[發明專利]基于機器視覺的磁瓦表面缺陷自動檢測方法與裝置無效
| 申請號： | 201110061144.4 | 申請日： | 2011-03-14 |
| 公開（公告）號： | CN102253050A | 公開（公告）日： | 2011-11-23 |
| 發明（設計）人： | 嚴俊龍;李鐵源;唐孟華;諶楊帆;吳志杰;鄭曉曦 | 申請（專利權）人： | 廣州市盛通建設工程質量檢測有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/89 | 分類號： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 510075*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 機器 視覺 表面 缺陷 自動檢測 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于機器視覺的磁瓦表面缺陷自動檢測方法，包括以下步驟：
(1)將被檢測磁瓦置于傳送帶上；
(2)啟動CCD圖像采集裝置，采集磁瓦表面圖像并傳送至圖像處理單元；
(3)圖像處理單元將(2)中采集的圖像經圖像濾波、圖像分割、后形態學處理、邊緣檢測等處理后，將處理結果傳輸至缺陷檢測單元。
(4)將(3)中圖像處理結果經特征提取，轉化為一維數字信號；
(5)將(4)所得結果經概率模式識別單元訓練和測試后，將磁瓦表面質量分為良好磁瓦和缺陷磁瓦兩類，以達到缺陷檢測的目的。
2.根據權利要求1所述的一種基于機器視覺的磁瓦表面缺陷自動檢測方法，其表面缺陷是磁瓦類表面缺陷。
3.根據權利要求1所述的基于機器視覺的磁瓦表面缺陷自動檢測方法，其缺陷分類方法是基于概率的模式識別方法。
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