[發明專利]用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法

有效

• 申請號: 201110039095.4
• 申請日: 2011-02-16
• 公開（公告）號: CN102214033A
• 公開（公告）日: 2011-10-12
• 發明（設計）人: 吳鴻偉;張志宇;陳燦輝
• 申請（專利權）人: 矽統科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

技術領域

本發明是有關于多點觸控技術，且特別是有關于用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法。

背景技術

在此處鍵入技術領域描述段落。在多點觸摸感測裝置中，像是觸控面板，一般來說有兩種類型的感測方法用以感測一或多點觸摸。一種方式稱為投射式感測方法，另一種是矩陣式感測方法。在投射式感測方法中，裝置每次是感測感測陣列的一整條線。

在矩陣式感測方法中，裝置每次感測觸摸感測陣列的一個節點(亦即一列與一行的交點)。如可知者，實行矩陣式感測方法比投射式感測方法明顯花費較多時間。以20×30的感測陣列而言(亦即具有20行與30列的感測陣列)，總共有20+30=50條線，因此當利用投射式感測方法時，僅需要50次檢測。相對而言，有20×30=600個節點，故當利用矩陣式感測方法時，需要600次檢測。

現今在速度與成本的考量下，投射式感測方法是廣泛使用于各種觸摸裝置。然而，投射式感測方法的缺點在于所謂的“鬼點問題”，以下將加以說明。

圖1為概略顯示一般的多點觸摸感測裝置1。該多點觸摸感測裝置1具有一感測陣列10。感測陣列10包括一群縱向傳導軌(亦即線a至線f)以及一群橫向傳導軌(亦即線1至線7)排列成X-Y座標系的列與行。或者，所述若干傳導軌可以排列成極座標系。感測元件(未圖示)是設置于所述若干傳導軌的各個交點。舉例而言，感測元件通常以電阻器或電容器實施。觸摸感測器電路22、24施加驅動信號至所述若干軌以感測是否有觸摸。各觸摸感測器電路22、24包括多個觸摸感測器(未在圖中顯示)。各觸摸感測器負責驅動與感測一或若干條軌。觸摸感測器電路22和24由控制器30控制。

在本例中，假設兩個觸摸同時發生在B點與C點，其坐標分別為(e，2)、(c，6)。使用投射式感測方法。在X軸方向，發現在線c與線e處有兩個峰值。在Y軸方向，發現在線2與線6處有兩個峰值。根據排列組合的原理，四個峰值可以組成四組座標：(c，2)、(c，6)、(e，2)、及(e，6)。換言之，除了實際觸摸點B和C之外，裝置1會誤判在A點(c，2)與D點(e，6)也發生觸摸。未被觸摸卻被誤判被觸摸的A點與D點稱為“鬼點”。

如果利用矩陣感測方法檢測感測陣列10的每個節點，可確定實際觸摸點B和C，而可排除鬼點問題。然而，如上所述，如此花費太多時間。

發明內容

本發明的目的在于提供一種用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法，當在裝置發生若干觸摸時，能有效果且有效率地排除鬼點。

根據本發明，多點觸摸感測裝置包括有感測陣列，感測陣列具有第一軸的若干條線與第二軸的若干條線相互交叉，鬼點去除方法包括施加第一驅動信號至第一軸的各所述若干條線；檢測第一軸的被驅動的線以確定該條線是否被觸摸；施加第二驅動信號至第二軸的各所述若干條線；檢測第二軸的被驅動的線以確定該條線是否被觸摸；依據第一軸的被觸摸的線以及第二軸的被觸摸的線確定若干候選觸摸點；施加第三驅動信號至各所述若干候選觸摸點的第一軸的線；以及檢測所述若干候選觸摸點的第二軸的線以確定所述若干候選觸摸點是否被觸摸。

為讓本發明的上述內容能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。

附圖說明

圖1為概略顯示一般的多點觸摸感測裝置。

圖2為概略顯示一觸摸感測器實行投射式感測方法。

圖3為概略顯示另一觸摸感測器實行投射式感測方法。

圖4為概略顯示根據本發明利用矩陣式感測方法測試觸摸感測陣列的節點。

圖5A至5D為解釋通過根據本發明一實施例的方法測試候選觸摸點。

圖6A與6B為解釋通過根據本發明另一實施例的方法測試候選觸摸點；以及。

圖7為顯示本發明的鬼點去除方法的流程圖。

具體實施方式

如所述，對于多點觸控裝置1而言，投射式感測方法可迅速完成檢測以確定觸摸點。然而，所確定的觸摸點可能包括了鬼點。而利用矩陣式感測方法檢測所有節點以找到實際觸摸點又花費太多時間。本發明提供一種鬼點去除方法可解決上述問題。

在本發明的鬼點去除方法中，首先通過利用投射式感測方法確定候選觸摸點，而后通過利用矩陣式感測方法測試候選觸摸點以驗證實際觸摸點并排除鬼點。