[發(fā)明專利]作物冠層光譜指數(shù)測(cè)量系統(tǒng)及方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110059665.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102207452A | 公開(公告)日: | 2011-10-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李民贊;李修華;張鋒;張彥娥;鄭立華;李樹強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/25 | 分類號(hào): | G01N21/25;G08C17/02 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100193 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 作物 光譜 指數(shù) 測(cè)量 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及傳感技術(shù)與光譜測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種作物冠層光譜指數(shù)測(cè)量系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
植被長(zhǎng)勢(shì)、營(yíng)養(yǎng)等信息能夠反映在光譜反射率上,利用作物冠層葉片的反射光譜可以計(jì)算多種植被指數(shù),如RVI(Ratio?VegetationIndex,比值植被指數(shù))、NDVI(Normalized?Differential?VegetationIndex,歸一化植被指數(shù))、GVI(Greenness?Vegetation?Index,綠度植被指數(shù)等),估計(jì)作物冠層葉片的葉綠素含量或氮素含量,進(jìn)而判斷作物長(zhǎng)勢(shì)。
測(cè)量作物的光譜反射率的方法有多種。美國(guó)ASD(AnalyticalSpectral?Devices)公司生產(chǎn)用于測(cè)量地物光譜反射率的系列光譜輻射儀,包括全光譜便攜式光譜分析儀(波長(zhǎng)范圍:350~2500nm)以及手持便攜式光譜分析儀(波長(zhǎng)范圍:300~1100nm)等,這些儀器測(cè)量精度和光譜分辨率都很高,但它們的色散元件都是采用全息反射光柵,使得儀器價(jià)格昂貴,從幾萬(wàn)到幾十萬(wàn)不等,非常不適于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)的應(yīng)用。這些儀器的操作也非常復(fù)雜,以地物光譜儀為例,研究人員需要背負(fù)近10kg的儀器和筆記本電腦在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量,要想得到相關(guān)植被指數(shù),還必須從植被光譜反射率曲線中提取出相關(guān)敏感波段的反射率,最后通過(guò)特定的計(jì)算才能得出。這些造價(jià)昂貴、操作不便、分析方法復(fù)雜等因素大大限制了這些儀器在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)方面的應(yīng)用。
日本研制的葉綠素計(jì)(SPAD-502)是一款應(yīng)用廣泛的便攜式儀器,用于田間的作物氮素營(yíng)養(yǎng)水平診斷及指導(dǎo)施肥。它由發(fā)光二極管(light?emitting?diodes)發(fā)射紅光(峰值波長(zhǎng)大約650nm)和近紅外光(峰值大約在940nm)。透過(guò)樣本葉的發(fā)射光到達(dá)接收器,將透射光轉(zhuǎn)換成為相似的電信號(hào),經(jīng)過(guò)放大器的放大,然后通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),微處理器利用這些數(shù)字信號(hào)計(jì)算出一種光譜指數(shù)即SPAD值,顯示并自動(dòng)存儲(chǔ)。但這款儀器只能測(cè)量單一葉片,無(wú)法測(cè)量冠層,無(wú)法對(duì)作物長(zhǎng)勢(shì)作綜合評(píng)價(jià),雖然其屬于便攜式儀器,操作簡(jiǎn)便,但也有無(wú)法對(duì)較大面積農(nóng)田進(jìn)行快速測(cè)量的缺陷,另外,該儀器僅采用了2個(gè)波段,所能檢測(cè)的光譜指數(shù)太少。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是:簡(jiǎn)化作物冠層光譜指數(shù)測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu),增加通道數(shù)(波長(zhǎng)數(shù))、提出新的冠層光譜指數(shù)計(jì)算模型,將多個(gè)測(cè)量裝置通過(guò)無(wú)線通信裝置連接形成測(cè)量系統(tǒng),提高光譜指數(shù)測(cè)量范圍和農(nóng)田適用性,并簡(jiǎn)化測(cè)量方法,提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
(二)技術(shù)方案
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種作物冠層光譜指數(shù)測(cè)量系統(tǒng),包括:
測(cè)量子系統(tǒng),由多個(gè)相同結(jié)構(gòu)的測(cè)量單元組成,用于采集光學(xué)信號(hào),測(cè)量該光學(xué)信號(hào)的光強(qiáng)之后進(jìn)行處理,將處理后得到的數(shù)據(jù)發(fā)送給控制子系統(tǒng),所述光學(xué)信號(hào)包括作為入射光的太陽(yáng)光以及所述太陽(yáng)光在作物冠層的反射光,所述處理包括放大和采樣處理;
控制子系統(tǒng),用于接收來(lái)自測(cè)量子系統(tǒng)的數(shù)據(jù),并利用該數(shù)據(jù)計(jì)算作物冠層的光譜反射率,再根據(jù)所述光譜反射率和嵌入在控制子系統(tǒng)中的用于計(jì)算作物冠層光譜指數(shù)的模型來(lái)計(jì)算光譜指數(shù),并且顯示和存儲(chǔ)計(jì)算結(jié)果。
其中,所述測(cè)量子系統(tǒng)的測(cè)量單元和測(cè)量單元之間通過(guò)無(wú)線通信系統(tǒng)傳遞數(shù)據(jù)和指令。
其中,所述測(cè)量單元包括傳感器,傳感器包括上部和下部的共2×N個(gè)光學(xué)通道,N≥4,其中上部的N個(gè)光學(xué)通道用于測(cè)量太陽(yáng)光,下部的N個(gè)光學(xué)通道用于測(cè)量作物冠層反射光,每個(gè)光學(xué)通道包括凸透鏡、濾光片、光電探測(cè)器以及外壁,所述凸透鏡、濾光片和光電探測(cè)器均位于所述外壁內(nèi)。
其中,所述濾光片位于凸透鏡和光電探測(cè)器之間,所述光電探測(cè)器為光電二極管。
其中,測(cè)量太陽(yáng)光的N個(gè)光學(xué)通道的表面還貼有漫射片。
其中,所述控制子系統(tǒng)包括JN5139芯片。
其中,所述傳感器還包括依次連接的信號(hào)放大電路、A/D采樣電路和射頻無(wú)線發(fā)送電路,且所述信號(hào)放大電路與所述光電探測(cè)器連接。
本發(fā)明提供了一種利用所述的系統(tǒng)進(jìn)行作物冠層光譜指數(shù)測(cè)量的方法,包括以下步驟:
S1、利用所述測(cè)量子系統(tǒng)采集光學(xué)信號(hào),測(cè)量該光學(xué)信號(hào)的光強(qiáng)之后進(jìn)行處理,將處理后得到的數(shù)據(jù)發(fā)送給控制子系統(tǒng),所述光學(xué)信號(hào)包括作為入射光的太陽(yáng)光以及所述太陽(yáng)光在作物冠層的反射光,所述處理包括放大和采樣處理;
S2、利用同一波長(zhǎng)通道的反射光光強(qiáng)和太陽(yáng)光光強(qiáng)之比,計(jì)算作物冠層的光譜反射率:
其中,λ=λi,i=1,......N,N≥4,且為正整數(shù);
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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