[發明專利]光學觸控系統及光學觸控方法無效
| 申請號: | 201110075329.0 | 申請日: | 2011-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN102693044A | 公開(公告)日: | 2012-09-26 |
| 發明(設計)人: | 鄭裕國 | 申請(專利權)人: | 凌陽創新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/042 | 分類號: | G06F3/042 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 鄭小軍;馮志云 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 系統 方法 | ||
1.一種光學觸控系統,包含:
一觸控區域;
一第一光學觸控模塊,設置在該觸控區域的一側,提供一第一入射光至該觸控區域;以及
一第二光學觸控模塊,設置在該觸控區域的另一側,提供一第二入射光至該觸控區域;
其中該第一光學觸控模塊與該第二光學觸控模塊交替提供該第一與該第二入射光,當一觸控點進入該觸控區域時,該第一與該第二入射光照射于該觸控點而產生多個反射光,該第一光學觸控模塊與該第二光學觸控模塊檢測該多個反射光并輸出多個檢測值;以及
一微處理單元,接收所述光學觸控模塊所輸出的該多個檢測值,并據以計算出該觸控點在該觸控區域中的一位置。
2.如權利要求1所述的光學觸控系統,其特征在于,該第一光學觸控模塊,包含:
一第一檢測器;
一第一集光單元,將該第一入射光與該第二入射光照射于該觸控點后產生該多個反射光中的漫反射光收集至該第一檢測器;
一第二集光單元,將該第一入射光照射于該觸控點后產生該多個反射光中的倒溯反射光收集至該第一檢測器。
3.如權利要求2所述的光學觸控系統,其特征在于,該光學觸控系統還包含:
一第一掃瞄單元,具有一光源單元與一可轉動的面鏡,其中該光源單元用以提供該第一入射光至該觸控區域。
4.如權利要求1所述的光學觸控系統,其特征在于,該第二光學觸控模塊,包含:
一第二檢測器;
一第三集光單元,將該第一入射光與該第二入射光照射于該觸控點后產生該多個反射光中的漫反射光收集至該第二檢測器;
一第四集光單元,將該第二入射光照射于該觸控點后產生該多個反射光中的倒溯反射光收集至該第二檢測器。
5.如權利要求4所述的光學觸控系統,其特征在于,該光學觸控系統還包含:
一第二掃瞄單元,具有一光源單元與一可轉動的面鏡,其中該光源單元用以提供該第二入射光至該觸控區域。
6.一種光學觸控方法,其特征在于,該光學觸控方法應用一第一光學觸控模塊與一第二光學觸控模塊進行光學觸控,該方法包含步驟:
該第一與該第二光學觸控模塊交替提供一第一入射光與一第二入射光;
檢測該第一與該第二入射光照射于一觸控點時產生的多個反射光的光強度以獲得多個檢測值;以及
利用所述多個檢測值以計算該觸控點于一觸控區域的位置。
7.如權利要求6所述的方法,其特征在于,當該第一與該第二入射光分別經由該第一光學觸控模塊的一第一面鏡與該第二光學觸控模塊的一第二面鏡直接反射而成為具有最大光強度的多個基準光,該第一與該第二光學觸控模塊檢測并接收該多個基準光以作為多個基準值。
8.如權利要求7所述的方法,其特征在于,該第一入射光與該第二入射光分別隨該第一觸控模塊的該第一面鏡與該第二觸控模塊的該第二面鏡的轉動,而以不同方向入射至該觸控區域。
9.如權利要求8所述的方法,其特征在于,該第一入射光與該第二入射光照射于該觸控點后所產生的該多個反射光具有不同光強度,經由該第一光學觸控模塊與該第二光學觸控模塊檢測并接收為該多個檢測值。
10.如權利要求9所述的方法,其特征在于,利用所述多個檢測值與該多個基準值,計算出該觸控點在該觸控區域中的位置。
11.一種光學觸控系統,包含:
一觸控區域;
一第一光學觸控模塊,包含:
一第一掃描單元,沿一第一方向提供一第一入射光;以及
一外加檢測器,檢測該第一入射光沿一第二方向的反射光,其中該第二方向與該第一方向互不平行;
以及
一微處理單元,控制該光學觸控模塊,且接收該外加檢測器輸出的一檢測值并據以計算出一觸控點位于該觸控區域中的一位置。
12.如權利要求11所述的光學觸控系統,其特征在于,該光學觸控系統還包含:
一內部檢測器;以及
一第一集光單元,接收該第一入射光沿一第三方向的反射光以將其收集至該第一檢測器,其中該第三方向與該第一方向互不平行。
13.如權利要求12所述的光學觸控系統,其特征在于,該光學觸控系統還包含:
一第二集光單元,將該第一入射光的倒溯反射光收集至該內部檢測器。
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