[發明專利]一種用于激光測振儀的光頻式計量測試裝置

有效

• 申請號: 201110053568.6
• 申請日: 2011-03-07
• 公開（公告）號: CN102155986A
• 公開（公告）日: 2011-08-17
• 發明（設計）人: 朱振宇;李新良;梁志國;李華豐;任冬梅
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于激光測振儀的光頻式計量測試裝置，其外圍設備為待測的激光測振儀，其特征在于：

由光頻調制器、信號發生裝置、光學組件、精密姿態調整機構、控制系統及數據采集系統組成；

光學組件負責光頻調制的必要的分光、準直和匯聚，包括測量光束適配器、分光鏡、平面反射鏡1、平面反射鏡2、平面反射鏡3和角度調節器；

激光測振儀發出的激光光線經過測量光束適配器和分光鏡后進入光頻調制器，光頻調制器實現激光測振儀的測量光的頻率調制，光頻調制器的出射光經平面反射鏡1、平面反射鏡2和平面反射鏡3后回到分光鏡，之后沿原路經測量光束適配器返回激光測振儀；平面反射鏡2上安裝有角度調節器，用于調整光線的角度；

光頻調制器固定安裝在精密姿態調整機構上，由精密姿態調整機構中的旋轉角度伺服系統來調整光頻調制器的姿態并進一步對光頻調制器輸入和輸出光路進行適應性調整；

激光測振儀測量返回光線的頻率并將其轉化為電壓信號，將電壓信號送入數據采集系統，控制系統控制數據采集系統工作并讀取數據采集系統采集到的電壓信號；控制系統控制信號發生裝置產生滿足調整光頻頻率的調制信號，由信號發生裝置將調制信號送入光頻調制器用以完成對輸入光頻信號的頻率調制；控制系統控制精密姿態調整機構來實現對光頻調制器的姿態調整；

上述信號發生裝置由信號發生器及功率放大器組成，信號發生器作為光頻信號源負責發出調制光頻信號，功率放大器將調制光頻信號進行放大并送入光頻調制器；

上述控制系統根據測量需要來控制信號發生裝置發出的光頻調制信號和精密姿態調整機構的運動，并將獲取的數據采集系統的電壓信號轉換為速度信號，并和控制系統設定的標準模擬速度信號進行比較處理。

2.根據權利要求1所述的一種用于激光測振儀的光頻式計量測試裝置，其特征在于：所述光頻調制器為聲光調制器，利用聲光介質和壓電換能器來實現激光測振儀的測量光的頻率調制。

3.根據權利要求1所述的一種用于激光測振儀的光頻式計量測試裝置，其特征在于：所述光頻調制器為電光調制器，利用電光調制器來實現激光測振儀的測量光的頻率調制。

4.根據權利要求1、權利要求2或者權利要求3所述的一種用于激光測振儀的光頻式計量測試裝置，其特征在于：包含一個以上的光頻調制器及與其配套應用的信號發生裝置、光學組件、精密姿態調整機構，每一個光頻調制器的工作方式均相同。