[發明專利]一種利用漏磁場測量鋼板厚度的方法無效
| 申請號: | 201110037666.0 | 申請日: | 2011-02-14 |
| 公開(公告)號: | CN102175131A | 公開(公告)日: | 2011-09-07 |
| 發明(設計)人: | 吳德會;孫寶康;王曉紅;張海榮 | 申請(專利權)人: | 廈門大學 |
| 主分類號: | G01B7/06 | 分類號: | G01B7/06 |
| 代理公司: | 廈門南強之路專利事務所 35200 | 代理人: | 馬應森 |
| 地址: | 361005 *** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 利用 磁場 測量 鋼板 厚度 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種鋼板厚度的測量方法,尤其是涉及一種利用漏磁場測量鋼板厚度的方法。
背景技術
近年來,特殊環境下鋼板或鋼管厚度的檢測得到了越來越多的重視,這些鋼板或鋼管的特點是不便于進行兩側測量。以鋼管的厚度測量為例,由于測量時不能接觸到鋼管的內表面,因此無法用千分尺、游標卡尺等器具測量。針對這類鋼管難于測厚的問題,人們發明了壓電超聲測厚儀。這種檢測儀器具有制造工藝簡單、體積小、重量輕等優點,但是存在明顯的不足,例如需要添加耦合劑,且要對其表面進行清潔、打磨等預處理。由于壓電超聲測厚儀的這些限制,人們發明了電磁超聲換能器,并逐漸得到了廣泛的應用。
中國專利CN101701809A所公開的一種電磁超聲測厚儀及其測量方法主要由微控制器、發射電路、電磁超聲探頭、接收開關、調理電路、回波處理系統、顯示系統和鍵盤組成,利用電磁感應的原理,直接在被檢測物內激發超聲波,具有非接觸、無需耦合劑等優點。但為了激發出電磁超聲,需要發射電路產生大功率超聲波驅動信號,其輸出電壓為500~1000V。
中國專利CN2852049Y公開的鐵材測厚儀提供了一種厚度檢測方法,它是利用漏磁場的原理來測量鐵磁材料的厚度。該裝置主要由傳感器、檢測電路和表頭組成。傳感器是在“U”形鐵芯的兩臂分別嵌設磁鐵和霍爾元件。當鐵芯緊貼在被測材料表面時,磁鐵的磁力線經“U”形鐵芯、被測材料作用于霍爾元件。磁鐵采用強磁磁鐵,使被測材料達到磁飽和,其厚度就決定了可通過的磁力線多少,根據霍爾元件的輸出電壓,來間接測出被測材料的厚度。因為需要將鐵心緊貼于被測物表面來磁化被測材料,所以當被測物上覆蓋有生銹、沙塵、油漬等非導磁物質或表面出現缺陷時,鐵心無法與被測物充分的接觸,將會產生一定的提離值,因此其測量結果將會受到明顯影響。
發明內容
本發明的目的在于為了克服現有技術的不足,提供一種具有驅動電壓低、受被測物上非導磁覆蓋層影響小、結構簡單、測量快捷方便、非接觸式測量等特點的利用漏磁場測量鋼板厚度的方法。
本發明包括以下步驟:
1)取至少2個與待測部件相同材質的試樣作為標準部件;
2)將一對并排放置的激勵繞組線圈垂直置于試樣表面,激勵繞組線圈由信號發生器激勵,并按設定的提離值,將激勵繞組線圈下的試樣磁化至飽和狀態,在激勵繞組線圈的磁化作用下,激勵繞組線圈的磁極與試樣之間的氣隙中將會產生漏磁場;
3)將檢測元件置于2個激勵繞組線圈中間,并按設定的提離值,測量步驟2)所述漏磁場的強度;
4)對檢測元件的輸出信號進行放大和濾波處理,濾除或抑制輸出信號中的噪聲,將處理后的數據送入信息處理系統,分析得到漏磁場強度隨信號發生器激勵信號變化的連續二維曲線;
5)分別計算出步驟4)所得的連續二維曲線的拐點,以及該拐點所對應的信號發生器激勵信號瞬時強度信息MX;
6)用信息處理系統將步驟5)得到的信號發生器的激勵信號瞬時強度數據MX處理成以該數據MX為變量的鋼板厚度H的函數表達式,即確定了鋼板厚度的量化公式為H=aMX2+bMX+c,式中a為二次項系數,b為一次項系數,c為偏移量;
7)實際測量時,按步驟2)將被檢測部件磁化至飽和狀態,按步驟3)獲得被測部件的漏磁場強度,按步驟4)得到連續的二維漏磁場曲線,按步驟5)得到拐點所對應的信號發生器激勵信號瞬時強度信息MX,將該數據代入步驟6)得到的厚度量化公式,即可確定被檢測部件的厚度。
在步驟2)中,所述信號發生器可為任意波形信號發生器。所述信號發生器最好為鋸齒波發生器,所述鋸齒波可以是正斜率,也可以是負斜率;所述提離值可為0.5~5mm。
在步驟3)中,所述檢測元件可為磁敏感元件等。
在步驟4)中,所述噪聲包括輸出信號中的隨機噪聲和背景噪聲;所述信息處理系統可為單片機、DSP或PC機等。
本發明利用漏磁場對激勵磁場的響應特征,根據簡單的算法實現鋼板厚度的量化。由于本發明中的激勵磁場只對磁性材料有作用,因此不受被測物上所覆蓋的各種非導磁物質(生銹、沙塵、油漬等)的影響,無需對被測物的表面進行清理。另外,本發明由于以漏磁場的拐點為變量測量厚度,因此檢測元件提離值的小波動對拐點值的影響較小,能有效地消除檢測元件提離值的誤差(由被測表面不平整或檢測元件自身定位引起的)對測量精度的影響。本發明還具有結構簡單、測量快捷方便、非接觸式測量等特點。
附圖說明
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