[發(fā)明專(zhuān)利]量子效率測(cè)量方法、量子效率測(cè)量裝置和積分器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110069976.0 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102192786A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 大澤祥宏;大久保和明 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 大*電子株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01J3/443 | 分類(lèi)號(hào): | G01J3/443;G01J3/02;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;張會(huì)華 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 量子 效率 測(cè)量方法 測(cè)量 裝置 積分器 | ||
1.一種量子效率測(cè)量方法,其包括以下步驟:
將試樣配置在具有積分空間的積分器內(nèi)的規(guī)定位置;
經(jīng)由設(shè)置于上述積分器的第1窗向配置在上述規(guī)定位置的上述試樣照射激發(fā)光,并且經(jīng)由被設(shè)置在上述積分器的與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第1光譜進(jìn)行測(cè)量;
將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)上述試樣后的激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射,該激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉;
在激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射的狀態(tài)下,經(jīng)由上述第1窗向配置在上述規(guī)定位置的上述試樣照射上述激發(fā)光,并且經(jīng)由上述第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第2光譜進(jìn)行測(cè)量;
基于上述第1光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分和上述第2光譜中的與上述試樣受到上述激發(fā)光的照射而發(fā)出的光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分算出上述試樣的量子效率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子效率測(cè)量方法,其中,
在上述積分器的上述激發(fā)光入射部分形成有用于供上述激發(fā)光通過(guò)的第3窗;
上述將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)上述試樣后的激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射的步驟包括如下步驟:從利用具有與上述積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性的栓塞構(gòu)件堵住上述第3窗的狀態(tài)去除該栓塞構(gòu)件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的量子效率測(cè)量方法,其中,
該量子效率測(cè)量方法還包括以下步驟:
將標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述規(guī)定位置;
經(jīng)由上述第1窗向被配置在上述規(guī)定位置的上述標(biāo)準(zhǔn)體照射上述激發(fā)光,并且經(jīng)由上述第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第3光譜進(jìn)行測(cè)量,
算出上述試樣的量子效率的步驟包括如下步驟:將上述第1光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分與上述第3光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分之差作為被上述試樣吸收的光成分算出。
4.一種量子效率測(cè)量裝置,其包括:
積分器,在其內(nèi)部具有積分空間;
光源,其用于經(jīng)由被設(shè)置于上述積分器的第1窗而向上述積分空間內(nèi)照射激發(fā)光;
測(cè)量器,其用于經(jīng)由被設(shè)置在上述積分器的與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗來(lái)測(cè)量上述積分空間內(nèi)的光譜;
保持部,其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸上;
切換機(jī)構(gòu),其用于將激發(fā)光入射部分切換成向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)和不向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài),上述激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)并且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉;
運(yùn)算部,其基于第1光譜和第2光譜算出上述試樣的量子效率,上述第1光譜是在上述試樣被配置在上述保持部且上述激發(fā)光入射部分處于反射上述激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由上述測(cè)量器測(cè)量得到的,上述第2光譜是在上述試樣被配置在上述保持部且上述激發(fā)光入射部分處于不反射上述激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由上述測(cè)量器測(cè)量得到的。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的量子效率測(cè)量裝置,其中,
上述切換機(jī)構(gòu)包括:
第3窗,其設(shè)置于上述積分器的上述激發(fā)光入射部分,用于使上述激發(fā)光通過(guò),
栓塞構(gòu)件,其安裝于上述第3窗,具有與上述積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的量子效率測(cè)量裝置,其中,
上述切換機(jī)構(gòu)還包括從上述積分器的外側(cè)與上述第3窗相對(duì)應(yīng)地安裝于上述積分器的光吸收部。
7.根據(jù)權(quán)利要求4~6中任一項(xiàng)所述的量子效率測(cè)量裝置,其中,
上述積分器包括:
半球部,在其內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層;
平面鏡,其被配置成封堵上述半球部的開(kāi)口,
上述第1窗被設(shè)置在上述平面鏡上的包括上述半球部的實(shí)質(zhì)上的曲率中心的位置和包括上述半球部的頂點(diǎn)的位置中的任一位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求4~6中任一項(xiàng)所述的量子效率測(cè)量裝置,其中,
上述積分器是在內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層的球體,
上述保持部構(gòu)成為將上述試樣和上述標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述球體的中心部。
9.一種積分器,在其內(nèi)部具有積分空間,其包括:
保持部,其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在經(jīng)由第1窗而向上述積分空間內(nèi)照射的激發(fā)光的光軸上;
光取出部,為了測(cè)量上述積分空間內(nèi)的光譜,其用于經(jīng)由被設(shè)置在與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗對(duì)光進(jìn)行引導(dǎo);
切換機(jī)構(gòu),其用于將激發(fā)光入射部分切換成向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)和不向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài),上述激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉。
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