[發明專利]一種RFID閱讀器天線性能的測試方法及系統

無效

• 申請號: 201110050573.1
• 申請日: 2011-03-03
• 公開（公告）號: CN102213750A
• 公開（公告）日: 2011-10-12
• 發明（設計）人: 葉永嘉
• 申請（專利權）人: 葉永嘉
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種RFID閱讀器天線性能的測試方法，其特征在于：具體包括如下步驟：

步驟1，設計一個方格測試板，每個方格的尺寸等同于測試探頭的尺寸，在測試過程中，規定對角線一端的方格記為第一個測試點，另一端的方格記為最后一個測試點；

步驟2，將被測閱讀器正面向上放到測試支架中，在閱讀器上方放置步驟1設計的方格板，方格面向上水平放置；測試探頭和場強測試儀連接，進入測試準備狀態；

步驟3，在步驟2的基礎上，將測試探頭放置于方格板的第一個方格內，通過場強測試儀讀出該點的磁場強度數值并做記錄；

步驟4，在步驟3的基礎上，將測試探頭放置于與第一方格鄰近的橫向第二方格，讀出該點的磁場強度數值并做記錄，并依次測試完第一橫排的所有方格；

步驟5，在步驟4的基礎上，將測試探頭放置于第一方格鄰近的縱向第二方格，讀出該點的磁場強度數值并做記錄，并依次測試完第二橫排的所有方格；

步驟6，依步驟5的方法類推，依次測試完所有橫排的方格，讀出磁場強度數值并做記錄；直到測試完最后一個測試點；

根據所測得的數據對閱讀器上方一定距離的工作平面內磁場強度的分布進行分析，從而得知RFID閱讀器天線在自由空間中的性能。

2.根據權利要求1所述的一種RFID閱讀器天線性能的測試方法，其特征在于：所述步驟3到步驟6中用測試探頭對磁場強度的測試也適用于對電場強度的測試。

3.根據權利要求1所述的一種RFID閱讀器天線性能的測試方法，其特征在于：將電子標簽或集成有電子標簽的移動終端疊放在測試探頭上，重復步驟3到步驟6，測試得到閱讀器在有電子標簽耦合情況下的電磁場分布。

4.一種RFID閱讀器天線性能的測試系統，其特征在于：包括三凹槽測試架、方格蓋板、測試探頭和場強測試儀；

所述的三凹槽測試架采用低散射材料制作，保持閱讀器天線面水平；測試架為中心有三層凹槽的立體結構，從最底層向上分別為第一凹槽、第二凹槽和第三凹槽，第二凹槽邊沿位于第一凹槽邊沿和第三凹槽邊沿的中間；第三凹槽的兩側槽壁中間分別鑿有一個小槽；第二凹槽用于放置RFID閱讀器，閱讀器的背面結構置于第一凹槽內，第一凹槽底部設有電源線出口；

所述的方格蓋板采用低散射材料制作，其長寬與第三凹槽的長寬一樣；其向上面畫有n×m個方格(n、m為任意整數)；每個方格的尺寸和測試探頭尺寸相同；

所述的測試探頭為普通的RFID天線探頭，符合ISO14443標準，用于耦合閱讀器天線發射信號；

所述的場強測試儀為普通的電磁場強測試儀；

上述各組成部分的連接關系為：方格蓋板的方格面向上放置在三凹槽測試架的第三凹槽中形成密閉結構，測試探頭與場強測試儀相連，探頭在蓋板上移動進行場強測試。

5.根據權利要求4所述的一種RFID閱讀器天線性能的測試系統，其特征在于：所述的方格蓋板厚度根據實際測試要求設定。