[發明專利]用于生產測試的治具

無效

• 申請號: 201110053579.4
• 申請日: 2011-03-07
• 公開（公告）號: CN102175946A
• 公開（公告）日: 2011-09-07
• 發明（設計）人: 李軍
• 申請（專利權）人: 世盟科信（北京）國際科技發展有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

技術領域

本發明涉及生產測試技術領域，具體涉及一種用于生產測試的治具。

背景技術

目前市面上所使用的治具，是將主板固定在托板上層，主板的帶有測試點的一面面向下方，托板正下方是測試盒，測試盒頂部對應主板測試點的位置固定有測試引針，引針一端觸接主板上面的測試點，另一端透過測試盒頂部的過孔連接導線，導線另一端接測試盒邊側的測試接口，這樣主板測試點的信號就被引導至測試盒邊側的測試接口上，測試人員可以通過將測試接口接到儀器上來進行各個測試點的指標測試。

然后上述測試方法，存在以下問題：首先，在主板的每個測試點上都需要焊接導線，實施起來比較繁瑣，影響測試效率；其次，應用測試盒的成本相對較高，無形中增加了產品的成本并嚴重減緩了生產的整個周期。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明要解決的技術問題是如何通過改良現有用于生產測試的治具來提高測試工程的效率，如何降低用于生產測試的治具的成本。

(二)技術方案

為了解決上述技術問題，本發明提供一種用于生產測試的治具，其包括：

托板，其設置于所述治具的一端下部的位置，用于支撐待測試的主板；

過孔板，其設置于所述托板的正下方，用于固定測試引針；

PCB板，其設置于所述過孔板的下方，所述PCB板上設置有若干觸點；

若干枚測試引針，其各自固定于所述過孔板內，每一枚所述測試引針設置為在測試過程中一端觸接所述待測試的主板上的測試點，另一端觸接所述PCB板上的觸點。

所述PCB板一端設置有端接外部測試設備的接口；

所述若干個觸點均沿所述PCB板上的絲印走線，與所述接口相連接；

所述治具還包括：壓板，其設置于所述托板的正上方，用于將所述待測試的主板固定在所述托板上。

(三)有益效果

本發明技術方案所提供的治具，通過采用PCB(Printed?CircuitBoard，印刷電路板)板代理測試盒，可以大大降低產品的成本，并進一步利用PCB板的絲印走線代替傳統工藝中的導線走線結構，因此大大簡化了治具的結構，提高了測試效率，測試過程非常簡便，提高了生產的整個周期。

附圖說明

圖1為本發明具體實施方式所涉及的治具的側視圖；

圖2為本發明具體實施方式所涉及的治具的俯視圖；

圖3為本發明具體實施方式所涉及的治具的立體圖；

其中，圖中的標記為：

101：壓板；102：待測試的主板；103：托板；104：測試引針；

105：過孔板；106：PCB板。

具體實施方式

為使本發明的目的、內容、和優點更加清楚，下面結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式作進一步詳細描述。

如圖1-3所示，本發明技術方案所提供的用于生產測試的治具，包括：

托板103，其設置于所述治具的一端下部的位置，用于支撐待測試的主板102；

過孔板105，其設置于所述托板103的正下方，用于固定測試引針104；

PCB板106，其設置于所述過孔板105的下方，所述PCB板106上設置有若干觸點；

若干枚測試引針104，其各自固定于所述過孔板105內，每一枚所述測試引針104設置為在測試過程中一端觸接所述待測試的主板102上的測試點，另一端觸接所述PCB板106上的觸點。

所述PCB板106一端設置有端接外部測試設備的接口；

所述若干個觸點均沿所述PCB板106上的絲印走線，與所述接口相連接；

所述治具還包括：壓板101，其設置于所述托板103的正上方，用于將所述待測試的主板102固定在所述托板103上。

基于上述技術方案的治具，在測試過程中，主板102通過壓板101被固定在托板103的上層，其帶有測試點的一面面向下方；在其正下方，測試引針104由過孔板105固定，測試引針104一端觸接主板102上的測試點，另一端透過過孔板105觸接PCB板106上的觸點，PCB板106上的每個觸點均為測試數據源頭，分別沿PCB板106的絲印走線，最后匯聚到設置于PCB板106一端的外接接口處，將該外接接口與外部測試設備相連接，測試人員即可根據外部測試設備來對主板上的測試點進行測試。

綜上所述，本發明技術方案通過采用PCB板代理測試盒，可以大大降低產品的成本，并進一步利用PCB板的絲印走線代替傳統工藝中的導線走線結構，因此大大簡化了治具的結構，提高了測試效率，測試過程非常簡便，提高了生產的整個周期。

以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明技術原理的前提下，還可以做出若干改進和變形，這些改進和變形也應視為本發明的保護范圍。