[發明專利]專用功率控制器

有效

• 申請號: 201110035136.2
• 申請日: 2011-01-25
• 公開（公告）號: CN102195626A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發明（設計）人: C·M·揚;J·A·比林斯利
• 申請（專利權）人: 英特賽爾美國股份有限公司
• 主分類號: H03K17/687
• 分類號: H03K17/687
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 李玲;張東梅

1.一種用于配置集成電路的操作特性的方法；其中所述集成電路包括多個配置輸入，所述方法包括：

在所述集成電路中存儲多組參數值，其中對于所述多組參數值中的每一組，各個組的每個參數值對應于多個操作參數中的不同操作參數；

確定對應于第一多個配置輸入的第一多個配置值；

從所存儲的多組參數值中選擇一組參數值，其中所述選擇是基于所述第一多個配置值的；以及

根據所選的一組參數值中的一個或多個操作參數值配置所述集成電路以供操作。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據所選的一組參數值中的一個或多個操作參數值配置所述器件以供操作包括根據所選的一組參數值中的每個操作參數值配置所述器件以供操作。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值對應于所述集成電路的特定應用。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值對應于所述集成電路的特定客戶。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值中參數值的數量大于所述多個配置輸入中配置輸入的數量。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述集成電路是專用功率控制器。

7.一種集成電路，包括：

第一多個配置輸入；

在所述集成電路上包括的存儲介質，所述存儲介質存儲多組參數值，其中對于所述多組參數值中的每一組，各個組的每個參數值對應于多個操作參數中的不同操作參數；

耦合至所述第一多個配置輸入的配置檢測電路，所述配置檢測電路被配置成確定對應于所述第一多個配置輸入的第一多個配置值并且從所存儲的多組參數值中選擇一組參數值，其中所述選擇是基于所述第一多個配置值的；以及

參數配置電路，所述參數配置電路根據所選的一組參數值中的一個或多個操作參數值配置所述集成電路以供操作。

8.如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，

所述參數配置電路用于根據所選的一組參數值中的每個操作參數值配置所述集成電路以供操作。

9.如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值對應于所述集成電路的特定應用。

10.如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值對應于所述集成電路的特定客戶。

11.如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，

所述多組參數值中的一組參數值中參數值的數量大于所述多個配置輸入中配置輸入的數量。

12.如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，

所述集成電路是專用功率控制器。

13.一種集成電路，包括：

第一多個配置輸入；

在所述集成電路上包括的存儲介質，所述存儲介質存儲多組參數值，其中對于所述多組參數值中的每一組，各個組的每個參數值對應于多個操作參數中的不同操作參數；

用于確定對應于所述第一多個配置輸入的第一多個配置值的裝置；

用于從所存儲的多組參數值中選擇一組參數值的裝置，其中所述選擇是基于所述第一多個配置值的；以及

用于根據所選的一組參數值中的一個或多個操作參數值配置所述集成電路以供操作的裝置。

14.一種器件，包括：

第一多個配置輸入；

在所述器件上包括的存儲介質，所述存儲介質存儲多組參數值，其中對于所述多組參數值中的每一組，各個組的每個參數值對應于多個操作參數中的不同操作參數；

耦合至所述第一多個配置輸入的配置檢測電路，所述配置檢測電路被配置成確定對應于所述第一多個配置輸入的第一多個配置值并且從所存儲的多組參數值中選擇一組參數值，其中所述選擇是基于所述第一多個配置值的；以及

參數配置電路，所述參數配置電路根據所選的一組參數值中的一個或多個操作參數值配置所述器件以供操作。