[發明專利]黃銅礦膜的制造方法無效
| 申請號: | 201110044097.2 | 申請日: | 2011-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN102163632A | 公開(公告)日: | 2011-08-24 |
| 發明(設計)人: | 柳沼希世史;峯元高志;堤圭司 | 申請(專利權)人: | 住友金屬礦山株式會社;學校法人立命館 |
| 主分類號: | H01L31/04 | 分類號: | H01L31/04;H01L21/324 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 菅興成;吳小瑛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 黃銅礦 制造 方法 | ||
1.一種黃銅礦膜的制造方法,通過加熱處理使Ib族金屬和IIIb族金屬與VIb族元素進行化合,從而在形成于基板上的下部電極上,制造由Ib-IIIb-VIb族化合物構成的黃銅礦膜的方法,其特征在于,
在將前述Ib族金屬、IIIb族金屬以及VIb族元素配置在蓋體和形成于前述基板上的下部電極之間的狀態下,在非活性氣體環境中進行加熱處理。
2.如權利要求1所述的黃銅礦膜制造方法,其中,預先在前述下部電極上形成含有前述Ib族金屬以及IIIb族金屬的前驅膜,在該前驅膜上沉積前述VIb族元素,在沉積有該VIb族元素的前述前驅膜上設置前述蓋體,然后進行前述加熱處理。
3.如權利要求1所述的黃銅礦膜制造方法,其中,在前述下部電極上,形成含有前述Ib族金屬和IIIb族金屬并且還具有前述VIb族元素的前驅膜,在該前驅膜上設置前述蓋體,然后進行前述加熱處理。
4.如權利要求1所述的黃銅礦膜制造方法,其中,預先在前述下部電極上形成含有前述Ib族金屬以及IIIb族金屬的前驅膜,在前述蓋體的一側表面上沉積前述VIb族元素,并以該沉積的VIb族元素與前述前驅膜相對置的方式,在該前驅膜上設置該蓋體,然后進行前述加熱處理。
5.如權利要求1~4中任一項所述的黃銅礦膜制造方法,其中,作為含有前述VIb族元素或者沉積前述VIb族元素的方法,選自濺射法、蒸鍍法、鍍覆法、電沉積法、涂布法以及噴霧法中。
6.如權利要求1~4中任一項所述的黃銅礦膜制造方法,其中,將前述VIb族元素的量設定為使VIb族元素的摩爾數相對于前述Ib族金屬的摩爾數以及IIIb族金屬的摩爾數之和達到1.05~1.15的量。
7.如權利要求1~4中任一項所述的黃銅礦膜制造方法,其中,作為前述Ib族金屬使用選自Cu和Ag中的至少一種,作為前述IIIb族金屬使用選自In、Ga和Al中的至少一種,以及作為前述VIb族元素使用選自Se、S和Te中的至少一種。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





