[發明專利]大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置

無效

• 申請號: 201110031444.8
• 申請日: 2011-01-28
• 公開（公告）號: CN102175431A
• 公開（公告）日: 2011-09-07
• 發明（設計）人: 王治樂;王付剛;趙明;龔仲強
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 岳泉清

1.大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于它包括太陽模擬器(1)、光路組件、水平轉臺(6)和探測器；水平轉臺(6)上安裝有待測光學系統(5)，所述的水平轉臺(6)用于控制待測光學系統(5)在水平面內旋轉；光路組件包括孔徑光闌(2)、折軸反射鏡(3)和大口徑平行光管(4)；太陽模擬器(1)發出的光線經孔徑光闌(2)投射在折軸反射鏡(3)上，經折軸反射鏡(3)反射后投射到大口徑平行光管(4)上，大口徑平行光管(4)的出射光束為大口徑平行光，所述的大口徑平行光投射在待測光學系統(5)的入瞳口徑上；探測器分為前部探測器(8)和后部探測器(7)，所述前部探測器(8)和后部探測器(7)分別安裝在待測光學系統(5)的受光面上和背光面上，探測器用來探測待測光學系統(5)前后輻射照度。

2.根據權利要求1所述的大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于所述太陽模擬器(1)由高壓短弧氙燈(1.1)和橢球反射罩(1.2)組成；高壓短弧氙燈(1.1)放置在橢球反射罩(1.2)的焦點上。

3.根據權利要求2所述的大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于高壓短弧氙燈(1.1)為1000kw功率、色溫約為6000k的高壓短弧氙燈。

4.根據權利要求1、2或3所述的大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于所述的水平轉臺(6)采用步進電機控制旋轉。

5.根據權利要求4所述的大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于前部探測器(8)為可見光照度計，其量程為0.01lx～999900lx。

6.根據權利要求4所述的大動態范圍點源雜光透射系數測量裝置，其特征在于后部探測器(7)為微光照度計，其量程為10^-6lx～0.2lx。