[發明專利]基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置

無效

• 申請號: 201110075535.1
• 申請日: 2011-03-28
• 公開（公告）號: CN102226817A
• 公開（公告）日: 2011-10-26
• 發明（設計）人: 申巖;郭志忠;張國慶;于文斌;路忠峰;吳磊
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R15/24
• 分類號: G01R15/24
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

1.基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，它包括光電探測器(6)，其特征是：它還包括一號旋光系統(1)、一號全反鏡(2)、一號半透半反鏡(3)、半波片(4)、二號旋光系統(5)，所述一號旋光系統(1)和二號旋光系統(5)的結構完全相同，所述一號旋光系統(1)由光學玻璃框架(1-1)和三塊反射鏡(1-2)組成，所述光學玻璃框架(1-1)包括四個體面，所述四個體面兩兩對應，相鄰體面相互垂直，相鄰兩個體面形成的四個連接處中的三個連接處分別固定有一塊反射鏡(1-2)，入射光束分別經三個反射鏡(1-2)反射后獲得出射光束，所述出射光束的方向與入射光束的方向相差270°；

第一入射光束經一號旋光系統(1)旋光后獲得第一偏振光束，所述第一偏振光束入射至一號全反鏡(2)，并經一號全反鏡(3)反射后入射至一號半透半反鏡(3)，經一號半透半反鏡(3)分為反射光束和透射光束，所述反射光束沿與第一偏振光束的光軸垂直的方向出射；

第二入射光束經半波片(4)透射后入射至二號旋光系統(5)，經二號旋光系統(5)旋光后獲得第二偏振光束，所述第二偏振光束入射至一號半透半反鏡(3)，并經該一號半透半反鏡(3)反射后，與經該一號半透半反鏡(3)透射的透射光束一起匯聚至光電探測器(6)的光輸入端。

2.根據權利要求1所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于它還包括一號光源(11)和二號光源(12)，第一入射光束由一號光源(11)發出，第二入射光束由二號光源(12)發出。

3.根據權利要求2所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于一號光源(11)和二號光源(12)均為波段為850nm的半導體激光器。

4.根據權利要求1所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于它還包括光源(21)、二號半透半反鏡(22)和二號全反鏡(23)，光源(21)發出的光束入射至二號半透半反鏡(22)，經二號半透半反鏡(22)分為反射光束和透射光束，所述反射光束入射至二號全反鏡(23)，經二號全反鏡(23)反射后形成第一入射光束；經二號半透半反鏡(22)透射的透射光束形成第二入射光束。

5.根據權利要求4所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于光源(21)為波段為850nm的半導體激光器。

6.根據權利要求1所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于第一入射光束和第二入射光束是完全相同的偏振光束。

7.根據權利要求1、2、3、4、5或6所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于一號旋光系統(1)和五號旋光系統(4)中光學玻璃框架(1-1)由ZF-7磁光材料制成。

8.根據權利要求1所述的基于光學玻璃結構的全光差流監測裝置，其特征在于所有光束傳輸過程均是在保偏光纖中進行的。