[發(fā)明專利]用于在擊穿電壓測(cè)試儀中模擬缺陷的方法和擊穿電壓測(cè)試儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110082116.0
• 申請(qǐng)日: 2011-04-01
• 公開（公告）號(hào): CN102213742A
• 公開（公告）日: 2011-10-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: H·斯考拉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 斯考拉股份公司
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12;G01R31/14;G01R31/08;G01R19/17
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 董華林

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種根據(jù)權(quán)利要求1的用于在擊穿電壓測(cè)試儀/火花測(cè)試儀(Durchlaufspannungsprüfer)中模擬缺陷的方法和一種根據(jù)權(quán)利要求8的擊穿電壓測(cè)試儀。

背景技術(shù)

已知電纜和經(jīng)絕緣處理的導(dǎo)線必須具有規(guī)定的絕緣強(qiáng)度/介電強(qiáng)度。對(duì)于電纜和經(jīng)絕緣處理的導(dǎo)線長期以來就存在擊穿電壓測(cè)試儀器，所述擊穿電壓測(cè)試儀器根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)借助于測(cè)試電壓來測(cè)試導(dǎo)線以發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷。為此數(shù)年來就已經(jīng)存在歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN?50336，該標(biāo)準(zhǔn)描述和規(guī)定了這種儀器的結(jié)構(gòu)和不同的測(cè)試電壓，此外還對(duì)如何能對(duì)識(shí)別在絕緣部中的缺陷部位的靈敏度進(jìn)行檢查提供了指導(dǎo)。該歐洲標(biāo)準(zhǔn)的修訂版是EN62230：2007。在該標(biāo)準(zhǔn)中提出了不同的測(cè)試電壓形式：40至62Hz的交流電壓、具有接近正弦形的變化曲線和500Hz至1MHz頻率的交流電壓以及具有快速的升高沿和強(qiáng)烈衰減的下降沿的脈沖電壓。此外，擊穿電壓測(cè)試儀還必須包含顯示系統(tǒng)，如果由于絕緣部或包皮存在缺陷，電纜的絕緣或包皮不能承受測(cè)試電壓并相對(duì)于接地導(dǎo)體發(fā)生擊穿，則所述顯示系統(tǒng)能在視覺和/或聽覺上指示缺陷。這種缺陷檢測(cè)器必須這樣控制一數(shù)字式的計(jì)數(shù)器，使得能對(duì)每一個(gè)分散的缺陷進(jìn)行計(jì)數(shù)。所述缺陷檢測(cè)器還必須在完整的電纜檢查結(jié)束之前對(duì)缺陷進(jìn)行匯總/累計(jì)。計(jì)數(shù)器必須保持顯示，直至記錄了下一個(gè)缺陷或手動(dòng)清除顯示。

對(duì)于擊穿電壓測(cè)試儀的靈敏度，要求當(dāng)在電極和地面之間連接人工產(chǎn)生的缺陷時(shí)，缺陷顯示器發(fā)生響應(yīng)。為此已知，設(shè)置一所謂的缺陷模擬器。所述缺陷模擬器這樣設(shè)定，使得對(duì)于每個(gè)被模擬的缺陷所述缺陷?模擬器對(duì)于交流電壓和高頻電壓導(dǎo)致在一火花隙中放電持續(xù)0.025秒的時(shí)長，而對(duì)于直流電壓持續(xù)0.0005秒的時(shí)長。可以激勵(lì)產(chǎn)生由至少20次所述放電組成的序列，其中這些放電應(yīng)具有不大于1秒的間隔。缺陷檢測(cè)器的靈敏度這樣設(shè)定，對(duì)于每次放電不會(huì)記錄多于和少于一次計(jì)數(shù)脈沖。

一種已知的用來滿足所述要求的缺陷模擬器設(shè)置了一種由電機(jī)通過傳動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)的絕緣盤，所述絕緣盤攜帶永久地處于接地電勢(shì)的電極。與該電極相對(duì)置地設(shè)置一靜止的針電極，給所述針電極施加測(cè)試電壓，針電極與盤式電極之間的距離是規(guī)定的。針電極的尺寸也是規(guī)定的(EN62230：2007附件B)。

使用擊穿電壓測(cè)試儀的電纜生產(chǎn)設(shè)備的企業(yè)因此有義務(wù)借助于模擬器經(jīng)常性地檢查擊穿電壓測(cè)試儀。適宜的是每年對(duì)靈敏度進(jìn)行至少一次評(píng)測(cè)，以及在擊穿電壓測(cè)試儀首次安裝之后和在每次維修之后或大的調(diào)整之后對(duì)靈敏度進(jìn)行至少一次評(píng)測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，提供一種方法以及一種擊穿電壓測(cè)試儀，利用所述方法和擊穿電壓測(cè)試儀能夠明顯降低用于對(duì)可靠性進(jìn)行檢查的耗費(fèi)。

所述目的通過權(quán)利要求1或權(quán)利要求8來實(shí)現(xiàn)。

在根據(jù)本發(fā)明的按權(quán)利要求1的方法中，向具有規(guī)定尺寸的固定的標(biāo)準(zhǔn)火花隙施加用于測(cè)試缺陷檢測(cè)儀的靈敏度的高壓，并且高壓發(fā)生器以短的規(guī)則的間隔產(chǎn)生規(guī)定大小、時(shí)長和頻度的測(cè)試電壓。所述模擬或測(cè)試方法按EU標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行，此時(shí)向標(biāo)準(zhǔn)火花隙施加的電壓的時(shí)刻之間的間隔最高為1秒。施加測(cè)試電壓的最大時(shí)長對(duì)于交流電和高頻電壓為0.025秒，對(duì)于直流電為0.0005秒。測(cè)試電壓接通的數(shù)量/次數(shù)為至少20。

在本發(fā)明中，替代機(jī)械式的接入人工火花隙，這樣對(duì)擊穿電壓測(cè)試?儀本身進(jìn)行控制，使得測(cè)試電壓符合標(biāo)準(zhǔn)地施加到固定的火花隙上。通過根據(jù)本發(fā)明的措施，在人工的火花隙中能夠一次性地調(diào)節(jié)電極的尖端與配對(duì)電極的距離。該距離與例如在已知的模擬器旋轉(zhuǎn)時(shí)出現(xiàn)的任何誤差都無關(guān)。給擊穿電壓測(cè)試儀裝備按本發(fā)明的測(cè)試功能必需的附加耗費(fèi)是可以忽略的。在EU標(biāo)準(zhǔn)中列舉的關(guān)于測(cè)試電壓的精度和保持最大接觸電流方面的檢查措施同樣能夠以小的額外耗費(fèi)實(shí)現(xiàn)(結(jié)合到本發(fā)明中)。由此可以省去如目前為止使用的用于檢查擊穿電壓測(cè)試儀的較為復(fù)雜的單獨(dú)的測(cè)試儀器。在本發(fā)明中，缺陷檢測(cè)儀與附加的測(cè)試電壓及短路電流測(cè)量一起集成到擊穿電壓測(cè)試儀中。

根據(jù)權(quán)利要求8，根據(jù)本發(fā)明的擊穿電壓測(cè)試儀具有能與高壓發(fā)生器的測(cè)試電壓相連的、具有標(biāo)準(zhǔn)尺寸的火花隙，還具有一節(jié)拍器，所述節(jié)拍器，所述節(jié)拍器以規(guī)定的頻率和頻度接通高壓發(fā)生器并在預(yù)先規(guī)定的時(shí)長之后相應(yīng)地將其重新切斷。在高壓發(fā)生器中優(yōu)選集成有控制裝置，所述控制裝置根據(jù)所存儲(chǔ)的程序控制節(jié)拍器。以這種方式所述擊穿電壓測(cè)試儀能夠進(jìn)行自測(cè)。對(duì)于生產(chǎn)設(shè)備的使用企業(yè)可以省去專門的測(cè)試儀器。

附圖說明

下面參考附圖來詳細(xì)說明本發(fā)明。

圖1示意性示出已知結(jié)構(gòu)的擊穿電壓測(cè)試儀，