[發(fā)明專利]一種頻率校正方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110054538.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102141771A | 公開(公告)日: | 2011-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮向光;顧奇龍;喻琪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫輻導(dǎo)微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G04C9/02 | 分類號(hào): | G04C9/02 |
| 代理公司: | 無錫互維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32236 | 代理人: | 王愛偉 |
| 地址: | 214125 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 頻率 校正 方法 裝置 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及時(shí)鐘領(lǐng)域,特別是涉及一種頻率校正的方法和裝置。
【背景技術(shù)】
在時(shí)鐘芯片設(shè)計(jì)中,時(shí)鐘頻率的精度決定于使用的石英晶體的頻率精度。為了確保所有電子器件都能夠正常或同步工作,在電子電路設(shè)計(jì)中提供精確的時(shí)鐘信號(hào)是非常重要的。所述時(shí)鐘信號(hào)是一般可以由晶體振蕩器產(chǎn)生,其中所述晶體振蕩器是利用壓電材料的振蕩晶體的機(jī)械諧振來產(chǎn)生一定頻率電信號(hào)的電子電路。這個(gè)頻率通常用于計(jì)時(shí),也可以用于為數(shù)字集成電路提供時(shí)鐘信號(hào),還可以用于穩(wěn)定無線發(fā)射器/接收器的頻率。導(dǎo)致時(shí)鐘信號(hào)不同于設(shè)計(jì)的一個(gè)原因在于溫度,它可能影響壓電材料和晶體振蕩器的運(yùn)作。隨著溫度的變化,晶體振蕩器輸出的頻率也會(huì)隨之變化,通常情況下,石英晶體的頻率對(duì)溫度一般呈現(xiàn)20ppm~100ppm的頻率穩(wěn)定度。如當(dāng)在高精度應(yīng)用如全球定位系統(tǒng)中,這樣的頻率精度是不能滿足要求的;或者在應(yīng)用中通常需要用到芯片或器件的年誤差在5分鐘內(nèi),其必須要求在10ppm的穩(wěn)定度以內(nèi),普通的晶體振蕩器或分頻出來的頻率可能不能達(dá)到這個(gè)精度。
因此有必要提出一種新的技術(shù)方案來解決上述問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
本部分的目的在于概述本發(fā)明的實(shí)施例的一些方面以及簡要介紹一些較佳實(shí)施例。在本部分以及本申請(qǐng)的說明書摘要和發(fā)明名稱中可能會(huì)做些簡化或省略以避免使本部分、說明書摘要和發(fā)明名稱的目的模糊,而這種簡化或省略不能用于限制本發(fā)明的范圍。
本發(fā)明的目的在于提供一種頻率校正方法和裝置,其對(duì)參考頻率信號(hào)分頻到目標(biāo)頻率信號(hào)的分頻比進(jìn)行校正,利用校正后的分頻比對(duì)參考頻率信號(hào)進(jìn)行分頻,從而可以得到精確的目標(biāo)頻率信號(hào),實(shí)現(xiàn)簡單,適用性廣泛。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,本發(fā)明提供一種頻率校正方法,其包括:獲得參考頻率信號(hào)的實(shí)際頻率以及該實(shí)際頻率與其期望頻率的頻率偏移;根據(jù)目標(biāo)頻率信號(hào)的頻率及所述參考頻率信號(hào)的期望頻率確定分頻比;根據(jù)所述頻率偏移確定所述分頻比的校正值;利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比;利用所述校正分頻比對(duì)所述參考頻率信號(hào)進(jìn)行分頻得到所述目標(biāo)頻率信號(hào)。
進(jìn)一步的,所述分頻比為所述參考頻率信號(hào)的期望頻率和所述目標(biāo)頻率信號(hào)的頻率的比值,所述校正值包括整數(shù)校正值和分?jǐn)?shù)校正值,所述利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比包括:將所述整數(shù)校正值與所述分頻比相加或相減作為校正分頻比的整數(shù),將所述分?jǐn)?shù)校正值作為所述校正分頻比的余數(shù)。
進(jìn)一步的,所述利用所述校正分頻比對(duì)所述參考頻率信號(hào)進(jìn)行分頻得到所述目標(biāo)頻率信號(hào)包括:對(duì)所述參考頻率信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù)得到一計(jì)數(shù)值;在所述計(jì)數(shù)值從初始值開始所述目標(biāo)頻率信號(hào)的一個(gè)周期,在所述計(jì)數(shù)值達(dá)到所述校正分頻比的整數(shù)時(shí)結(jié)束所述目標(biāo)頻率信號(hào)的這個(gè)周期,并重新從初始值開始對(duì)所述參考頻率信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù),以生成下一個(gè)周期的目標(biāo)頻率信號(hào),其中每產(chǎn)生一個(gè)周期的目標(biāo)頻率信號(hào),將所述分?jǐn)?shù)校正值累加至所述校正分頻比的余數(shù)上一次,在所述累加的余數(shù)滿一個(gè)整數(shù)后,給所述校正分頻比的整數(shù)進(jìn)位得到所述校正分頻比的進(jìn)位后整數(shù),之后在所述校正分頻比的新的余數(shù)基礎(chǔ)上繼續(xù)進(jìn)行累加所述分?jǐn)?shù)校正值,基于所述校正分頻比的進(jìn)位后整數(shù)產(chǎn)生一個(gè)周期的目標(biāo)頻率信號(hào)后,將所進(jìn)位后整數(shù)恢復(fù)至原整數(shù)。
更進(jìn)一步的,根據(jù)所述頻率偏移的1/ft所占的期望頻率的周期的個(gè)數(shù)及余分?jǐn)?shù)確定所述整數(shù)校正值和分?jǐn)?shù)校正值,其中ft為目標(biāo)頻率信號(hào)的頻率。
進(jìn)一步的,所述分頻比為所述參考頻率信號(hào)的期望頻率和所述目標(biāo)頻率信號(hào)的頻率的比值的一半,所述校正值包括整數(shù)校正值和分?jǐn)?shù)校正值,所述利用所述校正值校正所述分頻比得到校正分頻比包括:將所述整數(shù)校正值與所述分頻比相加或相減作為校正分頻比的整數(shù),將所述分?jǐn)?shù)校正值作為所述校正分頻比的余數(shù)。
進(jìn)一步的,所述利用所述校正分頻比對(duì)所述參考頻率信號(hào)進(jìn)行分頻得到所述目標(biāo)頻率信號(hào)包括:對(duì)所述參考頻率信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù)得到一計(jì)數(shù)值;在所述計(jì)數(shù)值達(dá)到所述校正分頻比時(shí)翻轉(zhuǎn)所述目標(biāo)頻率信號(hào),并重新從初始值開始對(duì)所述參考頻率信號(hào)的周期進(jìn)行計(jì)數(shù),其中每產(chǎn)生半個(gè)周期的目標(biāo)頻率信號(hào),將所述分?jǐn)?shù)校正值累加至所述校正分頻比的余數(shù)上一次,在所述累加的余數(shù)滿一個(gè)整數(shù)后,給所述校正分頻比的整數(shù)進(jìn)位得到所述校正分頻比的進(jìn)位后整數(shù),之后在所述校正分頻比的新的余數(shù)基礎(chǔ)上繼續(xù)進(jìn)行累加所述分?jǐn)?shù)校正值,基于所述校正分頻比的進(jìn)位后整數(shù)產(chǎn)生半個(gè)周期的目標(biāo)頻率信號(hào)后,將所進(jìn)位后整數(shù)恢復(fù)至原整數(shù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫輻導(dǎo)微電子有限公司,未經(jīng)無錫輻導(dǎo)微電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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