[發(fā)明專利]光纖全息干涉測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110032883.0 | 申請日： | 2011-01-31 |
| 公開（公告）號： | CN102183490A | 公開（公告）日： | 2011-09-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 黃素娟;付興虎;王廷云 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海大學(xué) |
| 主分類號： | G01N21/45 | 分類號： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光纖 全息 干涉 測量 裝置 | ||
1.一種光纖全息干涉測量裝置，包括一個可調(diào)諧激光光源（1）、一個單模光纖耦合器（2）、一個壓電陶瓷筒（7）、一個第一偏振控制器（8）、一個第二偏振控制器（9）和一個圖像采集模塊（11），其特征在于所述可調(diào)諧激光光源（1）連接單模光纖耦合器（2）的輸入端，所述單模光纖耦合器（2）的兩個輸出端子（A、B）分別通過第一光纖（3）依次連接壓電陶瓷筒（7）、第一偏振控制器（8）和第二光纖（4）構(gòu)成全息干涉參考臂，通過第三光纖（5）依次連接第二偏振控制器（9）、第四光纖（6）和特種光纖（10）構(gòu)成全息干涉信號臂，所述第二光纖（4）和特種光纖（10）的輸出光波疊加構(gòu)成同軸全息干涉區(qū)域（12）或離軸全息干涉區(qū)域（13），并被圖像采集模塊（11）所接收。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖全息干涉測量裝置，其特征在于所述可調(diào)諧激光光源（1）的波長為1550?nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖全息干涉測量裝置，其特征在于所述第一光纖（3）、第二光纖（4）、第三光纖（5）和第四光纖（6）均為單模光纖。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖全息干涉測量裝置，其特征在于所述特種光纖（10）為雙包層結(jié)構(gòu)光纖，或者為三包層結(jié)構(gòu)光纖。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖全息干涉測量裝置，其特征在于所述同軸全息干涉區(qū)域（12）、離軸全息干涉區(qū)域（13）的干涉條紋相位差和可見度分別由所述壓電陶瓷筒（7）的形變量和第一偏振控制器（8）或第二偏振控制器（9）控制。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的光纖全息干涉測量裝置，其特征在于所述離軸全息干涉區(qū)域（13）的范圍由第二光纖（4）和特種光纖（10）之間的夾角控制。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
