[發(fā)明專利]一種矩形石英晶片缺陷自動檢測分類識別方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110054813.5
• 申請日: 2011-03-09
• 公開（公告）號: CN102136061A
• 公開（公告）日: 2011-07-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邱杰;邱麗原;滕今朝;原渭蘭
• 申請（專利權(quán)）人: 中國人民解放軍海軍航空工程學(xué)院
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06T5/00;G01N21/88
• 代理公司: 北京富天民宏濟(jì)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11272
• 代理人: 劉壽椿

1.一種矩形石英晶片缺陷自動檢測分類識別方法，其特征在于：該方法包括下列步驟：步驟10)、在原始圖像中提取矩形石英晶片的長邊并計(jì)算其斜率；步驟20)、進(jìn)行圖像旋轉(zhuǎn)，使矩形石英晶片的長邊在圖像中呈水平走向；步驟30)、進(jìn)行圖像分割，從背景中分離出矩形石英晶片目標(biāo)；步驟40)、基于矩形石英晶片目標(biāo)及其相關(guān)參數(shù)，建立矩形石英晶片模板；步驟50)、外圍斷條缺陷的檢測和識別；步驟60)、外圍邊緣不齊缺陷的檢測和識別；步驟70)、外圍崩邊缺陷的檢測和識別；步驟80)、邊緣處崩邊缺陷的檢測和識別；步驟90)、邊緣處邊緣不齊缺陷的檢測和識別；步驟A0)、邊緣處炸口缺陷的檢測和識別；步驟B0)、邊緣處劃痕缺陷的檢測和識別；步驟C0)、內(nèi)部炸心缺陷的檢測和識別；步驟D0)、內(nèi)部劃痕缺陷的檢測和識別；步驟E0)、內(nèi)部陰影缺陷的檢測和識別。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種矩形石英晶片缺陷自動檢測分類識別方法，其特征在于：所述的步驟10)中包括：步驟110)、使用Prewitt算子對原始圖像進(jìn)行邊緣檢測；步驟120)、計(jì)算邊緣檢測結(jié)果圖像的平均灰度值，根據(jù)該灰度值設(shè)置適當(dāng)?shù)拈T限，對邊緣檢測結(jié)果圖像進(jìn)行二值化處理；步驟130)、使用Thin算子對二值化處理結(jié)果圖像進(jìn)行細(xì)化處理；步驟140)、用細(xì)化處理結(jié)果圖像中的每兩個非零點(diǎn)(非零點(diǎn)對)確定一條直線，計(jì)算并保存每條直線的用最簡整數(shù)分式表示的斜率(以下也簡稱為整數(shù)斜率)；步驟150)、對取相同整數(shù)斜率的直線進(jìn)行計(jì)數(shù)，得到取各種整數(shù)斜率的直線的數(shù)目，找出其中最大的數(shù)目N_max；步驟160)、針對確定L{k_Nmax}中直線的每一個非零點(diǎn)對，計(jì)算該直線的用最簡整數(shù)分式表示的截距(以下也簡稱為整數(shù)截距)；步驟170)、對L{k_Nmax}中取相同整數(shù)截距的直線歸類，每一類代表一條直線，分別記作L_i(i＝1，2，3，…，m)；步驟180)、如果m大于一定的數(shù)值，而且沒有任何一個Num_i(D)具有絕對的優(yōu)勢，則基于L_i{(D_F，D_L)}，計(jì)算L_i上非零點(diǎn)對構(gòu)成的最大直線段長度，記作Length(L_i)，最大直線段長度對應(yīng)的非零點(diǎn)對記作(D_F，D_L)_i；以各個(D_F，D_L)_i中的非零點(diǎn)重新進(jìn)行兩兩組合，構(gòu)成多個新的非零點(diǎn)對，再計(jì)算整數(shù)斜率，再對取相同整數(shù)斜率的直線進(jìn)行計(jì)數(shù)，得到取各種整數(shù)斜率的直線的數(shù)目，找出其中最大的數(shù)目LN_max，LN_max對應(yīng)的直線的整數(shù)斜率記作k_LNmax；k_LNmax即為矩形石英晶片的長邊的斜率。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種矩形石英晶片缺陷自動檢測分類識別方法，其特征在于：所述的步驟30)中包括：步驟310)、使用Prewitt算子對旋轉(zhuǎn)之后的矩形石英晶片圖像進(jìn)行邊緣檢測；步驟320)、計(jì)算邊緣檢測結(jié)果圖像的平均灰度值，記為Gav；步驟330)、用可變門限系數(shù)(可變門限系數(shù)記作Ef，其初始值可以設(shè)為一個較大的數(shù)值)乘以Gav作為門限，對邊緣檢測結(jié)果圖像進(jìn)行二值化處理，即將灰度值大于門限的點(diǎn)置成白色，灰度值小于門限的點(diǎn)置成黑色；步驟340)、對二值化處理結(jié)果圖像的白色區(qū)域進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記，只保留其中最大的白色區(qū)域，而將其他區(qū)域置成黑色；步驟350)、對區(qū)域標(biāo)記結(jié)果圖像進(jìn)行黑白反轉(zhuǎn)，對黑白反轉(zhuǎn)結(jié)果圖像的白色區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記，保留其中最大的白色區(qū)域，而將其他區(qū)域置成黑色；步驟360)、判斷步驟350)產(chǎn)生的結(jié)果圖像中的黑色區(qū)域是否封閉，如果封閉則進(jìn)行面積計(jì)算，如果不封閉，則直接執(zhí)行步驟380)；步驟370)、將黑色區(qū)域的面積與實(shí)際目標(biāo)門限S_T進(jìn)行比較，如果不小于S_T，則該黑色區(qū)域就是矩形石英晶片目標(biāo)；如果小于S_T，則將可變門限系數(shù)Ef減0.5，再回到步驟330)，繼續(xù)進(jìn)行處理；步驟380)、將可變門限系數(shù)Ef減0.5，再回到步驟330)，繼續(xù)進(jìn)行處理。