[發(fā)明專利]一種觸控裝置的測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110073455.2
• 申請日: 2011-03-25
• 公開（公告）號: CN102222031A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉本銀
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州瀚瑞微電子有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種觸控裝置的測試方法，利用觸控面板、金屬筆、電腦和信號發(fā)生器，其步驟如下：

首先，將所述觸控面板與電腦連接，將金屬筆與信號發(fā)生器連接；

然后，打開信號發(fā)生器電源，輸出特定的干擾信號；

其次，利用金屬筆在所述觸控面板上的移動，記錄其產(chǎn)生的坐標(biāo)數(shù)據(jù)；

最后，根據(jù)上述數(shù)據(jù)計(jì)算出坐標(biāo)的偏移量從而判斷出觸控面板在干擾信號的條件下的性能表現(xiàn)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述信號發(fā)生器輸出的信號通過導(dǎo)線傳輸給所述金屬筆。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述電腦中設(shè)有測試軟件，通過該軟件可以偵測出金屬筆在所述觸控面板上移動時(shí)的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于：所述軟件具有檢測坐標(biāo)信息是否正常的功能。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述信號發(fā)生器可以產(chǎn)生多種形式的信號源。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述信號發(fā)生器與所述觸控面板共地。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述金屬筆在所述觸控面板上的移動模擬用戶手指在觸控面板上的移動。

8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述計(jì)算出的偏移量在預(yù)設(shè)門檻值內(nèi)，則認(rèn)為所述觸控面板在干擾信號的條件下穩(wěn)定性良好；反之，則認(rèn)為較差。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于：所述預(yù)設(shè)門檻值是經(jīng)驗(yàn)值。