[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110061712.0 | 申請日: | 2011-03-15 |
| 公開(公告)號: | CN102194718A | 公開(公告)日: | 2011-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林耀劍;陳康;方建敏;X·馮 | 申請(專利權(quán))人: | 新科金朋有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L21/768;H01L23/522 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李娜;蔣駿 |
| 地址: | 新加坡*** | 國省代碼: | 新加坡;SG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
1.?一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括:
提供具有多個(gè)半導(dǎo)體管芯的半導(dǎo)體晶片,每個(gè)半導(dǎo)體管芯具有有源表面;
在有源表面上形成第一導(dǎo)電層;
在有源表面和第一導(dǎo)電層上形成第一絕緣層;
在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成再鈍化層;
形成通過再鈍化層延伸到第一導(dǎo)電層的通路;
將半導(dǎo)體晶片單體化以分離半導(dǎo)體管芯;
在半導(dǎo)體管芯上沉積密封劑;
在再鈍化層和密封劑上形成第二絕緣層;
在再鈍化層和第一導(dǎo)電層上形成第二導(dǎo)電層;以及
在第二導(dǎo)電層和第二絕緣層上形成第三絕緣層。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1的方法,還包括在第二導(dǎo)電層上形成互連結(jié)構(gòu)。
3.?根據(jù)權(quán)利要求1的方法,還包括:
在形成再鈍化層之前在第一絕緣層中形成開口;
在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成再鈍化層;以及
在第一絕緣層的開口內(nèi)形成通過再鈍化層的通路,所述通路比第一絕緣層的開口小至少10微米。
4.?根據(jù)權(quán)利要求1的方法,其中在再鈍化層中的通路的情況下,第二導(dǎo)電層具有每側(cè)至少12微米的對準(zhǔn)公差。
5.?根據(jù)權(quán)利要求1的方法,還包括在形成再鈍化層之前在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成第三導(dǎo)電層。
6.?根據(jù)權(quán)利要求1的方法,其中在第二絕緣層之內(nèi)或之外形成第二導(dǎo)電層的一部分。
7.?一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括:
提供具有有源表面的半導(dǎo)體晶片;
在有源表面上形成第一導(dǎo)電層;
在有源表面和第一導(dǎo)電層上形成第一絕緣層;
在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成再鈍化層;
形成通過再鈍化層延伸到第一導(dǎo)電層的通路;
將半導(dǎo)體晶片單體化以分離半導(dǎo)體管芯;
在半導(dǎo)體管芯上沉積密封劑;
在再鈍化層和第一導(dǎo)電層上形成第二導(dǎo)電層;
在第二導(dǎo)電層和再鈍化層上形成第二絕緣層;
在第二絕緣層和第二導(dǎo)電層上形成第三導(dǎo)電層;以及
在第三導(dǎo)電層上形成第三絕緣層。
8.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,還包括在第三導(dǎo)電層上形成互連結(jié)構(gòu)。
9.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,還包括:
在形成再鈍化層之前在第一絕緣層中形成開口;
在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成再鈍化層;以及
在第一絕緣層的開口內(nèi)形成通過再鈍化層的通路,所述通路比第一絕緣層的開口小至少10微米。
10.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,其中在再鈍化層中的通路的情況下,第二導(dǎo)電層具有每側(cè)至少12微米的對準(zhǔn)公差。
11.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,還包括在形成再鈍化層之前在第一絕緣層和第一導(dǎo)電層上形成第四導(dǎo)電層。
12.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,其中在第二絕緣層之內(nèi)或之外形成第二導(dǎo)電層的一部分。
13.?根據(jù)權(quán)利要求7的方法,其中第二和第三導(dǎo)電層用作再分配層。
14.?一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括:
提供半導(dǎo)體管芯;
在半導(dǎo)體管芯的有源表面上形成第一導(dǎo)電焊盤;
在第一導(dǎo)電焊盤和半導(dǎo)體管芯上形成鈍化層;
形成通過鈍化層延伸到第一導(dǎo)電焊盤的通路;
在半導(dǎo)體管芯上沉積密封劑;
在鈍化層和密封劑上形成第一絕緣層;
在鈍化層和第一導(dǎo)電焊盤上形成第二導(dǎo)電層;以及
在第二導(dǎo)電層和第一絕緣層上形成第二絕緣層。
15.?根據(jù)權(quán)利要求14的方法,還包括在第二導(dǎo)電層上形成互連結(jié)構(gòu)。
16.?根據(jù)權(quán)利要求15的方法,其中所述互連結(jié)構(gòu)包括凸塊。
17.?根據(jù)權(quán)利要求14的方法,其中鈍化層的通路比第一導(dǎo)電焊盤小至少30微米。
18.?根據(jù)權(quán)利要求14的方法,還包括:
在形成再鈍化層之前在第一絕緣層中形成開口;
在第一絕緣層和第一導(dǎo)電焊盤上形成鈍化層;以及
在第一絕緣層的開口內(nèi)形成通過鈍化層的通路,所述通路比第一絕緣層的開口小至少10微米。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





