[發(fā)明專利]樣本分析儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110066039.X
• 申請(qǐng)日: 2011-03-18
• 公開（公告）號(hào): CN102221613A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 元津和典
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 希森美康株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01N33/68
• 分類號(hào): G01N33/68;G01N33/78;G06K17/00;H01Q1/22;H01Q3/00;H01Q21/00
• 代理公司: 北京市安倫律師事務(wù)所 11339
• 代理人: 劉良勇

技術(shù)領(lǐng)域：

本發(fā)明涉及一種樣本分析儀，特別是涉及一種配置有帶有電子標(biāo)簽的試劑容器的樣本分析儀，所述電子標(biāo)簽上記錄著試劑信息。

背景技術(shù)：

人們已經(jīng)知道，歷來(lái)有一種樣本分析儀配置帶有記錄著試劑信息的電子標(biāo)簽的試劑容器。

比如日本專利公報(bào)No.2009/210444上公開了一種自動(dòng)分析裝置，其包括：固定數(shù)支帶無(wú)線IC標(biāo)簽的試劑容器的試劑容器固定部件，其中所述無(wú)線IC標(biāo)簽上記錄有試劑信息；從無(wú)線IC標(biāo)簽接收電波的天線部件；從天線部件接收無(wú)線IC標(biāo)簽返回的電波的信息讀取及存儲(chǔ)部件；探測(cè)在天線部件正面位置有無(wú)試劑容器的傳感器。此自動(dòng)分析裝置中，當(dāng)試劑容器位于天線部件正面位置時(shí)實(shí)施試劑信息讀取作業(yè)，當(dāng)試劑容器不在天線部件正面位置時(shí)信息讀取及存儲(chǔ)部件不向天線部件發(fā)送信號(hào)，不實(shí)施試劑信息讀取作業(yè)。

在數(shù)支試劑容器并列固定的分析儀中，一次讀取作業(yè)可能從數(shù)個(gè)電子標(biāo)簽讀取試劑信息，此時(shí)很難判斷哪個(gè)試劑信息是從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽讀取的信息。

比如，日本專利公報(bào)No.2009/210444上公開的自動(dòng)分析裝置中，如果從與天線部件正面位置的試劑容器相鄰的試劑容器的無(wú)線IC標(biāo)簽讀取了試劑信息，很難辨別哪個(gè)試劑信息是從天線部件正面位置的試劑容器的電子標(biāo)簽讀取的信息。為避免這種情況發(fā)生，必須確保試劑容器之間有很大的配置間隔，因此存在儀器體積相應(yīng)增大的問題。

發(fā)明內(nèi)容：

本發(fā)明的范圍只由后附權(quán)利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)發(fā)明內(nèi)容的陳述所限。

即，本發(fā)明提供：

(1)一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括：試劑容器固定部件，用于固定帶有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的電子標(biāo)簽的復(fù)數(shù)支試劑容器；天線部件，向所述試劑容器固定部件所固定的試劑容器的電子標(biāo)簽發(fā)射電波；及限制部件，設(shè)置于所述試劑容器固定部件固定的試劑容器的電子標(biāo)簽與所述天線部件之間，用于限制所述天線部件發(fā)射的電波的范圍。

(2)(1)所述的樣本分析儀，其中，所述限制部件包含帶間隙的金屬部件，所述間隙用于讓所述天線部件發(fā)射的所述電波通過。

(3)(2)所述的樣本分析儀，其中，所述間隙一直延伸到所述金屬部件的末端。

(4)(2)所述的樣本分析儀，其中，所述間隙的垂直方向長(zhǎng)度大于所述間隙的水平方向長(zhǎng)度。

(5)(1)所述的樣本分析儀，包括：移動(dòng)所述試劑容器固定部件和所述天線部件中的至少其中之一的驅(qū)動(dòng)部件。

(6)(5)所述的樣本分析儀，其中，所述限制部件相對(duì)于所述天線部件的位置是固定的。

(7)(6)所述的樣本分析儀，其中，所述驅(qū)動(dòng)部件移動(dòng)所述試劑容器固定部件，使讀取目標(biāo)試劑信息的電子標(biāo)簽位于所述天線部件的正面位置；及所述限制部件用于限制所述天線部件發(fā)射的電波到達(dá)與所讀取的目標(biāo)電子標(biāo)簽相鄰的電子標(biāo)簽。

(8)(6)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件包含發(fā)射電波的天線基板和固定所述天線基板的天線固定部件；及所述限制部件安裝在所述天線固定部件上。

(9)(8)所述的樣本分析儀，包括：收納所述試劑容器固定部件和所述天線部件的收納部件；及冷卻所述試劑的冷卻部件，其中所述天線固定部件在可透過電波的狀態(tài)下覆蓋所述天線基板。

(10)(1)所述的樣本分析儀，其中，所述復(fù)數(shù)支試劑容器包括復(fù)數(shù)支帶第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器和復(fù)數(shù)支帶第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器；所述試劑容器固定部件包含固定所述復(fù)數(shù)支第一試劑容器的第一試劑容器固定部件和固定所述復(fù)數(shù)支第二試劑容器的第二試劑容器固定部件；所述天線部件包含向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射電波的第一天線部件和向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射電波的第二天線部件；及所述限制部件包含設(shè)置在所述第一電子標(biāo)簽和所述第一天線部件之間的第一限制部件，以及設(shè)置在所述第二電子標(biāo)簽和所述第二天線部件之間的第二限制部件。

(11)(1)所述的樣本分析儀，其中，所述復(fù)數(shù)支試劑容器包含帶第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器和帶第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器；所述試劑容器固定部件包含固定所述第一試劑容器的第一試劑容器固定部件和固定所述第二試劑容器的第二試劑容器固定部件；所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間；及所述限制部件設(shè)在所述第一電子標(biāo)簽和所述天線部件之間以及所述第二電子標(biāo)簽和所述天線部件之間這兩個(gè)位置中的至少其中一處。