)行串口,所述運(yùn)行串口用于與所述測(cè)試用電腦電連接,接收由所述測(cè)試用電腦發(fā)來(lái)的環(huán)境條件操作控制指令。
較佳地,所述控制界面內(nèi)置的與所述測(cè)試用電腦的環(huán)境運(yùn)行控制模塊相應(yīng)的運(yùn)行串口為RS-485串口,所述測(cè)試用電腦的另一端連RS-232串口。
較佳地,所述測(cè)試樣品為無(wú)線模塊。
較佳地,所述模擬用戶操作包括模擬用戶進(jìn)行無(wú)線通訊模擬操作。
較佳地,所述無(wú)線通訊模擬操作包括模擬用戶進(jìn)行打電話、發(fā)短信和通過(guò)一服務(wù)器進(jìn)行TCP/IP上網(wǎng)操作。
較佳地,所述服務(wù)器用于與所述測(cè)試用電腦進(jìn)行TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸。
較佳地,所述環(huán)境運(yùn)行條件至少包括:溫度條件和濕度條件。
本發(fā)明還提供一種基于如上任意一項(xiàng)所述的遠(yuǎn)程可靠性壽命驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法,其特點(diǎn)在于,其包括以下步驟:
S1、在配置實(shí)網(wǎng)卡、串口線和天線后,將所有測(cè)試樣品放入所述環(huán)境試驗(yàn)箱中;
S2、各所述串口線分別通過(guò)所述USB集線器連到所述測(cè)試用電腦上;
S3、預(yù)先選擇每個(gè)所述測(cè)試樣品所對(duì)應(yīng)的所述USB集線器的串口號(hào)以及波特率;
S4、所述遠(yuǎn)程控制電腦通過(guò)TCP/IP服務(wù)協(xié)議登錄所述測(cè)試用電腦;及
S5、對(duì)所述測(cè)試樣品進(jìn)行遠(yuǎn)程操作與監(jiān)控。
較佳地,步驟S5中的遠(yuǎn)程操作與監(jiān)控包括以下步驟:
S51、對(duì)所述測(cè)試樣品自動(dòng)進(jìn)行遠(yuǎn)程模擬用戶操作;
S52、對(duì)所述環(huán)境試驗(yàn)箱進(jìn)行遠(yuǎn)程環(huán)境運(yùn)行條件測(cè)試與監(jiān)控。
較佳地,步驟S51包括以下步驟:
S511、進(jìn)行通話測(cè)試;
S512、進(jìn)行短信編輯或發(fā)送測(cè)試;
S513、通過(guò)一服務(wù)器進(jìn)行TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸測(cè)試;及
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