[發明專利]錯誤檢測機構、錯誤應對方法及薄片介質供給機構無效
| 申請號: | 201110059664.1 | 申請日: | 2011-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN102234035A | 公開(公告)日: | 2011-11-09 |
| 發明(設計)人: | 杉本紳也 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝;東芝泰格有限公司 |
| 主分類號: | B65H7/04 | 分類號: | B65H7/04;B65H1/04 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 錯誤 檢測 機構 應對 方法 薄片 介質 供給 | ||
1.一種錯誤檢測機構,包括:
傳感器,檢測對象物已移動到規定位置;
驅動裝置,將對象物移動到規定位置;以及
錯誤判定裝置,在所述傳感器從所述驅動裝置的驅動開始后的規定時間內檢測到對象物未移動到規定位置的情況下,通知對對象物執行規定的處理。
2.根據權利要求1所述的錯誤檢測機構,還包括:
顯示機構,根據所述錯誤判定裝置的判定結果顯示通知內容。
3.根據權利要求2所述的錯誤檢測機構,其中,
所述顯示機構根據所述錯誤判定裝置的判定結果顯示對所述通知內容的應對方法。
4.一種錯誤應對方法,包括:
檢測沒有來自檢測對象物移動到規定位置的傳感器的輸出;以及
通知對對象物執行規定處理。
5.根據權利要求4所述的錯誤應對方法,還包括:
顯示執行規定處理的順序。
6.一種薄片介質供給機構,包括:
托盤,保持薄片介質;
檢測器,檢測所述托盤所保持的薄片介質位于薄片介質供給位置;
托盤上升機構,將保持了薄片介質的所述托盤移動到薄片介質供給位置;以及
錯誤判定指導部,在所述檢測器檢測到所述托盤沒有在規定時間內位于薄片介質供給位置的情況下,提示執行用于判定主要原因在于所述托盤上升機構的動作、還是在于所述托盤所保持的薄片介質的保持狀態的規定處理。
7.根據權利要求6所述的薄片介質供給機構,還包括:
顯示機構,顯示執行所述錯誤判定指導部提示的用于所述判定的規定處理的順序。
8.根據權利要求7所述的薄片介質供給機構,其中,
所述顯示機構根據對應于所述錯誤判定指導部指示的順序的處理步驟,依次地顯示后續處理。
9.根據權利要求6所述的薄片介質供給機構,其中,
通過向與所述托盤移動的方向正交的方向移動包含所述托盤的機殼,從而解除所述托盤上升機構與用于移動所述托盤的驅動機構的連接。
10.根據權利要求9所述的薄片介質供給機構,其中,
檢測所述托盤上升機構與所述驅動機構連接后,所述顯示機構顯示后續處理。
11.根據權利要求10所述的薄片介質供給機構,還包含:
輥,用于將所述托盤所保持的薄片介質向指定位置移動。
12.根據權利要求11所述的薄片介質供給機構,其中,
所述托盤上升機構在與所述輥移動薄片介質的方向正交的方向上移動所述托盤。
13.根據權利要求12所述的薄片介質供給機構,其中,
移動包含所述托盤的機殼的方向包括與所述輥移動薄片介質的方向及所述托盤移動的方向分別正交的方向。
14.根據權利要求13所述的薄片介質供給機構,其中,
所述錯誤判定指導部指示的最開始處理順序包括使包含所述托盤的機殼在所述移動的方向上移動。
15.根據權利要求14所述的薄片介質供給機構,其中,
所述錯誤判定指導部指示的第2處理順序包含暫時去除移動后的所述托盤所保持的薄片介質。
16.根據權利要求15所述的薄片介質供給機構,其中,
所述錯誤判定指導部指示的下一處理順序包括向所述托盤上升機構與所述驅動機構連接的位置移動即復原包含薄片介質已被移除的所述托盤的機殼。
17.根據權利要求16所述的薄片介質供給機構,還包括:
控制單元,在所述托盤上升機構與所述驅動機構的連接被解除后,檢測到所述托盤上升機構和所述驅動機構已向相連接的位置移動,并通過所述托盤上升機構執行所述托盤的第2次移動。
18.根據權利要求17所述的薄片介質供給機構,其中,
在所述檢測器檢測到所述托盤所保持的薄片介質位于薄片介質供給位置的情況下,所述控制單元在所述顯示單元上顯示發生錯誤的主要原因在于所述托盤保持的薄片介質的保持狀態。
19.根據權利要求17所述的薄片介質供給機構,其中,
在所述檢測器檢測到所述托盤所保持的薄片介質沒有位于薄片介質補給位置的情況下,所述控制單元在所述顯示單元上顯示發生錯誤的主要原因在于所述托盤上升機構的動作。
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