[發(fā)明專利]提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110031787.4 | 申請日: | 2011-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN102073222A | 公開(公告)日: | 2011-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李秋;梅海軍;熊愛華;石建武;林立桂;林善彪 | 申請(專利權(quán))人: | 福建福順微電子有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;G03F9/00 |
| 代理公司: | 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350018 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 提高 投影 步進(jìn) 光刻 對準(zhǔn) 信號 方法 | ||
1.一種提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:按以下步驟進(jìn)行:
1)在埋層掩膜版的左上角和右上角一定區(qū)域內(nèi)設(shè)置各兩行2~6個目標(biāo)十字,其中一行目標(biāo)十字不透光,另一行目標(biāo)十字透光;
2)在硼埋版的左上角和右上角對應(yīng)區(qū)域內(nèi)各設(shè)置一行1~3個對準(zhǔn)十字,所述對準(zhǔn)十字與埋層掩膜版上的目標(biāo)十字坐標(biāo)相同,對準(zhǔn)十字為透光,對準(zhǔn)后進(jìn)行硼埋光刻;
3)在磷橋光刻或隔離光刻前在對應(yīng)區(qū)域內(nèi)各設(shè)置一行1~3個對準(zhǔn)十字,所述磷橋版或隔離版上的對準(zhǔn)十字與埋層掩膜版上的目標(biāo)十字坐標(biāo)相同,在對準(zhǔn)十字旁側(cè)的空白區(qū)域內(nèi)位后道可光設(shè)置目標(biāo)十字,所述目標(biāo)十字設(shè)置兩行,一行為透光,另一行為不透光,目標(biāo)十字的數(shù)量為16~32個;
4)低硼光刻、基區(qū)光刻、高硼光刻、E區(qū)光刻、電容光刻、引線孔光刻、通孔光刻、鈍化光刻時(shí),每道光刻前在各場版對應(yīng)磷橋版或隔離版上的目標(biāo)十字設(shè)置單行對準(zhǔn)十字,所述對準(zhǔn)十字為透光,數(shù)量為1~4個,對準(zhǔn)十字周圍的區(qū)域?yàn)椴煌腹猓?/p>
5)SIN光刻和鋁光刻時(shí),每道光刻前在各場版對應(yīng)磷橋版或隔離版上的目標(biāo)十字設(shè)置單行對準(zhǔn)十字,所述對準(zhǔn)十字為透光,數(shù)量為1~4個,對準(zhǔn)十字周圍的區(qū)域?yàn)橥腹狻?/p>
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:步驟1)中,所述埋層掩膜版上設(shè)置的目標(biāo)十字的大小為2.5~5.5um,間距為30um。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:步驟2)中,所述硼埋版上設(shè)置的對準(zhǔn)十字的大小為2.5~4.5um。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:步驟3)中,所述磷橋版或隔離版上的對準(zhǔn)十字大小為2~3.5um,所述磷橋版或隔離版上的目標(biāo)十字大小為1.0~6.5um。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:步驟4)中,所述低硼、基區(qū)、高硼、E區(qū)、電容、引線孔、通孔、鈍化版上設(shè)置的對準(zhǔn)十字的大小為2.0~2.4um,對準(zhǔn)十字的間距為0.23~0.92um。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:步驟5)中,所述SIN板和鋁版上設(shè)置的對準(zhǔn)十字大小為2.5~4.5um。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:在埋層光刻前預(yù)先要生長氧化層,厚度在6000~10000埃之間,在深磷光刻前和隔離光刻前氧化層的厚度控制在5000~8000埃之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:在磷橋光刻或者隔離光刻時(shí)形成的臺階深度控制在800~3500埃,避免目標(biāo)十字和對準(zhǔn)十字失真。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高投影步進(jìn)光刻機(jī)對準(zhǔn)信號的方法,其特征在于:埋層掩膜版上設(shè)置目標(biāo)大小的區(qū)域?yàn)?~4mm*2~4mm。
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